一种半导体测试探针的制作方法

本实用新型涉及测试探针设备技术领域，尤其涉及一种半导体测试探针。

背景技术：

随着科技的发展，消费者不断地朝着电子产品小巧、轻薄的方向发展，随之对于电子产品的性能检测要求也越来越高，探针已被广泛应用于仪表和测试行业中，是精密测量电阻或者其他电信号最常用的采样手段。

现有的探针由于本身体积过小，在使用后的收容管理以及保存上带来一定的难度，保存不当将直接影响二次测试结果，现有的装置必须用双手操作，操作极为不便，大大影响了探针的测试效率。

技术实现要素：

本实用新型的目的是为了解决现有技术中使用后不便保存、操作不便的缺陷，从而提出一种半导体测试探针。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种半导体测试探针，包括保护套和调节板，所述调节板位于保护套内，所述调节板中心处转动连接有转杆，所述转杆下端向下贯穿调节板固定连接有第一斜齿轮，且转杆上端向上贯穿保护套上侧壁设置，所述保护套上侧壁螺纹连接有调节螺栓，所述调节螺栓向下贯穿保护套上侧壁与调节板上侧壁转动连接，所述调节板下侧壁两端对称设置有固定板，每个所述固定板远离保护套的一侧均转动连接有对应的丝杆，所述丝杆远离固定板的一端固定设置有与第一斜齿轮啮合的第二斜齿轮，且丝杆上螺纹连接有对应的移动螺母，所述移动螺母下侧壁固定设置有连接片，所述连接片下侧壁设置有对应的探针，所述保护套下侧壁设置有与探针对应的条型开口，所述探针向下贯穿条型开口设置，且保护套下侧外壁螺纹连接有螺纹套。

优选地,所述调节螺栓上设置有分布均匀的刻度线。

优选地，所述保护套采用透明塑料制作而成。

优选地，每个所述移动螺母上侧壁均设置有对应的限位杆，且调节板上设置有与限位杆匹配的限位槽。

优选地，所述第一斜齿轮上设置有防滑纹。

本实用新型的有益效果是：通过在第一斜齿轮上设置防滑纹，是为了避免转动转杆调节两个探针之间的间距的时候第一斜齿轮与第二斜齿轮之间发生滑动，影响操作的正常进行，通过保护套和螺纹套的设置，不用时可以将螺纹套与保护套螺纹拧接，避免外界的灰尘通过条型开口进入保护套内污染探针，影响探针的二次使用，调节螺栓和转杆的设置，可以实现探针间距和伸出长度的调节，操作简便，提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种半导体测试探针的结构示意图；

图2为图1中a处的放大图；

图3为本实用新型提出的一种半导体测试探针的螺纹套与保护套配合结构示意图。

图中：1保护套、2调节板、3调节螺栓、4转杆、5丝杆、6移动螺母、7连接片、8探针、9条型开口、10螺纹套、11第一斜齿轮、12第二斜齿轮。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-3，一种半导体测试探针，包括保护套1和调节板2，调节板2位于保护套1内，保护套1采用透明塑料制作而成，该透明材料可由透光性好、耐热耐寒、性价比高的pc塑料制作而成，采用透明材料作为制作保护套1的原料，使用者可以直接观察保护套1内探针8的间距，从而确保探针8与元器件引脚连接准确，调节板2中心处转动连接有转杆4，转杆4下端向下贯穿调节板2固定连接有第一斜齿轮11，第一斜齿轮11上设置有防滑纹，通过在第一斜齿轮11上设置防滑纹，是为了避免转动转杆4调节两个探针8之间的间距的时候第一斜齿轮11与第二斜齿轮12之间发生滑动，影响操作的正常进行，且转杆4上端向上贯穿保护套1上侧壁设置，保护套1上侧壁螺纹连接有调节螺栓3，调节螺栓3上设置有分布均匀的刻度线，通过刻度线的设置可以清楚的知晓探针8的伸出长度，调节螺栓3向下贯穿保护套1上侧壁与调节板2上侧壁转动连接；

