射频连接器端口测试装置制造方法
【专利摘要】一种射频连接器端口测试装置，包括数显高度尺，数显高度尺包括固定杆和一端与数显表头连接的滑动杆，在固定杆上固定安装有中空的测试固定杆，测试固定杆的测试端外侧壁形状与射频连接器壳体端口内侧壁形状相匹配，测试固定杆的测试端长度大于射频连接器壳体端口至射频连接器壳体内部的对接安装基准面的高度，测试固定杆的测试端的内径大于射频连接器壳体内的内导体的外径；在滑动杆上固定有测试顶针，测试顶针在不受外力时，伸出测试固定杆的测试端端口外。该装置节省测试时间，提高测试效率，减少测试误差。
【专利说明】 射频连接器端口测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及移动通信【技术领域】，尤其是指移动通讯领域的射频连接器的端口测试装置。
【背景技术】
[0002]在通讯领域中，射频连接器被广泛应用于电缆与电缆、系统与系统、电缆与系统之间的连接，要求其具有良好的电气性能和机械性能。由于连接器在对接组装时，对连接器的尺寸要求极其严格，尺寸超过误差，在对接连接时，则会造成对连接器的损害，直接影响其电气性能。对于连接器，其内导体至连接器壳体对接基准面的距离尺寸必须在规定的标准范围之内，如果超出该范围，则会导致对接时损坏连接器或接触不良，造成电气性能不良。射频连接器，内导体位于连接器壳体端口内，对接安装基准面位于连接器壳体内，内导体至对接安装基准面之间距离为控制关键点，当该距离超出标准范围外，则在对接时造成上述不良。对于这一尺寸的测量，目前采用数显高度尺进行测量。数显高度尺包括中空固定杆和位于固定杆中的测试滑动杆，测试滑动杆与数显表头连接一端设置有弹簧，测试滑动杆伸出在固定杆端口外。需要进行二次测量加计算才可以得出，然后取两次测量的差值才可以。以连接器壳体端面为基准点对测量仪归零，然后测量内导体距离连接器壳体端口的距离；再以连接器壳体端面为基准点，测量对接基准面至连接器壳体之间的距离，该两距离之差即为内导体至对接基准面的距离。该测量方法，需要进行2次测量，并且还需对两侧测量的距离进行计算，测量时间长，测量效率高，测量误差大。如何改进数显高度尺，使其可以一次性测试出连接器端口处数据，并直接显现是需要解决的问题。
【发明内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种射频连接器端口测试装置，该测试装置可以一次性测试出内导体至对接安装基准面的距离，节省测试时间，提高测试效率，减少测试误差。
[0004]为解决上述技术问题，本实用新型提供的技术方案是一种射频连接器端口测试装置，其包括数显高度尺，所述数显高度尺包括固定杆和一端与数显表头连接的滑动杆，其特征在于在所述固定杆上固定安装有中空的测试固定杆，所述测试固定杆的测试端外侧壁形状与所述射频连接器壳体端口内侧壁形状相匹配，所述测试固定杆的测试端长度大于所述射频连接器壳体端口至所述射频连接器壳体内部的对接安装基准面的高度，所述测试固定杆的测试端的内径大于所述射频连接器壳体内的内导体的外径；在所述滑动杆上固定有测试顶针，所述测试顶针在不受外力时，伸出所述测试固定杆的测试端端口外。
[0005]所述滑动杆的端面上开设有螺孔，所述测试顶针螺锁在所述螺孔内。
[0006]所述测试固定杆一端套设在所述固定杆上，通过螺钉固定在所述固定杆上。
[0007]测试时，以水平测试平台为基准面进行测试装置归零后，测试顶针在弹簧作用自然伸出测试固定杆端口外，然后将测试装置的测试固定杆和测试顶针伸入射频连接器壳体端口内，当内导体顶住测试顶针使测试顶针回缩直到测试固定杆抵触对接安装基准面台阶处，此时，数显表头显示的数值即为内导体至对接安装基准面的距离。
