测量销的尺寸和测量销的位置度公差的获取方法
【专利摘要】本发明提供了一种测量销的尺寸和测量销的位置度公差的获取方法，测量销用于确定待测孔的位置度是否符合要求，测量销的尺寸包括测量销的名义尺寸和测量销的尺寸偏差，获取方法包括：获取待测孔的实效尺寸以及测量销的总公差；获取待测孔的实效尺寸以及测量销的直径公差；通过待测孔的实效尺寸以及测量销的总公差确定测量销的名义尺寸；通过测量销的名义尺寸及测量销的尺寸偏差确定测量销的尺寸；通过测量销的总公差，及测量销的直径公差确定测量销的位置度公差。本发明的技术方案解决了现有技术中设计人员靠经验来对测量销的尺寸和测量销的位置度公差进行取值，经验取值具有不确定性的问题。
【专利说明】测量销的尺寸和测量销的位置度公差的获取方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及机械零件测量领域，具体而言，涉及一种测量销的尺寸和测量销的位 置度公差的获取方法。
【背景技术】
[0002] 位置度综合量规经常用于零件检验表面有最大实体要求时的尺寸的精度检测，例 如利用测量销来检测被测孔的精度。测量销尺寸的取值直接关系到是否能准确的检测被测 孔的精度，因此测量销的尺寸的取值在检测零件实际轮廓时上则显的尤其重要。目前设计 人员取值都是靠经验来对测量销的量规尺寸进行取值，具有不确定性。
【发明内容】
[0003] 本发明的主要目的在于提供一种测量销的尺寸和测量销的位置度公差的获取方 法，以解决现有技术中设计人员靠经验来对测量销的尺寸和测量销的位置度公差进行取 值，经验取值具有不确定性的问题。
[0004] 为了实现上述目的，本发明提供了一种测量销的尺寸和测量销的位置度公差的获 取方法，测量销用于确定待测孔的位置度是否符合要求，测量销的尺寸包括测量销的名义 尺寸和测量销的尺寸偏差，获取方法包括：获取待测孔的实效尺寸以及测量销的总公差； 获取待测孔的实效尺寸以及测量销的直径公差；通过待测孔的实效尺寸以及测量销的总公 差确定测量销的名义尺寸；通过测量销的名义尺寸及测量销的尺寸偏差确定测量销的尺 寸；通过测量销的总公差，及测量销的直径公差确定测量销的位置度公差。
[0005] 进一步地，获取测量销的总公差包括：通过待测孔的位置度确定测量销的总公差。
[0006] 进一步地，通过待测孔的位置度确定测量销的总公差包括：待测孔的位置度a满 足Omm<a<0· 05mm时，测量销的总公差取待测孔的位置度数值的60% ;待测孔的位置度 a满足0· 05mm<a<0·Imm时，测量销的总公差取待测孔的位置度数值的50% ;待测孔的 位置度a满足0·Olmm<a<0· 15mm时，测量销的总公差取待测孔的位置度数值的40% ; 待测孔的位置度a满足0. 15mm<a< 0. 25_时，测量销的总公差取待测孔的位置度数值 的30% ;待测孔的位置度0· 25mm<a<0· 5mm时，测量销的总公差取待测孔的位置度数值 的20% ;待测孔的位置度a满足a> 0. 5mm时，测量销的总公差取待测孔的位置度数值的 20%〇
[0007] 进一步地，通过待测孔的实效尺寸及测量销的总公差确定测量销的名义尺寸的步 骤中，测量销的名义尺寸通过以下公式得到：A= (B+F)/2 ;其中，A为测量销的名义尺寸，B 为待测孔的实效尺寸，F为测量销的实效尺寸，其中，测量销的实效尺寸通过以下公式得到： F=B+E;其中，F为测量销的实效尺寸，B为待测孔的实效尺寸，E为测量销的总公差。
[0008] 进一步地，待测孔的实效尺寸通过以下公式得到：B=G+H-I;B为待测孔的实效尺 寸，G为待测孔的名义尺寸，H为待测孔的下偏差，I为待测孔的位置度。
[0009] 进一步地，测量销的尺寸偏差包括测量销的尺寸上偏差和测量销的尺寸下偏差， 测量销的尺寸上偏差和测量销的尺寸下偏差之差等于测量销的直径公差。