调节板2下侧壁两端对称设置有固定板，每个固定板远离保护套1的一侧均转动连接有对应的丝杆5，丝杆5远离固定板的一端固定设置有与第一斜齿轮11啮合的第二斜齿轮12，且丝杆5上螺纹连接有对应的移动螺母6，每个移动螺母6上侧壁均设置有对应的限位杆，且调节板2上设置有与限位杆匹配的限位槽，通过限位杆与限位槽的设置对移动螺母6转动进行限位，与条型开口9配合在一起，确保探针8只能随着转杆4的转动彼此靠近或偏移，移动螺母6下侧壁固定设置有连接片7，连接片7下侧壁设置有对应的探针8，保护套1下侧壁设置有与探针8对应的条型开口9，探针8向下贯穿条型开口9设置，且保护套1下侧外壁螺纹连接有螺纹套10，不用时可以将螺纹套10与保护套1螺纹拧接，避免外界的灰尘通过条型开口9进入保护套1内污染探针8，影响探针8的二次测量结果。

本实用新型中，首先转动转杆4，固定设置在转杆4下端的第一斜齿轮11随之带动与其啮合的第二斜齿轮12转动，丝杆5随之转动，与丝杆5螺纹连接的移动螺母6随之在丝杆5上移动，通过连接片7与移动螺母6固定连接的探针8随之移动，从而实现两个探针8间距的调整，然后拧紧调节螺栓3，随着调节螺栓3的拧紧，因为调节螺栓3与保护套1上侧壁螺纹连接，且调节螺栓3与调节板2上侧壁转动连接，在转杆4的限位作用下，调节板2随之下移，从而带动探针8伸出条型开口9，控制探针8对准元器件引脚，便可开始测试，测试结束以后，拧松调节螺栓3，带动调节板2和探针8收缩进保护套1内，拧紧与保护套1螺纹连接的螺纹套10便可对保护套1内的探针8进行保护。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

技术特征：

1.一种半导体测试探针，包括保护套(1)和调节板(2)，所述调节板(2)位于保护套(1)内，其特征在于，所述调节板(2)中心处转动连接有转杆(4)，所述转杆(4)下端向下贯穿调节板(2)固定连接有第一斜齿轮(11)，且转杆(4)上端向上贯穿保护套(1)上侧壁设置，所述保护套(1)上侧壁螺纹连接有调节螺栓(3)，所述调节螺栓(3)向下贯穿保护套(1)上侧壁与调节板(2)上侧壁转动连接，所述调节板(2)下侧壁两端对称设置有固定板，每个所述固定板远离保护套(1)的一侧均转动连接有对应的丝杆(5)，所述丝杆(5)远离固定板的一端固定设置有与第一斜齿轮(11)啮合的第二斜齿轮(12)，且丝杆(5)上螺纹连接有对应的移动螺母(6)，所述移动螺母(6)下侧壁固定设置有连接片(7)，所述连接片(7)下侧壁设置有对应的探针(8)，所述保护套(1)下侧壁设置有与探针(8)对应的条型开口(9)，所述探针(8)向下贯穿条型开口(9)设置，且保护套(1)下侧外壁螺纹连接有螺纹套(10)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试探针，其特征在于,所述调节螺栓(3)上设置有分布均匀的刻度线。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试探针，其特征在于，所述保护套(1)采用透明塑料制作而成。

4.根据权利要求1所述的一种半导体测试探针，其特征在于，每个所述移动螺母(6)上侧壁均设置有对应的限位杆，且调节板(2)上设置有与限位杆匹配的限位槽。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试探针，其特征在于，所述第一斜齿轮(11)上设置有防滑纹。

技术总结
本实用新型公开了一种半导体测试探针，包括保护套和调节板，所述调节板位于保护套内，所述调节板中心处转动连接有转杆，所述转杆下端向下贯穿调节板固定连接有第一斜齿轮，且转杆上端向上贯穿保护套上侧壁设置，所述保护套上侧壁螺纹连接有调节螺栓，所述调节螺栓向下贯穿保护套上侧壁与调节板上侧壁转动连接，所述调节板下侧壁两端对称设置有固定板，每个所述固定板远离保护套的一侧均转动连接有对应的丝杆，所述丝杆远离固定板的一端固定设置有与第一斜齿轮啮合的第二斜齿轮，且丝杆上螺纹连接有对应的移动螺母。本实用新型操作简便，测试效率高，使用过后方便保存，避免空气中的灰尘污染探针，保证了探针能够二次正常使用。

技术研发人员：李越
受保护的技术使用者：西安和光明宸科技有限公司
技术研发日：2020.05.18
技术公布日：2021.03.16