一种基于FPGA技术的自动响应时间测试方案的制作方法

文档序号:24636045发布日期:2021-04-09 20:47阅读:197来源:国知局
一种基于FPGA技术的自动响应时间测试方案的制作方法

本发明涉及一种基于fpga技术的自动响应时间测试方案,属于核动力堆保护系统的响应时间测试技术领域。



背景技术:

保护系统是核电站最重要的安全级系统,关乎电厂的安全运行,为了确保保护系统的功能性能满足要求,需要在电厂运行后定期对保护系统进行响应时间测试,确保系统的响应时间满足核电厂技术规格书的要求。

保护系统响应时间测试是核电站最复杂、工期最长、风险最高的定期监督试验项目之一。该定期监督试验通常在电厂换料大修期间进行,而换料大修工期有严格要求。一般来说换料大修期间会提供2-3天的试验窗口,所有试验项目大约200项内容需在此期间全部完成,对响应时间测试的效率有相当高的要求,因此需要提高响应时间测试的自动化程度。

在过去的保护系统响应时间测试过程中,通常使用信号发生器、示波器等台式仪器仪表进行测试,其测试效率低,劳动强度大,这种测试方式已不再适用于当前数字化仪控系统的需求,同时也容易造成人因事件的发生。



技术实现要素:

本发明要解决的技术问题是响应时间计时精度差的问题,响应时间测试效率低的问题,响应时间测试装置集成度低的问题,响应时间测试数据管理的问题。

为了解决上述技术问题,本发明的技术方案是提供了一种基于fpga技术的自动响应时间测试方案,其特征在于:包括机箱、转接箱、高密度连接器和电源模块,其中机箱包括控制器、模拟量和数字量i/o模块、fpga模块,其中控制器用于实现响应时间测试的软件;i/o模块用于模拟保护系统的输入、以及接收保护系统的输出;fpga模块为计时模块、实现响应时间计时功能,响应时间测试基于fpga技术,开始计时信号基于机箱的同步触发总线技术,不同电压等级的转换基于光耦模块实现,所有与测试装置相关的数据通过数据库进行管理,整个测试系统高度集成度高。

其中,计时模块由fpga卡件开发,基于fpga卡开发的计时模块具有高集成度的计时通道。

其中,计时模块的时钟基准来自fpga卡本身自带的时钟源-晶振。

其中,fpga使用不高于5vdc的输入信号,保护系统数字量输出是24vdc或48vdc,因此为满足fpga的输入信号电压等级要求,光耦模块将保护系统的高电压输入信号转换成fpga可接收的低电压信号。

其中,使用了基于pxi总线技术的机箱,将系统所需的控制器、i/o卡和计时模块均集成在一个机箱内或扩展后的少量机箱内,实现一个高度集成的测试系统。

其中,为精确记录机箱内i/o卡件输出信号的时间,机箱内采用同步触发总线技术,i/o卡件输出信号的同时向计时模块发送一个开始计时信号,该触发总线同步精度可达微秒级。利用基于pxi总线技术的测试机箱,具有机箱内卡件同步触发的功能。

其中,响应时间测试的软件部分是基于ni的labview平台及其fpga软件开发包完成,响应时间测量部分使用fpga软件开发包对fpga卡进行二次开发,最终的响应时间测试软件使用labview开发,并将fpga程序集成到整个测试软件中。

其中,所有后台测试数据的管理基于数据库进行管理,包括系统硬件配置信号、测试规程管理、测试结果的记录等。

其中,测试软件分为三层结构。第一层为主程序层承担人机接口的功能;第二层为测试层,该层程序负责对测试信号进行数据处理,向第一层提供人机接口信息,向第三层程序发送输出信号的请求,接收第三层程序的输入信号。第三层为驱动层,该层负责驱动硬件板卡按照上层逻辑给出的信号发送给保护系统,以及接收保护系统的输出信号。

本发明优点在于:

1.利用fpga芯片逻辑可定制的技术特点,将fpga芯片的输入管脚设计为计时开始信号和计时结束信号的输入端。

2.利用fpga卡的晶振作为标准的计时信号源,该晶振除作为fpga芯片逻辑处理的时钟外,还通过fpga芯片逻辑处理后作为计时功能的标准的计时信号源。

3.利用pxi总线的同步触发功能,确保fpga芯片能够精确采集到开始计时信号。

附图说明

图1是保护系统响应时间测试装置系统结构图;

图2是sac系统结构图;

图3是sac硬件结构图;

图4是模块间连接示意图;

图5是信号传输图;

图6是连接示意图;

图7是测试软件主页。

具体实施方式

为使本发明更明显易懂,兹以优选实施例,并配合附图作详细说明如下。

实施例

如图1所示,针对核电站反应堆保护系统的基于fpga(现场可编程逻辑门阵列)技术的自动响应时间测试方案的具体实施方式,其中sac(信号仿真与采集机柜)实现响应时间测试功能,icc(跨序列通信机柜)实现与保护系统的通信接口,本专利涉及的内容是sac部分。sac主要包括nipxi机箱、plug-in机箱(现场转接箱)、vpc模块(高密度连接器)和ups模块等组成。其中pxi基箱由控制器、模拟量和数字量i/o模块、fpga模块组成,其中控制器用于实现响应时间测试的软件;i/o模块用于模拟保护系统的输入,以及接收保护系统的输出;fpga模块用于实现响应时间计时功能。plug-in机箱用于实现pxi机箱的i/o信号和fpga模块计时信号的转接,将信号集中转接到vpc模块上,便于与现场连接。vpc模块用于测试机柜与保护系统现场连接。ups模块确保意外断电后能够提供只够的时间保存已有的测试数据。