[0010] 进一步地，获取测量销的直径公差包括：通过待测孔的位置度确定测量销的直径 公差。
[0011] 进一步地，通过待测孔的位置度确定测量销的直径公差包括：待测孔的位置度a 满足Omm<a彡0· 05mm时，测量销直径公差取0· 005mm;待测孔的位置度a满足0· 05mm<a彡0·Imm时，测量销直径公差取0·Olmm;待测孔的位置度a满足0·Olmm<a彡0· 15mm 时，测量销直径公差取〇·Olmm;待测孔的位置度a满足0· 15mm<a<0· 25mm时，测量销 直径公差取〇·Olmm;待测孔的位置度a满足0· 25mm<a彡0· 5mm时，测量销直径公差取 0·Olmm;待测孔的位置度a满足a>0· 5mm时，测量销直径公差取0· 02mm。
[0012] 进一步地，通过测量销的总公差，及测量销的直径公差确定测量销的位置度公差 的步骤中，测量销的位置度公差通过以下公式获得：D=(E-C)/2;其中，D为测量销的位置 度公差，E为测量销的总公差，C为测量销的直径公差。
[0013] 进一步地，通过待测孔的实效尺寸及测量销的总公差确定测量销的名义尺寸的步 骤中，所述测量销的名义尺寸通过以下公式得到：A=B+C/2+D;其中，A为测量销的名义尺 寸，B为待测孔的实效尺寸，C为测量销的直径公差，D为测量销的位置度公差；其中，测量销 的位置度公差通过以下公式获得：D=(E-C)/2;其中，D为测量销的位置度公差，E为测量 销的总公差，C为测量销的直径公差。
[0014] 应用本发明的技术方案，获取待测孔的实效尺寸，获取测量销的直径公差，获取测 量销的总公差，通过待测孔的实效尺寸、测量销的直径公差以及获取测量销的总公差得到 测量销尺寸和测量销的位置度公差。技术人员只需通过上述数值即可得到测量销的尺寸和 测量销的位置度公差，不必再靠经验取值。本发明的技术方案可以有效地解决设计人员靠 经验来对测量销的尺寸和测量销的位置度公差进行取值，经验取值具有不确定性的问题。
【专利附图】
【附图说明】
[0015] 构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示 意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
[0016] 图1示出了根据本发明的测量销尺寸的计算方法的实施例中被测零件的示意图； 以及
[0017]图2示出了实施例中被测零件的被测孔的实效尺寸、被测孔的位置公差、被测孔 的最大实体尺寸以及测量销尺寸数值的示意关系。
【具体实施方式】
[0018] 需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相 互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。
[0019] 本申请提供了一种测量销的尺寸和测量销的位置度公差的获取方法，测量销用于 测量待测孔的尺寸及位置度是否合格。获取孔的实效尺寸，获取测量销的直径公差，获取测 量销的总公差，通过孔的实效尺寸、测量销的直径公差以及获取测量销的总公差得到测量 销尺寸和测量销的位置度公差。
[0020] 其中，测量销的尺寸包括测量销的名义尺寸和测量销的尺寸偏差。
[0021] 本发明有两种方法得到测量销的名义尺寸，第一种得到测量销名义尺寸的方法通 过如下公式得到：
[0022]公式I:A=B+C/2+D;
[0023] 其中，A为测量销的名义尺寸，B为待测孔的实效尺寸，C为测量销的直径公差，D 为测量销的位置度公差；
[0024] 其中，测量销的位置度公差通过以下公式获得：
[0025]公式2:D=(E-0/2 ;
[0026] 其中，D为测量销的位置度公差，E为测量销的总公差，C为测量销的直径公差。
[0027] 第二种得到测量销名义尺寸的方法通过如下公式得到：
[0028]公式 3:A=(B+F)/2 ;
