一种EMC自动测试系统多测试项并行测试的实现方法与流程

本发明属于电磁兼容测试领域，具体涉及一种emc自动测试系统多测试项并行测试的实现方法。

背景技术：

随着现代科技的发展，电子设备的应用领域越来越广泛，所处的电磁环境也越来越复杂，因此产生了越来越多的电磁兼容问题。为了保障电子设备及使用人员的安全，电磁兼容性已经成为电子、电气类产品市场准入的必要条件。而产品电磁兼容性是否满足市场要求是要通过电磁兼容测试来衡量的，电磁兼容测试不仅能评估被测产品是否达到相关标准的要求，还能通过测试来定位、分析存在的电磁兼容问题，从而帮助生产者改进设计。

电磁兼容测试主要分为发射测试(emi)和敏感度测试(ems)，两类测试所需要的实验室测试资源包括测试设备、测试通道与测试场地。发射测试与敏感度测试中的许多测试资源是共用的，例如测试场地都是在暗室中或控制室中，测试通道都是由开关矩阵与各种线缆接口板组成的通路，测试设备中的信号源，在发射测试中作为校准设备使用，同时在敏感度测试中又作为干扰场强生成设备使用。为了避免测试资源的使用冲突，在测试的过程中，大部分实验室同一时间只进行一个测试项的测试，当前测试项未用到的资源则处于闲置状态，导致设备资源利用率不高、测试效率低下，特别是在敏感度测试中，在长时间的测试过程中无法进行其他的测试，造成了实验室测试资源的极大浪费。因此，一些测试任务重的实验室需要配置多台/套功能相同或相近的设备，才能同时开展多个项目的测试工作，造成了实验室成本的提高。

当前的电磁兼容测试系统中，对于不同测试项测试的实现方法有两种：

第一种方法是逐项进行。由于各个敏感度测试测试项与各个发射测试测试项之间存在共用的测试仪器，为了保证各项测试不受相互之间的干扰，保证测试正常进行，许多实验室采取了逐项测试的方法，即同一时间只测试一个测试项，当前测试项完成后再进行下一个测试项的测试。此种方法造成了其他测试资源的闲置，降低了测试效率。

第二种方法是购置多台/套功能相近的测试设备/系统。部分实验室由于测试任务繁重，测试时间紧张，为了更充分的利用测试资源，另购买了部分设备来实现不同测试项的同时测试。比如两台功能相近的信号源，一台用于发射测试校准使用，一台用于敏感度测试生成干扰信号使用，一定程度上提高了资源的利用率，但是却增加了实验室硬件成本，造成了资源的浪费。

直接采用现有的方法进行电磁兼容多测试项测试的问题时，主要存在以下缺点：

效率低。为了保证测试过程中不同测试项不产生相互干扰，同时只进行一个测试项的测试，当前测试项不需要的测试资源处于闲置状态，降低了测试效率，延长了测试时间。

成本高。为提高测试效率，测试系统中存在多台/套功能相近的测试设备/系统，实现了多测试项的同时测试，减少了测试资源的闲置，但增加了需要购置的硬件设备，增加了实验室的建设成本。

技术实现要素：

针对现有技术中存在的上述技术问题，本发明提出了一种emc(electromagneticcompatibility，电磁兼容)自动测试系统多测试项并行测试的实现方法，设计合理，克服了现有技术的不足，具有良好的效果。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种emc自动测试系统多测试项并行测试的实现方法，包括如下步骤：

步骤1：运行测试项1；选择测试时间较长的测试项为测试项1，以便在测试项1测试的过程中进行其他测试时间较短的测试项；

步骤2：判断测试项1的测试资源是否被占用；

若：判断结果是测试项1的测试资源被占用，则继续判断；

或判断结果是测试项1的测试资源没有被占用，则执行步骤3；

步骤3：对测试项1进行校准；

步骤4：校准完成后，释放校准占用的测试资源；

步骤5：对测试项1进行测试；

步骤6：测试项1测试完成后，释放测试资源；

在测试项1测试的过程中，如果有其他测试项请求使用当前占用的测试资源，则发送测试资源已被占用的消息，待测试项1测试完成后发送测试资源已经释放的消息；

步骤7：测试项1测试结束；

步骤8：采用多线程方法运行测试项2，规划测试项2所有需要的测试资源；

步骤9：判断测试项2的测试资源是否被占用；

若：判断结果是测试项2的测试资源被占用，则继续判断，直至判断出测试项2的测试资源没有被占用，然后执行步骤10；

或判断结果是测试项2的测试资源没有被占用，则执行步骤10；

步骤10：对测试项2进行校准；

步骤11：校准完成后，释放校准占用的测试资源；

步骤12：对测试项2进行测试；

步骤13：测试完成后，释放测试资源；

步骤14：测试项2测试结束。

优选地，emc测试包括发射测试和敏感度测试，每个测试又分为多个测试项；其中，发射测试的测试流程如下：

步骤s11：发射测试开始；

步骤s12：通过信号源产生校准信号；

步骤s13：通过接收机读取测量值；

步骤s14：校准完成；

步骤s15：通过传感器捕捉受试设备产生信号；

步骤s16：通过接收机读取测量值；

步骤s17：与校准比较判断是否合格；

步骤s18：释放测试资源；

步骤s19：发射测试结束；

敏感度测试的测试流程如下：

步骤s21：敏感度测试开始；

步骤s22：通过信号源产生校准信号；

步骤s23：通过传感器读取测量值；

步骤s24：校准完成；

步骤s25：通过信号源产生测试信号；

步骤s26：通过传感器读取测量值；

步骤s27：判断受试设备是否正常工作；

步骤s28：释放测试资源；

步骤s29：敏感度测试结束。

本发明所带来的有益技术效果：

本发明通过对测试资源的需求分析，对测试项的合理规划与测试资源的合理分配，在不产生冲突的前提下，对硬件资源进行合理划分，提出敏感度测试与传导发射测试同时进行的硬件方案，最大程度上减少资源闲置，在不增加现有的硬件设备的基础上，通过软件系统实现测试资源的多线程调用并建立相应的测试通路，最终实现了电磁兼容测试系统测试项并行测试，调高了测试效率，缩短了测试时间，节约了测试成本。

