上探针式接触测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种上探针式接触测试装置，以解决在现有接触测试装置中，无法使探针始终处于准确位置，并且容易使测试架台发生倾斜的问题。本实用新型由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成，探针与治具依次安装在测试基座上，测试基座安装在测试架台上，测试架台安装在导轨上，气缸、导轨与限位器均是安装在基座上，基座安装在XY调整台上，气缸与测试架台相连接，限位块安装在测试架台上。本实用新型可进行XY方向的精确位移调整，使探针可以处于准确位置，当气缸推动测试架台向上沿导轨运动时，可确保运动路线与水平面始终保持垂直状态，避免发生倾斜。
【专利说明】上探针式接触测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种接触测试装置，尤其是一种上探针式接触测试装置。
【背景技术】
[0002]目前，由于现有的接触测试装置只能进行单一方向的位移调整，因此，在使用过程中，无法使探针始终处于准确位置，并且容易使测试架台发生倾斜。
【发明内容】
[0003]针对上述问题中存在的不足之处，本实用新型提供一种可进行XY方向的精确位移调整，使探针可以处于准确位置的上探针式接触测试装置。
[0004]为实现上述目的，本实用新型提供一种上探针式接触测试装置，由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成，所述探针与所述治具依次安装在所述测试基座上，所述测试基座安装在所述测试架台上，所述测试架台安装在所述导轨上，所述气缸、所述导轨与所述限位器均是安装在所述基座上，所述基座安装在所述XY调整台上，所述气缸与所述测试架台相连接，所述限位块安装在所述测试架台上。
[0005]与现有技术相比，本实用新型具有以下优点:
[0006]本实用新型可进行XY方向的精确位移调整，使探针可以处于准确位置，当气缸推动测试架台向上沿导轨运动时，可确保运动路线与水平面始终保持垂直状态，避免发生倾斜；
[0007]通过XY调整台可使本实用新型进行在横向及纵向上进行位置调整。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1为本实用新型的立体图；
[0009]图2为图1的侧视图；
[0010]图3为图1的另一侧视图；
[0011]图4为本实用新型的俯视图。
[0012]主要附图标记说明如下:
[0013]1-测试架台2-导轨3-气缸
[0014]4-基座 5-XY调整台6-测试基座
[0015]7-探针 8-治具9-限位器
[0016]10-限位块
【具体实施方式】
[0017]如图1所示，本实用新型由测试架台1、导轨2、气缸3、基座4、XY调整台5、测试基座6、探针7、治具8、限位器9与限位块10构成，其中，探针安装在治具上，治具安装在测试基座上，测试基座安装在测试架台上，测试架台安装在导轨上，导轨、气缸与限位器均是安装在基座上，基座安装在XY调整台上，气缸与测试架台相连接，限位块安装在测试架台上。
[0018]本实用新型在工作时:气缸推动测试架台沿导轨方向向上运动，测试架台上的测试基座、治具及探针同时向上移动。当测试架台上的限位块触碰到基座上限位器时停止向上运动。
[0019]气缸在收回时，使测试架台、与安装在其上的测试基座、治具以及探针向下回到原位。
[0020]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，对发明而言仅仅是说明性的，而非限制性的。本专业技术人员理解，在发明权利要求所限定的精神和范围内可对其进行许多改变，修改，甚至等效，但都将落入本实用新型的保护范围内。
【权利要求】
1.一种上探针式接触测试装置，其特征在于，由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成，所述探针与所述治具依次安装在所述测试基座上，所述测试基座安装在所述测试架台上，所述测试架台安装在所述导轨上，所述气缸、所述导轨与所述限位器均是安装在所述基座上，所述基座安装在所述XY调整台上，所述气缸与所述测试架台相连接，所述限位块安装在所述测试架台上。
【文档编号】G01R1/067GK203981724SQ201420344356
【公开日】2014年12月3日 申请日期:2014年6月23日 优先权日:2014年6月23日
【发明者】刘卫华 申请人:北京盈和工控技术有限公司