[0029] 其中，A为测量销的名义尺寸，F为测量销的实效尺寸，
[0030] 其中，测量销的实效尺寸通过以下公式得到：
[0031]公式4:F=B+E;
[0032] 其中，B为待测孔的实效尺寸，E为测量销的总公差。
[0033] 得到测量销的名义尺寸后，还要获取测量销的位置度公差，测量销的位置度公差 通过公式2得到。
[0034] 在通过方法一和方法二得到测量销的名义尺寸以及测量销的位置度公差后，需要 确定测量销的尺寸偏差。测量销的尺寸偏差满足测量销的上偏差和下偏差之差等于测量销 的直径公差。
[0035] 上述公式中，孔的实效尺寸为计算值，根据现有技术，零件的实效尺寸是在零件具 有最大实体尺寸要求的前提下提出的尺寸，对于孔而言，实效尺寸计算公式为：
[0036]公式5:B=G+H-I
[0037] 其中，B为待测孔的实效尺寸，G为待测孔的名义尺寸，H为待测孔的下偏差，I为 待测孔的位置度。
[0038] 其中，在公式5中，孔的位置度根据孔的尺寸差异和精度要求的不同具有不同的 取值，孔的位置可以在现有技术中获取。
[0039] 在上述公式中，测量销的直径公差的取值和测量销的总公差的取值和孔的位置度 有关，具体为：
[0040] 待测孔的位置度a满足Omm<a彡0. 05mm时，测量销直径公差取0. 005mm，测量销 的总公差取孔的位置度数值的60%;
[0041] 待测孔的位置度a满足0. 05mm<a彡00.Imm时，测量销直径公差取0. 01mm，测量 销的总公差取孔的位置度数值的50%;
[0042] 待测孔的位置度a满足0·Olmm<a彡0· 15mm时，测量销直径公差取0· 01mm，测量 销的总公差取孔的位置度数值的40%;
[0043] 待测孔的位置度a满足0. 15mm<a彡0. 25mm时，测量销直径公差取0. 01mm，测量 销的总公差取孔的位置度数值的30%;
[0044] 待测孔的位置度a满足0. 25mm<a彡0. 5mm时，测量销直径公差取0. 01mm，测量 销的总公差取孔的位置度数值的20%;
[0045] 待测孔的位置度a满足a> 0. 5mm时，测量销直径公差取0. 02mm，测量销的总公差 取孔的位置度数值的20%。
[0046] 为了便于理解，将以上取值以表格形式列出，具体如下：
[0047] 表1单位为毫米
[0048]
【权利要求】
1. 一种测量销的尺寸和测量销的位置度公差的获取方法，所述测量销用于确定待测孔 的位置度是否符合要求，其特征在于，测量销的尺寸包括所述测量销的名义尺寸和所述测 量销的尺寸偏差，所述获取方法包括： 获取所述待测孔的实效尺寸以及所述测量销的总公差； 获取所述待测孔的实效尺寸以及所述测量销的直径公差； 通过所述待测孔的实效尺寸以及所述测量销的总公差确定所述测量销的名义尺寸； 通过所述测量销的名义尺寸及所述测量销的尺寸偏差确定所述测量销的尺寸； 通过所述测量销的总公差及测量销的直径公差确定所述测量销的位置度公差。
2. 根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于，获取所述测量销的总公差包括： 通过所述待测孔的位置度确定所述测量销的总公差。
3. 根据权利要求2所述的获取方法，其特征在于，通过所述待测孔的位置度确定所述 测量销的总公差包括： 所述待测孔的位置度a满足Omm< a < 0. 05_时，所述测量销的总公差取所述待测孔 的位置度数值的60% ; 所述待测孔的位置度a满足0. 05mm < a < 0. 1_时，所述测量销的总公差取所述待测 孔的位置度数值的50% ; 所述待测孔的位置度a满足0. 01mm < a < 0. 15_时，所述测量销的总公差取所述待 测孔的位置度数值的40% ; 所述待测孔的位置度a满足0. 15mm < a < 0. 25_时，所述测量销的总公差取所述待 测孔的位置度数值的30% ; 所述待测孔的位置度〇. 25mm < a < 0. 5_时，所述测量销的总公差取所述待测孔的位 置度数值的20% ; 所述待测孔的位置度a满足a > 0. 5mm时，所述测量销的总公差取所述待测孔的位置 度数值的20%。
