一种芯片加工用检测装置的制作方法

本实用新型涉及芯片加工技术领域，具体为一种芯片加工用检测装置。

背景技术：

芯片加工用检测装置是一种用于芯片加工过程中对成品质量进行检测的装置，且现有的检测装置在对芯片检测时，芯片都是放在检测台上进行检测，检测过程中，芯片容易移位，导致芯片的检测数据不准确。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种芯片加工用检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片加工用检测装置，包括检测头和检测台，检测头下方设置有检测台，检测台顶部设置有支撑架，检测台的底部设置有底座，检测头顶部设置有检测设备，检测设备顶部设置有水平的调节箱，调节箱顶部与伸缩气缸的活塞杆一端相连接，且伸缩气缸设置在支撑架上；检测台的顶部两端对称设置有压紧结构，压紧结构包括连接架，连接架上连接有竖向的第二丝杆，第二丝杆上连接有第二螺母，第二螺母一侧连接有水平的伸缩管，伸缩管另一端连接有竖向的连接杆，连接杆的底端设置有水平的压紧板，第二丝杆的上下两端均设置有连接轴，且第二丝杆上端的连接轴连接有转动盘。

优选的，调节箱内设置有水平的第一丝杆，第一丝杆的左右两端均设置有连接轴，且第一丝杆一端的连接轴连接有转动盘，第一丝杆上连接有第一螺母，第一螺母底部设置有第一滑块，第一滑块的底部连接在检测设备上，调节箱的底板上设置有与第一滑块滑动连接的第一滑槽。

优选的，支撑架上设置有竖向的第二滑槽，第二滑槽内滑动连接有第二滑块，且第二滑块连接在调节箱的外侧壁上。

优选的，连接架为u形结构，且连接架上设置有竖向的第三滑槽，第三滑槽内滑动连接有第三滑块，第三滑块连接在第二螺母的一侧。

优选的，支撑架上设置有与伸缩气缸的活塞杆连接的通孔。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：通过压紧结构对检测台上的芯片的两端进行压紧，防止芯片移位，方便检测头对其进行检测，通过伸缩管的伸缩调整压紧板的位置，方便对不同宽度的芯片进行压紧；调节箱内的丝杆转动，螺母带动滑块在滑槽内滑动，对检测设备和检测头进行调整位置，给检测工作带来便利，检测头通过伸缩气缸进行调整高度。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的支撑架侧面剖视图；

图3为本实用新型的调节箱内部示意图；

图4为本实用新型的压紧结构示意图。

图中：1、检测头；2、检测台；3、支撑架；4、底座；5、检测设备；6、伸缩气缸；7、调节箱；71、第一丝杆；72、第一螺母；73、第一滑槽；74、第一滑块；8、第二滑槽；9、压紧结构；91、连接架；92、第二丝杆；93、第二螺母；94、伸缩管；95、压紧板；96、连接杆；97、第三滑槽；98、第三滑块；10、第二滑块；11、转动盘。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“竖直”、“上”、“下”、“水平”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种芯片加工用检测装置，包括检测头1和检测台2，检测头1下方设置有检测台2，检测台2顶部设置有支撑架3，检测台2的底部设置有底座4，检测头1顶部设置有检测设备5，检测设备5顶部设置有水平的调节箱7，调节箱7顶部与伸缩气缸6的活塞杆一端相连接，且伸缩气缸6设置在支撑架3上；检测台2的顶部两端对称设置有压紧结构9，压紧结构9包括连接架91，连接架91上连接有竖向的第二丝杆92，第二丝杆92上连接有第二螺母93，第二螺母93一侧连接有水平的伸缩管94，伸缩管94另一端连接有竖向的连接杆96，连接杆96的底端设置有水平的压紧板95，第二丝杆92的上下两端均设置有连接轴，且第二丝杆92上端的连接轴连接有转动盘11。

调节箱7内设置有水平的第一丝杆71，第一丝杆71的左右两端均设置有连接轴，且第一丝杆71一端的连接轴连接有转动盘11，第一丝杆71上连接有第一螺母72，第一螺母72底部设置有第一滑块74，第一滑块74的底部连接在检测设备5上，调节箱7的底板上设置有与第一滑块74滑动连接的第一滑槽73。

