本实用新型涉及一种测试设备,特别是一种电子智能门锁测试用的老化架。
背景技术:
在成品的电子智能门锁生产完成后需要放到老化架进行通电测试,现有的老化架上的放置板均与水平面平行,为了可放置更多的电子门锁,会在每层放置板两侧都设置有插座,然后在每层放置板上放置两排电子门锁同时进行测试,但由于成品的电子智能门锁自身占用的空间大,使放置板的面积也需要很大,导致老化架的整体占据了很大的使用空间。
技术实现要素:
为了克服现有技术的不足,本实用新型提供一种电子智能门锁测试用的老化架。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种电子智能门锁测试用的老化架,包括架体,所述架体上分别安装有若干上斜放置板和若干下斜放置板,所述上斜放置板和下斜放置板的倾斜方向沿着水平面对称,且所述上斜放置板的底端边缘与所述下斜放置板的顶端边缘贴合。
所述上斜放置板和下斜放置板的规格相同。
所述上斜放置板为短边倾斜,所述下斜放置板同样为短边倾斜。
所述上斜放置板和下斜放置板的顶面分别设置有若干放置槽。
所述放置槽的一侧设置有插座。
所述上斜放置板和下斜放置板之间的夹角为30°~45°。
本实用新型的有益效果是:本实用新型在架体上分别安装有若干上斜放置板和若干下斜放置板,上斜放置板和下斜放置板的倾斜方向沿着水平面对称,且上斜放置板的底端边缘与下斜放置板的顶端边缘贴合,上斜放置板和下斜放置板上设置有用于放置电子门锁的放置槽,通过将上斜放置板和下斜放置板倾斜安装,不仅方便对测试产品进行观察,而且在与传统水平面平行安装放置板的老化架相比本实用新型可在同一规格的架体上安装更多的层数,从而能放置更多的测试产品。
另外,本实用新型的每层放置板只放置一排测试产品,与每层放置板两排测试产品的老化架相比,本实用新型在保证测试产品数量的同时,占用更小的空间。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型的侧视图。
具体实施方式
参照图1、图2,一种电子智能门锁测试用的老化架,包括架体1,所述架体1上分别安装有若干上斜放置板2和若干下斜放置板3,所述上斜放置板2和下斜放置板3的倾斜方向沿着水平面对称,且所述上斜放置板2的底端边缘与所述下斜放置板3的顶端边缘贴合,所述上斜放置板2和下斜放置板3的规格相同,通过将上斜放置板和下斜放置板倾斜安装,不仅方便对测试产品进行观察,而且在与传统水平面平行安装放置板的老化架相比本实用新型可在同一规格的架体上安装更多的层数,从而能放置更多的测试产品,另外,本实用新型的每层放置板只放置一排测试产品,与每层放置板两排测试产品的老化架相比,本实用新型在保证测试产品数量的同时,占用更小的空间。
所述上斜放置板2为短边倾斜,所述下斜放置板3同样为短边倾斜,由于电子门锁的形状大致为长方体,采用短边倾斜确保每块放置板上尽可能放置更多的电子门锁。
所述上斜放置板2和下斜放置板3的顶面分别设置有若干放置槽4,所述放置槽4的一侧设置有插座,使电子门锁可有序地排列在放置板上进行通电测试,以方便观察和记录。
所述上斜放置板2和下斜放置板3之间的夹角为30°~45°,根据架体的高度以及放置板的层数进行调整,方便放置和观察测试产品。
以上的实施方式不能限定本发明创造的保护范围,专业技术领域的人员在不脱离本发明创造整体构思的情况下,所做的均等修饰与变化,均仍属于本发明创造涵盖的范围之内。
1.一种电子智能门锁测试用的老化架,包括架体(1),其特征在于所述架体(1)上分别安装有若干上斜放置板(2)和若干下斜放置板(3),所述上斜放置板(2)和下斜放置板(3)的倾斜方向沿着水平面对称,且所述上斜放置板(2)的底端边缘与所述下斜放置板(3)的顶端边缘贴合。
2.根据权利要求1所述的电子智能门锁测试用的老化架,其特征在于所述上斜放置板(2)和下斜放置板(3)的规格相同。
3.根据权利要求2所述的电子智能门锁测试用的老化架,其特征在于所述上斜放置板(2)为短边倾斜,所述下斜放置板(3)同样为短边倾斜。
4.根据权利要求1所述的电子智能门锁测试用的老化架,其特征在于所述上斜放置板(2)和下斜放置板(3)的顶面分别设置有若干放置槽(4)。
5.根据权利要求4所述的电子智能门锁测试用的老化架,其特征在于所述放置槽(4)的一侧设置有插座。
6.根据权利要求1所述的电子智能门锁测试用的老化架,其特征在于所述上斜放置板(2)和下斜放置板(3)之间的夹角为30°~45°。