4. 根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于，通过所述待测孔的实效尺寸及所述 测量销的总公差确定所述测量销的名义尺寸的步骤中，所述测量销的名义尺寸通过以下公 式得到： A = (B+F)/2 ； 其中，所述A为所述测量销的名义尺寸，所述B为所述待测孔的实效尺寸，所述F为所 述测量销的实效尺寸； 其中，所述测量销的实效尺寸通过以下公式得到： F = B+E ； 其中，所述F为所述测量销的实效尺寸，所述B为所述待测孔的实效尺寸，所述E为所 述测量销的总公差。
5. 根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于，所述待测孔的实效尺寸通过以下公 式得到： B = G+H-I ； 所述B为待测孔的实效尺寸，所述G为所述待测孔的名义尺寸，所述H为所述待测孔的 下偏差，所述I为所述待测孔的位置度。
6. 根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于， 所述测量销的尺寸偏差包括测量销的尺寸上偏差和测量销的尺寸下偏差，所述测量销 的尺寸上偏差和所述测量销的尺寸下偏差之差等于所述测量销的直径公差。
7. 根据权利要求6所述的获取方法，其特征在于，获取所述测量销的直径公差包括： 通过所述待测孔的位置度确定所述测量销的直径公差。
8. 根据权利要求7所述的获取方法，其特征在于，通过所述待测孔的位置度确定所述 测量销的直径公差包括： 所述待测孔的位置度a满足Omm < a < 0. 05_时，所述测量销直径公差取0. 005_ ; 所述待测孔的位置度a满足0. 05mm < a < 0. 1mm时，所述测量销直径公差取0. 01mm ; 所述待测孔的位置度a满足0. 01mm < a < 0. 15mm时，所述测量销直径公差取0. 01mm ; 所述待测孔的位置度a满足0. 15mm < a < 0. 25mm时，所述测量销直径公差取0. 01mm ; 所述待测孔的位置度a满足0. 25mm < a < 0. 5mm时，所述测量销直径公差取0. 01mm ; 所述待测孔的位置度a满足a > 0. 5mm时，所述测量销直径公差取0. 02mm。
9. 根据权利要求1所述的获取方法，其特征在于，通过所述测量销的总公差及测量销 的直径公差确定所述测量销的位置度公差的步骤中，所述测量销的位置度公差通过以下公 式获得： D = (E-C)/2 ； 其中，所述D为所述测量销的位置度公差，所述E为所述测量销的总公差，所述C为所 述测量销的直径公差。
10. 根据权利要求6所述的获取方法，其特征在于，通过所述待测孔的实效尺寸及所述 测量销的总公差确定所述测量销的名义尺寸的步骤中，所述测量销的名义尺寸通过以下公 式得到： A = B+C/2+D ； 其中，所述A为所述测量销的名义尺寸，所述B为所述待测孔的实效尺寸，所述C为所 述测量销的直径公差，所述D为所述测量销的位置度公差； 其中，所述测量销的位置度公差通过以下公式获得： D = (E-C)/2 ； 其中，所述D为所述测量销的位置度公差，所述E为所述测量销的总公差，所述C为所 述测量销的直径公差。
【文档编号】G01B21/00GK104457648SQ201410798951
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2014年12月19日 优先权日:2014年12月19日
【发明者】刘梅, 张红丽, 徐改弟 申请人:中国南方航空工业(集团)有限公司