一种电容漏电流批量测试装置的制作方法

本实用新型涉及电容检测技术领域，特别是涉及一种电容漏电流批量测试装置。

背景技术：

为了提高测试效率，在批量生产的电容漏电流测试中，通常对多个电容同时充电，然后对充好电的电容进行漏电流测试。现有技术中，由直流电源串联一个固定限流电阻构成回路，从而实现多路电容的充电。采用这种方式，充电电流的峰值由串联的限流电阻和充电电压决定。由于限流电阻为固定值，实际充电电流的峰值由充电电压决定。在现有测量装置中，将固定限流电阻用于各种需要不同充电电压的电容测试中，容易施加较高的电压，从而导致电容充电电流也较高；施加的电压较低，从而导致电容充电电流也较低。

在钽电容及铝电容行业，现有由导电高分子材料构成电容电极的新型电容，这种电容耐受充电电流的能力较强，可以在测试时施加较高的充电电流。但是在钽电容行业，还有用二氧化锰制作电极材料的产品，这种电容在充电时，不能耐受较高的充电电流，需要采用比高分子电容材料更低的充电电流。另外，还有低压大容量的电容，在测试时该电容需要相对较高的充电电流，以减少充电时间，提高充电效率。以上这些需求，均需要在同样的充电电压下，采用不同的充电电流，而且在低电压下，可能需要更高的充电电流。这些需求，是现有技术的测试装置不能满足的。

技术实现要素：

本实用新型的一个目的是要提供一种电容漏电流批量测试装置，提高了装置在不同电容漏电流测试的适用性，扩大了适用范围。

特别地，本实用新型提供了一种电容漏电流批量测试装置，包括：电源、由并联的多个待测电容电路构成的阵列；所述阵列的高电平端与电源连接，所述阵列的低电平端接地；一个待测电容电路包括串联的待测电容、可调节的限流装置、漏电流测试装置。

优选的，所述限流装置为可程序调整电流值的恒流源。

优选的，所述限流装置为具有多个并联的恒流二极管电路的装置，每一个恒流二极管电路均设置有一个选通开关。

优选的，所述限流装置为具有多个并联的电阻电路的装置，每一个电阻电路均设置有一个选通开关。

优选的，所述阵列从高电平端至低电平端串联的元器件分别为：所述待测电容、所述限流装置、所述漏电流测试装置。

优选的，所述阵列从高电平端至低电平端串联的元器件分别为：所述限流装置、所述漏电流测试装置、所述待测电容。

本实用新型的电容漏电流批量测试装置，由于在电路中采用可调节的限流装置，使得充电电流的峰值可独立调整，不需要由充电电压决定，从而可以满足较大范围的电容充电及测试需求。本实用新型的装置可用于钽电解电容、铝电解电容的多路漏电流测试机上，也可用于陶瓷电容、薄膜电容及其它各种类型电容的多路漏电流测试机上。

根据下文结合附图对本实用新型具体实施例的详细描述，本领域技术人员将会更加明了本实用新型的上述以及其他目的、优点和特征。

附图说明

后文将参照附图以示例性而非限制性的方式详细描述本实用新型的一些具体实施例。附图中相同的附图标记标示了相同或类似的部件或部分。本领域技术人员应该理解，这些附图未必是按比例绘制的。附图中：

图1是将可调节的限流装置串联在电容的低压端和接地端之间的示意图；

图2是将可调节的限流装置串联在电容的高压端和电源之间的示意图；

图3是图1所示实施例中，限流装置为具有多个并联的恒流二极管电路的示意图；

图4是图1所示实施例中，限流装置为具有多个并联的电阻电路的示意图。

具体实施方式

如图1和图2所示，本实用新型的电容漏电流批量测试装置，其电路中具有由并联的多个待测电容电路构成的阵列。阵列具有高电平端和低电平端。图1和图2中，阵列的高电平端与电源连接，所述阵列的低电平端接地。电源为充电电源，并受到微机程序控制，简称程控电源。

在图1中，阵列从高电平端至低电平端串联的元器件分别为：待测电容、可调节的限流装置、漏电流测试装置。电源与电容、限流装置、漏电流测量装置构成了一个电容充电及测漏电流回路。