[0008]本实用新型的射频连接器端口测试装置，在数显高度尺的基础上增加与射频连接器结构相匹配的测试固定杆和测试顶针，使其可深入至射频连接器壳体内部进行测试，实现一次性测试，并直接读取测试数值，节约了大量的测试时间，提高了测试效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1，本实用新型测试结构示意图。
【具体实施方式】
[0010]针对上述技术方案，现举一较佳实施例并结合图示进行具体说明，参看图1，其中。
[0011]数显高度尺主要包括固定杆I和滑动杆3，固定杆I套设在滑动杆3外，为滑动杆3伸缩进行导向。滑动杆3内设置有弹簧，通过弹簧可自由伸缩。滑动杆与数显表头的连接属于现有技术，在此不再赘述。
[0012]连接器测试固定杆6，其由两端贯通的中空管道形成。其一端套设在数显高度尺的固定杆I的外壁上，并通过螺钉2固定在固定杆I上，其另一端为测试端，该测试端的外壁形状与内导体7及对接安装基准面所处的射频连接器壳体端内壁形状相匹配，测试端内壁直径大于处于射频连接器壳体8内的内导体外径；测试端长度大于对接安装基准面和内导体分别至射频连接器壳体端口的距离，以便在测试时，测试端能够贴合射频连接器壳体端内壁伸入至射频连接器壳体内的对接安装基准面台阶处。
[0013]测试顶针5，在数显高度尺的滑动杆3端面处开设有螺孔4，测试顶针一端外壁上开设有外螺纹，测试顶针通过螺孔螺锁在滑动杆3上。测试顶针5的外径小于测试固定杆的内径，大于内导体端端面的外径。在测试顶针5不受外力作用时，测试顶针5的自由端伸出测试固定杆自由端端口外。当然，测试顶针5的外径不一定要大于内导体端端面的外径，仅需测试顶针5在测试时，能够顶住内导体端面大部分面积即可。
[0014]测试时，以水平测试平台为基准面进行测试装置归零后，测试顶针在弹簧作用自然伸出测试固定杆端口外，然后将测试装置的测试固定杆和测试顶针伸入射频连接器壳体端口内，当内导体顶住测试顶针使测试顶针回缩直到测试固定杆抵触对接安装基准面台阶处，此时，数显表头显示的数值即为内导体端面至对接安装基准面的距离X。
[0015]本实用新型的测试装置，在原有数显高度尺的基础上进行结构改变，增加了辅助的测试固定杆和测试顶针，使其符合射频连接器的结构。该测试装置结构简单，可实现一次性测试，极大节省了测试时间和测试效率，同时也减少了因多次测试造成的测试误差。
【权利要求】
1.一种射频连接器端口测试装置，其包括数显高度尺，所述数显高度尺包括固定杆和一端与数显表头连接的滑动杆，其特征在于在所述固定杆上固定安装有中空的测试固定杆，所述测试固定杆的测试端外侧壁形状与所述射频连接器壳体端口内侧壁形状相匹配，所述测试固定杆的测试端长度大于所述射频连接器壳体端口至所述射频连接器壳体内部的对接安装基准面的高度，所述测试固定杆的测试端的内径大于所述射频连接器壳体内的内导体的外径；在所述滑动杆上固定有测试顶针，所述测试顶针在不受外力时，伸出所述测试固定杆的测试端端口外。
2.根据权利要求1所述的射频连接器端口测试装置，其特征在于所述滑动杆的端面上开设有螺孔，所述测试顶针螺锁在所述螺孔内。
3.根据权利要求1所述的射频连接器端口测试装置，其特征在于所述测试固定杆一端套设在所述固定杆上，通过螺钉固定在所述固定杆上。
【文档编号】G01B5/14GK203811091SQ201420148728
【公开日】2014年9月3日 申请日期:2014年3月28日 优先权日:2014年3月28日
【发明者】赵奇 申请人:苏州兆科电子有限公司