一种3D测量机及其测量方法与流程

本发明涉及测量领域，尤其是涉及一种3d测量机及其测量方法。

背景技术：

坐标测量机在现有技术中是公知的，坐标测量机中以测量仪器的平台为参考平面建立机械坐标系，采集被测工件表面上的被测点的坐标值，并投射到空间坐标系中，构建工件的空间模型。

传统的坐标测量机采用三轴坐标进行测量，测量过程复杂，需要反复操作，大大浪费了测量时间。

技术实现要素：

本发明主要解决的技术问题是提供一种3d测量机及其测量方法，能够减少测量机的测量时间。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：一种3d测量机，包括底座和支架，所述支架安装在底座上，所述底座和支架上分别安装有一测量平台，所述支架通过升降结构与所述测量平台相连接；

所述测量平台由若干定位针和若干连接孔组成，所述定位针安装在所述连接孔内，所述连接孔孔口安装有挡圈，所述定位针位于所述连接孔内端安装有凸台；

位于所述底座上的所述测量平台内的所述连接孔底端与所述定位针底端均安装电磁铁，所述定位针顶端安装有测量定位模块；

所述底座上安装有处理芯片，所述处理芯片与测量定位模块通过信号相连接。

在本发明一个较佳实施例中，所述定位针与所述连接孔相配合。

在本发明一个较佳实施例中，所述挡圈与所述凸台相配合。

在本发明一个较佳实施例中，所述处理芯片与外部终端相连接。

在本发明一个较佳实施例中，所述外部终端为计算机。

一种3d测量机的测量方法，具体步骤包括：

（1）首先将位于所述底座上的所述电磁铁接通，使得位于所述底座的所述测量平板上的所述定位针悬浮；

（2）将待测零件放置在位于所述底座的所述测量平板上，使得位于所述底座的所述测量平板上的所述定位针与待测零件完全接触；

（3）此时控制所述电磁铁的电量，使得每组所述电磁铁不相接触；

（4）通过所述升降结构将位于所述支架上的所述测量平板下降，使得位于所述支架上的所述测量平板上的所述定位针与待测零件上表面完全接触；

（5）通过位于所述定位针顶端的所述测量定位模块对零件进行测量，然后将零件的外形结构通过所述处理芯片传输给外部终端，从而得到待测零件的测量数据。

本发明的有益效果是：本发明一种3d测量机及其测量方法，该3d测量机操作简单，测量方便，无需多次测量就能对零件进行全方位的测量，大大节约了测量时间。

附图说明

图1为一种3d测量机的结构示意图。

附图中各部件的标记如下：1、底座；2、支架；3、测量平台；4、定位针；5、连接孔；6、挡圈；7、凸台；8、电磁铁；9、升降结构；10、测量定位模块；11、处理芯片。

具体实施方式

下面对本发明的较佳实施例进行详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围做出更为清楚明确的界定。

根据图1，一种3d测量机，包括底座1和支架2，所述支架2安装在底座1上，所述底座1和支架2上分别安装有一测量平台3，所述支架2通过升降结构9与所述测量平台3相连接，通过上下两所述测量平台3相配合，从而对待测零件进行全方位的测量，操作简单方便。

所述测量平台3由若干定位针4和若干连接孔5组成，所述定位针4安装在所述连接孔5内，所述定位针4与所述连接孔5相配合，使得所述定位针4可以在所述连接孔5内来回滑动，所述定位针4越小越多，该测量机测量的越准确。

所述连接孔5孔口安装有挡圈6，所述定位针4位于所述连接孔5内端安装有凸台7，所述挡圈6与所述凸台7相配合，使得位于上所述测量平台3内的所述定位针4在自重的作用下以及位于下所述测量平台3内的所述定位针4在所述电磁铁8排斥力的作用下均不会与所述连接孔5脱离。

位于所述底座1上的所述测量平台3内的所述连接孔5底端与所述定位针4底端均安装电磁铁8，通过两所述电磁铁8作用，从而使得位于所述底座1上的所述测量平台3内的所述定位针4悬浮。

所述定位针4顶端安装有测量定位模块10，所述测量定位模块10用于最后的测量。

所述底座1上安装有处理芯片11，所述处理芯片11与测量定位模块10通过信号相连接，所述处理芯片11与外部终端相连接，本实施例中，所述外部终端为计算机，所述处理芯片11用于将所测得的零件测量数据通过计算机呈现给测量人员看。

一种3d测量机的测量方法，具体步骤包括：

（1）首先将位于所述底座1上的所述电磁铁8接通，使得位于所述底座1的所述测量平板3上的所述定位针4悬浮；

（2）将待测零件放置在位于所述底座1的所述测量平板3上，使得位于所述底座1的所述测量平板3上的所述定位针4与待测零件完全接触；

（3）此时控制所述电磁铁8的电量，使得每组所述电磁铁8不相接触；

（4）通过所述升降结构9将位于所述支架2上的所述测量平板3下降，使得位于所述支架2上的所述测量平板3上的所述定位针4与待测零件上表面完全接触；

（5）通过位于所述定位针4顶端的所述测量定位模块10对零件进行测量，然后将零件的外形结构通过所述处理芯片11传输给外部终端，从而得到待测零件的测量数据。

与现有技术相比，本发明一种3d测量机及其测量方法，该3d测量机操作简单，测量方便，无需多次测量就能对零件进行全方位的测量，大大节约了测量时间。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种3D测量机，包括底座和支架，所述支架安装在底座上，所述底座和支架上分别安装有一测量平台，所述支架通过升降结构与所述测量平台相连接；所述测量平台由若干定位针和若干连接孔组成，所述定位针安装在所述连接孔内，所述连接孔孔口安装有挡圈，所述定位针位于所述连接孔内端安装有凸台；位于所述底座上的所述测量平台内的所述连接孔底端与所述定位针底端均安装电磁铁，所述定位针顶端安装有测量定位模块；所述底座上安装有处理芯片，所述处理芯片与测量定位模块通过信号相连接。通过上述方式，本发明一种3D测量机及其测量方法，该3D测量机操作简单，测量方便，无需多次测量就能对零件进行全方位的测量，大大节约了测量时间。

技术研发人员：邰大勇;王斌;赵磊
受保护的技术使用者：为度科创检测技术（苏州）有限公司
技术研发日：2018.12.31
技术公布日：2019.03.29