不规则小截面铜棒材电阻率测量方法
【专利摘要】本发明公开了一种不规则小截面铜棒材电阻率测量方法，主要包括如下步骤：通过游标卡尺测得试样的标距长度L，利用电桥测量得出被测试样的标距电阻R；分别用游标卡尺和精密电子天平进行测量，得出试样的长度l和质量m；根据阿基米德定律测量试样的密度ρ试样；将测出的试样的长度l、质量m以及密度ρ试样代入截面积计算公式即可得出试样的截面面积A；将步骤一测出的试样的标距长度L、标距电阻R和计算出的试样截面面积A，代入公式R＝ρ试样L/A，即可计算出试样的电阻率ρ，通过实际应用，该方法测得的不规则小截面铜棒材电阻率数据，与挤压加工后的铜材产品使用导电率仪测得的数据吻合，并且与需货方的检测结果一致，满足了客户的要求。
【专利说明】不规则小截面铜棒材电阻率测量方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种金属材料电阻率测量方法，特别是一种不规则小截面铜棒材电阻 率测量方法。
【背景技术】
[0002] 金属材料电阻率是决定其电导通性能的重要指标，随着电器行业对导电母线 材料电导通性要求的提高，尤其是核电企业更是要求铜材产品的电阻率更高（不大于 1. 724 X KT8 Q . m)，这就对原材料的电阻率测量精度提出了很高的要求。目前，很多企业一 般都采用导电率仪测量金属材料的导电率再换算成电阻率，这种测试方法要求金属表面有 一定的面积与探头接触，而对于截面积较小、沿长度方向外表面又不规则的金属材料测试 时，就不能获得准确的数据。
[0003] 此外，当前多数导电母线采用的是将小截面铜棒材连续挤压成形后，再制成导电 母线，为了保证母线产品的性能，就需要对连续挤压前的铜棒材进行电阻率测量。由于连续 挤压前的铜棒材是采用上引法制成，多数直径< 25mm，不但截面积较小，而且在步进上引成 形过程中，节距的过渡现象造成铜棒材外表面不光滑，对应的截面存在微观差异，所以，使 用导电率仪不能准确测量出电阻率。因此，解决不规则小截面铜棒材的电阻率测量问题是 非常必要的。
【发明内容】
[0004] 本发明针对现有问题，提出了一种方便准确的不规则小截面铜棒材电阻率测量方 法。
[0005] 为了达到上述目的，本发明的技术方案为：一种不规则小截面铜棒材电阻率测量 方法，主要包括如下步骤：
[0006] 步骤一、通过游标卡尺测得试样的标距长度L，利用电桥测量得出被测试样的标距 电阻R ;
[0007] 步骤二、分别用游标卡尺和精密电子天平进行测量，得出试样的长度1和质量m ;
[0008] 步骤三、根据阿基米德定律测量试样的密度P ;
[0009] 步骤四、将步骤二、三测出的试样的长度1、质量m以及密度P 代入截面积计算
【权利要求】
1. 一种不规则小截面铜棒材电阻率测量方法，其特征在于，主要包括如下步骤： 步骤一、通过游标卡尺测得试样的标距长度L，利用电桥测量得出被测试样的标距电阻 R； 步骤二、分别用游标卡尺和精密电子天平进行测量，得出试样的长度1和质量m; 步骤三、根据阿基米德定律测量试样的密度P ; 步骤四、将步骤二、三测出的试样的长度1、质量m以及密度P 代入截面积计算公式
，即可得出试样的截面面积A;将步骤一测出的试样的标距长度L、标距电阻R和 计算出的试样截面面积A，代入公式R=Pa#L/A，即可计算出试样的电阻率P。
2. 根据权利要求1所述的不规则小截面铜棒材电阻率测量方法，其特征在于，步骤三 中试样的密度d的具体测量方法为：取与试样相同的试件，用精密电子天平在空气中测其 质量叫，然后将其没入水中测其质量m2,根据公SGi=n^g=P试件V试件g，GfG2 =(mfmjg =P水V排g，得到
^其中，P水为纯净水的密 度，P*= 1，将测得的数据代入公式（1)即可得到试样密度P试样。
3. 根据权利要求2所述的不规则小截面铜棒材电阻率测量方法，其特征在于，为了减 小测量误差，制作多个试样测定密度，取其算术平均值作为被测试件的密度。
【文档编号】G01R27/02GK104407222SQ201410723800
【公开日】2015年3月11日 申请日期:2014年12月2日 优先权日:2014年12月2日
【发明者】胡瑞, 闻国民, 吴明峰 申请人:河南江河机械有限责任公司