玻璃内部应力定量测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种可以精确定量测试玻璃内部应力的装置。玻璃内部应力定量测试装置，按光路依次包括双频激光头、偏光分光器、偏振片、检偏器、相位计及计算机。偏光分光器对双频激光头输出的光束进行分光，一路偏振光作为参比信号，另外一路偏振光作为测试光。本实用新型采用光外差法原理，利用双频激光干涉，结构简单紧凑，灵敏度高，能实现对玻璃试样全口径内部应力的精确定量检测，排除人为因素影响，环境适应性好。
【专利说明】玻璃内部应力定量测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种玻璃的测试装置，特别是涉及一种玻璃内部应力定量测试装置。
【背景技术】
[0002]光学玻璃的内部应力对光学仪器来说是一大隐患，如果玻璃应力较大，只要轻轻敲击就会崩裂，或遇冷热冲击也会炸裂。对于光学面形要求高的光学零件，即使应力不大，在经过数月或数年内应力的缓慢释放后，光学面形也会明显变坏，严重降低光学仪器的性倉泛。
[0003]目前常用带有波片的读数偏光应力仪对光学玻璃进行应力检测，通过干涉暗条纹直接测量出光程差。采用读数偏光应力仪进行检测，通过人眼观察条纹情况判断读数，属于半定量检测，人为影响因素较大，且只能给出单点位置的读数，不能对整个样品通光面提供精确数据。另外，只能给出一级条纹以下的读数，对于更高级次的条纹无法判读，从而不能较好地控制玻璃质量，且检测灵敏度也受干涉条纹宽度无法准确定位等因素影响。
实用新型内容
[0004]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种可以精确定量测试玻璃内部应力的测试装置。
[0005]本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是:玻璃内部应力定量测试装置，按光路依次包括双频激光头、偏光分光器、偏振片、检偏器、相位计，其中，所述双频激光头产生双频激光；所述偏光分光器对双频激光头输出的光束进行分光，一路偏振光作为参比信号，直接送入相位计，另外一路偏振光作为测试光；所述偏振片对测试光扩束，照射到被测样品上；所述检偏器检出透过被测样品的偏光信号，进入相位计成为测试信号，测试信号和上述参比信号发生双频干涉；所述相位计对双频干涉信号进行整数计数，测量相位，获取干涉条纹的相位信号。
[0006]本实用新型的有益效果是:采用光外差法原理，利用双频激光干涉，结构简单紧凑，灵敏度高，能实现对玻璃试样全口径内部应力的精确定量检测，排除人为因素影响，环境适应性好。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]图1是本实用新型的结构示意图。
【具体实施方式】
[0008]本实用新型的装置按光路依次包括双频激光头1、偏光分光器2、偏振片3、检偏器
5、相位计6，如图1所示。双频激光头1为高精度的稳频激光器，利用横向塞曼频率分裂效应，将He-Ne激光器置于横向磁场中，其谱线在磁场的作用下发生分裂，输出一对具有一定频差的正交线偏振光，产生双频激光，波长的复现性和偏振态的正交性好，输出功率大，拍频频率稳定。偏光分光器2对双频激光头I输出的光束进行分光，一路偏振光作为参比信号，直接送入相位计6，另外一路偏振光作为测试光。测试光通过偏振片3扩束，照射到被测样品4上，透过被测样品4后的光束，其相位受被测样品4内部应力作用产生变化，再经检偏器5检出透过被测样品4的偏光信号，然后进入相位计6成为测试信号。进入相位计6的测试信号和上述参比信号发生双频干涉，相位计6对双频干涉信号进行整数计数，测量相位，相位计6获取干涉条纹的相位信号。
[0009]将上述相位信号传输至计算机7，计算机7通过软件实现对被测样品4内部应力的实时采集和分析，从而实现对应力值的精确定量检测。
[0010]测试时,打开双频激光头I，将被测样品4放置在光路中，经过偏光分光器2分光和偏振片3扩束后的测试光束入射到被测样品4，通过被测样品4的光线经检偏器5后进入相位计6，与参比信号发生双频干涉，干涉条纹的相位信号传输至计算机7，通过采集和分析即可获取被测样品4内部应力值。
【权利要求】
1.玻璃内部应力定量测试装置，其特征在于:按光路依次包括双频激光头(I)、偏光分光器⑵、偏振片⑶、检偏器(5)、相位计(6)，其中，所述双频激光头⑴产生双频激光；所述偏光分光器(2)对双频激光头(I)输出的光束进行分光，一路偏振光作为参比信号，直接送入相位计￠)，另外一路偏振光作为测试光；所述偏振片(3)对测试光扩束，照射到被测样品(4)上；所述检偏器(5)检出透过被测样品(4)的偏光信号，进入相位计(6)成为测试信号，测试信号和上述参比信号发生双频干涉；所述相位计(6)对双频干涉信号进行整数计数，测量相位，获取干涉条纹的相位信号。
【文档编号】G01L1/24GK204043824SQ201420135705
【公开日】2014年12月24日 申请日期:2014年3月25日 优先权日:2014年3月25日
【发明者】周佺佺 申请人:成都光明光电股份有限公司