测试探头及测试设备的制作方法
【专利摘要】本发明提供了一种测试探头及测试设备，该测试探头包括底座、弹性伸缩元件以及探针，所述探针通过所述弹性伸缩元件设置在所述底座上。本发明提供的测试探头，只需事先在液晶屏的测试区域涂覆银胶，而不再需要制作焊锡丝、固定焊锡丝等步骤，因此不但能够大大简化测试前的准备工作，还能保证连接的可靠性，从而大大缩短了测试时间，提高测试效率。
【专利说明】测试探头及测试设备
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示领域，尤其涉及一种测试探头及测试设备。
【背景技术】
[0002]在液晶显示器的生产过程中，为保证得到的产品的质量，通常需要对产品的光学参数(如VT、RT等)进行测试，目前，通常采用光学设备(如DMS900)进行测试，在测试前需要进行准备工作以将光学设备的检测信号线连接至液晶屏的测试区域，其连接方式如图3所示，具体地，首先在液晶屏100’的测试区域涂银胶300’，而后再制作焊锡丝400’，并用纸胶带固定焊锡丝400’，最后再通过测试夹500’将光学设备的检测信号线200’与焊锡丝400’连接，上述的测试前的准备工作异常繁琐，而且在准备工作完成之后，也不能确保测试时的电路完全打通，准确无误，反而经常出现断路、短路等现象，继而出现无测试数据或测试数据不准确等现象。
【发明内容】
[0003](一 )要解决的技术问题
[0004]本发明要解决的技术问题是提供一种测试探头及测试设备，能够简化测试前的准备工作并提高测试效率。
[0005]( 二 )技术方案
[0006]为解决上述技术问题，本发明提供了一种测试探头，其特征在于，包括底座、弹性伸缩元件以及探针，所述探针通过所述弹性伸缩元件设置在所述底座上。
[0007]进一步地，所述底座的截面为L形，所述截面为L形的底座包括横向部和纵向部，所述弹性伸缩元件的一端连接至所述横向部，所述弹性伸缩元件的另一端连接至所述探针。
[0008]进一步地,所述探针通过所述弹性伸缩元件的拉力与所述底座相接触。
[0009]进一步地，包括多个所述弹性伸缩元件。
[0010]进一步地，所述底座的截面为矩形，所述探针通过被拉伸的第一弹性伸缩元件连以及被压缩的第二弹性伸缩元件设置在所述底座上。
[0011]进一步地，所述底座的截面为凹型，所述弹性伸缩元件设置于所述底座的凹陷处。
[0012]进一步地，所述探针包括针杆部和针头部，所述针杆部与针头部之间的夹角为90度?160度。
[0013]进一步地，所述探针的针尖处与所述底座的底面位于同一水平面。
[0014]进一步地，还包括用于承载所述探针的探针托架。
[0015]为解决上述技术问题，本发明还提供了一种测试设备，包括上述任一的测试探头。
[0016](三)有益效果
[0017]本发明提供的测试探头，只需事先在液晶屏的测试区域涂覆银胶，而不再需要制作焊锡丝、固定焊锡丝等步骤，因此不但能够大大简化测试前的准备工作，还能保证连接的可靠性，从而大大缩短了测试时间，提高测试效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0018]图1是现有技术中的光学设备连接液晶屏的示意图；
[0019]图2是本发明实施方式提供的第一种测试探头的示意图；
[0020]图3是本发明实施方式提供的测试探头进行测试的示意图；
[0021]图4为本发明实施方式提供的第二种测试探头的示意图；
[0022]图5为本发明实施方式提供的第三种测试探头的示意图；
[0023]图6为本发明实施方式提供的第四种测试探头的示意图；
[0024]图7为本发明实施方式提供的第五种测试探头的示意图；
[0025]图8为本发明实施方式提供的一种探针的示意图。
【具体实施方式】
[0026]下面结合附图和实施例，对本发明的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
[0027]本发明实施方式提供了一种测试探头，该测试探头包括底座、弹性伸缩元件以及探针，所述探针通过所述弹性伸缩元件设置在所述底座上。
[0028]其中，上述底座的截面形状可以为L形，如图2所示，该测试探头包括截面形状为L形的底座1、弹性伸缩元件3以及探针2，其中，该截面为L形的底座I包括横向部Ia和纵向部lb，该弹性伸缩元件3的一端连接至横向部la，弹性伸缩元件3的另一端连接至所述探针2。
[0029]其中，上述的弹性伸缩元件3可以为弹簧或者其他由弹性材料制作的元件，探针2与光学设备的检测信号线200连接，如图3所示，在测试之前，可在液晶屏100的测试区域涂覆银胶300，而后移动测试探头使探针3的针尖移动至涂覆银胶的区域上方，探针的针尖在弹性伸缩元件3的作用下扎入涂覆的银胶中，从而完成光学设备与被测试的液晶屏的连接。
[0030]优选地，如图2所示，在未进行测试的情况下，所述针头部的针尖处2c与所述底座I的底面Ic位于同一水平面，从而有利于在测试时使探针的针尖顺利扎入液晶屏的测试区域中。