附图说明

图1为emc测试流程图；

其中，图1(a)为发射测试流程图；图1(b)为敏感度测试流程图。

图2为本发明emc自动测试系统多测试项并行测试实现方法的流程图。

具体实施方式

下面结合附图以及具体实施方式对本发明作进一步详细说明：

本发明提供一种方法实现emc自动测试系统多测试项并行测试，提高了测试资源利用率，缩短了测试时间，提高了测试效率。

电磁兼容(emc)测试主要分为发射测试(emi)和敏感度测试(ems)，每个测试又分为多个测试项，首先对两类测试的测试流程进行分析。

发射测试主要用来考核受试设备对外产生的干扰是否在标准规定的范围内，分为校准和测试两个部分，主要用到的测试仪器为信号源、接收机、干扰捕捉传感器，开关矩阵等，测试时间较短，按照传播途径的不同又可以分为辐射发射和传导发射，其中辐射发射需要在暗室内进行，测试时间一般十几分钟到几十分钟不等，传导发射可以在暗室内也可以在控制室进行，测试时间一般在几分钟到十几分钟不等，发射测试流程如图1(a)所示：

敏感度测试主要用来考核受试设备在标准规定的干扰下能否正常工作，同样分为校准和测试两部分，主要用到的测试仪器为信号源、功率放大器、功率计、场强仪等，按照干扰耦合的方式不同，也可分为辐射敏感度测试和传导敏感度测试，辐射敏感度测试需要在暗室内进行，传导敏感度测试可以在暗室内也可以在控制室进行，根据需要测试的频段不同，测试时间跨度较大，以gjb151b中rs103为例，如果要按标准规定的测试步长做到全频段(10khz-40ghz)测试，需要的不间断测试时间为数天，如果产品有特殊要求需要将步长减小，则需要的时间更长，敏感度测试流程如图1(b)所示：

两类测试中，校准测试不需要在每次测试时都进行，只需在一段时间内进行一次校准测试即可，故校准测试所用到的测试设备不纳入核心测试设备当中。从测试流程中可以看出，发射测试的核心设备为接收机，敏感度测试的核心设备为信号源、功率放大器以及传感器，同一类型的测试核心设备与测试场地相同，所以无法实现并行测试，但不同测试类型的测试核心设备并不冲突，敏感度类测试进行的同时完全可以进行部分发射类测试，为并行测试提供了理论上的可能性。

为了实现多测试项的并行测试，在传统的emc测试系统的基础上，需要增加测试资源的管理与测试项的多线程调用等内容，具体的测试流程如2所示：

步骤1：运行测试项1；选择测试时间较长的测试项为测试项1，以便在测试项1测试的过程中进行其他测试时间较短的测试项；

步骤2：判断测试项1的测试资源是否被占用；

若：判断结果是测试项1的测试资源被占用，则继续判断；

或判断结果是测试项1的测试资源没有被占用，则执行步骤3；

步骤3：对测试项1进行校准；

步骤4：校准完成后，释放校准占用的测试资源；

步骤5：对测试项1进行测试；

步骤6：测试项1测试完成后，释放测试资源；

在测试项1测试的过程中，如果有其他测试项请求使用当前占用的测试资源，则发送测试资源已被占用的消息，待测试项1测试完成后发送测试资源已经释放的消息；

步骤7：测试项1测试结束；

步骤8：采用多线程方法运行测试项2，规划测试项2所有需要的测试资源；

步骤9：判断测试项2的测试资源是否被占用；

若：判断结果是测试项2的测试资源被占用，则继续判断，直至判断出测试项2的测试资源没有被占用，然后执行步骤10；

或判断结果是测试项2的测试资源没有被占用，则执行步骤10；

步骤10：对测试项2进行校准；

步骤11：校准完成后，释放校准占用的测试资源；

步骤12：对测试项2进行测试；

步骤13：测试完成后，释放测试资源；

步骤14：测试项2测试结束。

电磁兼容测试的测试标准很多，每一个测试标准又分为若干测试项，但只要是考核被测设备的相同能力，不同的测试标准下测试项所需的测试资源就大体相同，以gjb151b为例，为了实现多测试项的并行测试，在发射测试和敏感度测试中各选取三个测试项，对这些测试项测试过程中需要的测试资源进行对比如表1所示：

表1gjb151b中典型测试项测试资源需求表

从表中可以看出，只要两个测试项所需的测试资源不冲突，那么从硬件的角度来讲就可以实现测试项的并行测试，以测试时间最长的rs103为例，在进行长达数天的测试过程中，cs101与当前测试项共用信号源与功率放大器，re102与当前测试项共用暗室，所以不可以实现并行测试，但ce101与ce102与当前测试项所需测试资源并不冲突，所以可以实现并行测试，节省了测试时间，提高了测试效率。

当然，上述说明并非是对本发明的限制，本发明也并不仅限于上述举例，本技术领域的技术人员在本发明的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换，也应属于本发明的保护范围。