在图2中，阵列从高电平端至低电平端串联的元器件分别为：可调节的限流装置、漏电流测试装置、待测电容。电源与可调节的限流装置、漏电流测量装置、待测电容构成了一个电容充电及测漏电流回路。

在任意一路待测电容电路中，待测电容、可调节的限流装置、漏电流测试装置相串联。在电路中，待测电容的充电电流受到限流装置的控制。限流装置可以是图1和图2所示的可程序调整电流值的恒流源，使充电电流峰值可独立调整，不需要由充电电压决定，可以满足较大范围的电容充电及测试需求。

限流装置也可以是图3所示的具有多个并联的恒流二极管电路的装置，每一个恒流二极管电路均设置有一个选通开关。当不同的选通开关、不同个数的选通开关接通后，二极管电路的总恒流值发生变化，从而满足一定范围的电容充电及测量漏电流的需求。

限流装置也可以是图4所示的具有多个并联的电阻电路的装置，每一个电阻电路均设置有一个选通开关。当不同的选通开关、不同个数的选通开关接通后，电阻电路的总阻值发生变化，从而满足一定范围的充电电流需求。

在其他实施例中，待测电容的测试可以分为两个阶段：预充电阶段、测试阶段。在预充电阶段，待测电容设置在预充电电路中。预充电电路设置有：电源、可调节的限流装置。在测试阶段，充好电的待测电容接入测试电路中。测试电路设置有：电源、漏电流测量装置。因此，将预充电电路和测试电路结合，并列的多个电容组成的阵列中，每个电容先经过预充电，再到有测试电路处(也可以称为有测量功能的充电电路)进行充电保持下的漏电流测量。通常，预充电电流远大于电容的漏电流。

综上，由于在电路中采用可调节的限流装置，使得充电电流的峰值可独立调整，不需要由充电电压决定，从而可以满足较大范围的电容充电及测试需求。本实用新型的装置可用于钽电解电容、铝电解电容的多路漏电流测试机上，也可用于陶瓷电容、薄膜电容及其它各种类型电容的多路漏电流测试机上。

至此，本领域技术人员应认识到，虽然本文已详尽示出和描述了本实用新型的多个示例性实施例，但是，在不脱离本实用新型精神和范围的情况下，仍可根据本实用新型公开的内容直接确定或推导出符合本实用新型原理的许多其他变型或修改。因此，本实用新型的范围应被理解和认定为覆盖了所有这些其他变型或修改。

技术特征：

1.一种电容漏电流批量测试装置，其特征在于，包括：电源、由并联的多个待测电容电路构成的阵列；所述阵列的高电平端与电源连接，所述阵列的低电平端接地；一个待测电容电路包括串联的待测电容、可调节的限流装置、漏电流测试装置。

2.根据权利要求1所述的一种电容漏电流批量测试装置，其特征在于，所述限流装置为可程序调整电流值的恒流源。

3.根据权利要求1所述的一种电容漏电流批量测试装置，其特征在于，所述限流装置为具有多个并联的恒流二极管电路的装置，每一个恒流二极管电路均设置有一个选通开关。

4.根据权利要求1所述的一种电容漏电流批量测试装置，其特征在于，所述限流装置为具有多个并联的电阻电路的装置，每一个电阻电路均设置有一个选通开关。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的电容漏电流批量测试装置，其特征在于，所述阵列从高电平端至低电平端串联的元器件分别为：所述待测电容、所述限流装置、所述漏电流测试装置。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的电容漏电流批量测试装置，其特征在于，所述阵列从高电平端至低电平端串联的元器件分别为：所述限流装置、所述漏电流测试装置、所述待测电容。

技术总结
本实用新型提供了一种电容漏电流批量测试装置，包括：电源、由并联的多个待测电容电路构成的阵列；阵列的高电平端与电源连接，阵列的低电平端接地；一个待测电容电路包括串联的待测电容、可调节的限流装置、漏电流测试装置。本装置提高了在不同电容漏电流测试的适用性，扩大了适用范围，可用于钽电解电容、铝电解电容的多路漏电流测试机上，也可用于陶瓷电容、薄膜电容及其它各种类型电容的多路漏电流测试机上。

技术研发人员：高敬一;杨晔
受保护的技术使用者：江苏伊施德创新科技有限公司
技术研发日：2020.08.13
技术公布日：2021.06.29