[0031]此外，为了提高针尖在测试时扎入测试区域的程度，提高连接的可靠性，在未进行测试的情况下，探针2通过弹性伸缩元件3的拉力与底座I相接触，即弹性伸缩元件在未进行测试时处于被拉伸状态，而在进行测试时，弹性伸缩元件3进一步被拉伸，从而增加探针所受到的拉力，进而提高针尖扎入测试区域的程度。
[0032]优选地，如图4所示，探针2可通过该多个弹性伸缩元件3设置在所述底座上I，通过设置多个弹性伸缩元件，能够大大提高探针测试时所受到的拉力，从而进一步地提高探针扎入测试区域的程度。
[0033]本发明实施方式提供的测试探头，只需事先在液晶屏的测试区域涂覆银胶，而不再需要制作焊锡丝、固定焊锡丝等步骤，因此不但能够大大简化测试前的准备工作，还能保证连接的可靠性，从而大大缩短了测试时间，提高测试效率。
[0034]此外，本发明实施方式中的底座的截面形状不但可以为如图2所示的L形，还可以为其他形状，参见图5，图5是本发明实施方式提供的另一种测试探头的示意图，该测试探头包括截面形状为矩形的底座1、第一弹性伸缩元件31、第二弹性伸缩元件32以及探针2，其中，探针2通过该被拉伸的第一弹性伸缩元件31以及该被压缩的第二弹性伸缩元件32设置在所述底座上，具体地，在未进行测试时，第一弹性伸缩元件31处于被拉伸状态，第二弹性伸缩元件32处于压缩状态，在进行测试时，探针的针尖被抬高，使得第一弹性伸缩元件31进一步被拉伸，进而使得探针在其拉力的作用下能够扎入测试区域中。
[0035]参见图6，图6是本发明实施方式提供的又一种测试探头的示意图，该测试探头包括截面形状为凹形的底座1、弹性伸缩元件3以及探针2，其中，弹性伸缩元件3设置在该凹形底座I的凹陷处，当未进行测试时，弹性伸缩元件3处于被拉伸状态，探针2在弹性伸缩元件3的拉力以及底座I的支撑力下保持平衡，当进行测试时，探针的针尖被抬高，从而使得弹性伸缩元件进一步被拉伸，进而使得探针在其拉力的作用下能够扎入测试区域中。
[0036]优选地，为了提高探针在测试时的稳固性，上述的测试探头还包括用于承载所述探针的探针托架，如图7所示，探针2设置在探针托架4上，例如，可使弹性伸缩元件3的一端连接至底座1，弹性伸缩元件3的另一端通过探针托架4连接探针2，通过该探针托架，不但能够提高在测试时的探针的稳固性，还能够便于更换探针。
[0037]其中，对于上述所有实施方式中的探针，如图8所示，探针2包括针杆部2a和针头部2b，为了便于针尖扎入测试区域中，针杆部2a与针头部2b之间的夹角Θ可以为90度?160度，例如可以为100度、130度、150度等，其角度可以根据具体情况进行设置，例如，可设置适当的角度Θ使探针的针尖处与底座的底面位于同一水平面。
[0038]此外，本发明实施方式还提供了一种测试设备，该测试设备包括上述的测试探头。
[0039]以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关【技术领域】的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
【权利要求】
1.一种测试探头，其特征在于，包括底座、弹性伸缩元件以及探针，所述探针通过所述弹性伸缩元件设置在所述底座上。
2.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述底座的截面为L形，所述截面为L形的底座包括横向部和纵向部，所述弹性伸缩元件的一端连接至所述横向部，所述弹性伸缩元件的另一端连接至所述探针。
3.根据权利要求2所述的测试探头，其特征在于，所述探针通过所述弹性伸缩元件的拉力与所述底座相接触。
4.根据权利要求3所述的测试探头，其特征在于，包括多个所述弹性伸缩元件。
5.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述底座的截面为矩形，所述探针通过被拉伸的第一弹性伸缩元件连以及被压缩的第二弹性伸缩元件设置在所述底座上。
6.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述底座的截面为凹型，所述弹性伸缩元件设置于所述底座的凹陷处。
7.根据权利要求1-6任一所述的测试探头，其特征在于，所述探针包括针杆部和针头部，所述针杆部与针头部之间的夹角为90度?160度。
8.根据权利要求1-6任一所述的测试探头，其特征在于，所述探针的针尖处与所述底座的底面位于同一水平面。
9.根据权利要求1-6任一所述的测试探头，其特征在于，还包括用于承载所述探针的探针托架。
10.一种测试设备，其特征在于，包括如权利要求1-9任一所述的测试探头。
【文档编号】G01M11/00GK104460061SQ201410748723
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2014年12月9日 优先权日:2014年12月9日
【发明者】王雪鹏, 殷兆伟 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方光电科技有限公司