如图2所示,sac的总体结构图,triggerbus总线作为机箱的同步触发总线,保证在i/o模块触发输出变化时,同步将该触发信号发送至fpga模块(计时卡),使fpga模块开始计时。pxi机箱的每一个模块对应plug-in机箱一个或多个信号转接卡,其中fpga计时转接卡需通过光耦(或其他降压模块)将外部输入的电压降至5vdc,以保证fpga卡能够正常接收。

本方案在软件开发过程中,为使fpga模块具备计时功能,需进行二次开发,时钟源使用fpga模块自带的时钟源,精度高,例如使用nipxie-7822的时钟频率能达到40mhz。在fpga模块二次开发后,将fpga的布局布线文件刷新到fpga模块中,此时基于labview开发的主程序可以将该fpga模块作为计时卡使用。



技术特征:

1.一种基于fpga技术的自动响应时间测试方案,其特征在于:包括机箱、转接箱、高密度连接器和电源模块,其中机箱包括控制器、模拟量和数字量i/o模块、fpga模块,其中控制器用于实现响应时间测试的软件;i/o模块用于模拟保护系统的输入、以及接收保护系统的输出;fpga模块为计时模块、实现响应时间计时功能,响应时间测试基于fpga技术,开始计时信号基于机箱的同步触发总线技术,不同电压等级的转换基于光耦模块实现,所有与测试装置相关的数据通过数据库进行管理,整个测试系统高度集成度高。

2.根据权利要求1所述的基于fpga技术的自动响应时间测试方案,其特征在于:计时模块由fpga卡件开发,基于fpga卡开发的计时模块具有高集成度的计时通道。

3.根据权利要求2所述的基于fpga技术的自动响应时间测试方案,其特征在于:计时模块的时钟基准来自fpga卡本身自带的时钟源-晶振。

4.根据权利要求3所述的基于fpga技术的自动响应时间测试方案,其特征在于:fpga使用不高于5vdc的输入信号,保护系统数字量输出是24vdc或48vdc,因此为满足fpga的输入信号电压等级要求,光耦模块将保护系统的高电压输入信号转换成fpga可接收的低电压信号。

5.根据权利要求4所述的基于fpga技术的自动响应时间测试技术,其特征在于:使用了基于pxi总线技术的机箱,将系统所需的控制器、i/o卡和计时模块均集成在一个机箱内或扩展后的少量机箱内,实现一个高度集成的测试系统。

6.根据权利要求5所述的基于fpga技术的自动响应时间测试方案,其特征在于:为精确记录机箱内i/o卡件输出信号的时间,机箱内采用同步触发总线技术,i/o卡件输出信号的同时向计时模块发送一个开始计时信号,该触发总线同步精度可达微秒级,利用基于pxi总线技术的测试机箱,具有机箱内卡件同步触发的功能。

7.根据权利要求6所述的基于fpga技术的自动响应时间测试方案,其特征在于:响应时间测试的软件部分是基于ni的labview平台及其fpga软件开发包完成,响应时间测量部分使用fpga软件开发包对fpga卡进行二次开发,最终的响应时间测试软件使用labview开发,并将fpga程序集成到整个测试软件中。

8.根据权利要求7所述的基于fpga技术的自动响应时间测试方案,其特征在于:所有后台测试数据的管理基于数据库进行管理,包括系统硬件配置信号、测试规程管理、测试结果的记录等。

9.根据权利要求8所述的基于fpga技术的自动响应时间测试方案,其特征在于:测试软件分为三层结构,第一层为主程序层承担人机接口的功能;第二层为测试层,该层程序负责对测试信号进行数据处理,向第一层提供人机接口信息,向第三层程序发送输出信号的请求,接收第三层程序的输入信号;第三层为驱动层,该层负责驱动硬件板卡按照上层逻辑给出的信号发送给保护系统,以及接收保护系统的输出信号。


技术总结
本发明公开了一种基于FPGA技术的自动响应时间测试方案,主要针对核电站反应堆保护系统的响应时间测试,包括模拟保护系统的I/O输入,接收保护系统的I/O输出,计算从I/O输入变化到I/O输出变化的响应时间。本专利采用高度集成的信号输入输出模块和计时模块,做到了适用于现场狭小环境的使用要求。本专利的计时模块基于FPGA技术,利用FPGA卡的高频时钟源作为计时基准,因此其响应时间精度可达到微秒级,同时FPGA卡有通道密度大的特点,能够大大提高系统的集成度以及测试的效率。

技术研发人员:高奇峰;黄焜;王翔宇;李建伟;赵瑜龙;刘辰星;刘哲明;聂森;范昌;黄德祎;蒋鹏;霍学华;阚睿;朱立志;杨颖;宋宜毅;刘彪;陈斌;李灵燚;王又文;陈星宇
受保护的技术使用者:山东核电有限公司;国核自仪系统工程有限公司
技术研发日:2020.12.14
技术公布日:2021.04.09
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