支撑架3上设置有竖向的第二滑槽8，第二滑槽8内滑动连接有第二滑块10，且第二滑块10连接在调节箱7的外侧壁上。

连接架91为u形结构，且连接架91上设置有竖向的第三滑槽97，第三滑槽97内滑动连接有第三滑块98，第三滑块98连接在第二螺母93的一侧。

支撑架3上设置有与伸缩气缸6的活塞杆连接的通孔。

工作原理：使用时，将芯片放在检测台2上，根据芯片的宽度，拉动伸缩管94，调整压紧板95的位置，然后通过转动盘11带动第二丝杆92转动，第二螺母93开始上下移动，带动伸缩管94移动，压紧板95对芯片进行压紧，伸缩气缸6工作，活塞杆推动调节箱6和检测设备5下降，第二滑块10在第二滑槽8内滑动，直至检测头1接触芯片，根据检测位置，手动带动转动盘11转动，带动第一丝杆71转动，第一螺母72开始左右移动，带动第一滑块74在第一滑槽73内滑动连接，带动检测设备5和检测头1移动，对芯片进行检测。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：

1.一种芯片加工用检测装置，包括检测头(1)和检测台(2)，其特征在于：检测头(1)下方设置有检测台(2)，检测台(2)顶部设置有支撑架(3)，检测台(2)的底部设置有底座(4)，检测头(1)顶部设置有检测设备(5)，检测设备(5)顶部设置有水平的调节箱(7)，调节箱(7)顶部与伸缩气缸(6)的活塞杆一端相连接，且伸缩气缸(6)设置在支撑架(3)上；检测台(2)的顶部两端对称设置有压紧结构(9)，压紧结构(9)包括连接架(91)，连接架(91)上连接有竖向的第二丝杆(92)，第二丝杆(92)上连接有第二螺母(93)，第二螺母(93)一侧连接有水平的伸缩管(94)，伸缩管(94)另一端连接有竖向的连接杆(96)，连接杆(96)的底端设置有水平的压紧板(95)，第二丝杆(92)的上下两端均设置有连接轴，且第二丝杆(92)上端的连接轴连接有转动盘(11)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于：调节箱(7)内设置有水平的第一丝杆(71)，第一丝杆(71)的左右两端均设置有连接轴，且第一丝杆(71)一端的连接轴连接有转动盘(11)，第一丝杆(71)上连接有第一螺母(72)，第一螺母(72)底部设置有第一滑块(74)，第一滑块(74)的底部连接在检测设备(5)上，调节箱(7)的底板上设置有与第一滑块(74)滑动连接的第一滑槽(73)。

3.根据权利要求1所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于：支撑架(3)上设置有竖向的第二滑槽(8)，第二滑槽(8)内滑动连接有第二滑块(10)，且第二滑块(10)连接在调节箱(7)的外侧壁上。

4.根据权利要求1所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于：连接架(91)为u形结构，且连接架(91)上设置有竖向的第三滑槽(97)，第三滑槽(97)内滑动连接有第三滑块(98)，第三滑块(98)连接在第二螺母(93)的一侧。

5.根据权利要求1所述的一种芯片加工用检测装置，其特征在于：支撑架(3)上设置有与伸缩气缸(6)的活塞杆连接的通孔。

技术总结
本实用新型涉及芯片加工技术领域，具体公开了一种芯片加工用检测装置，包括检测头和检测台，检测头下方设置有检测台，检测台顶部设置有支撑架，检测台的底部设置有底座，检测头顶部设置有检测设备，检测设备顶部设置有水平的调节箱，调节箱顶部与伸缩气缸的活塞杆一端相连接，且伸缩气缸设置在支撑架上；检测台的顶部两端对称设置有压紧结构，压紧结构包括连接架，连接架上连接有竖向的第二丝杆，第二丝杆上连接有第二螺母，第二螺母一侧连接有水平的伸缩管，伸缩管另一端连接有竖向的连接杆，连接杆的底端设置有水平的压紧板，通过压紧结构对检测台上的芯片的两端进行压紧，防止芯片移位，方便检测头对其进行检测。

技术研发人员：李申学;刘平
受保护的技术使用者：深圳市鑫德源科技有限公司
技术研发日：2020.08.24
技术公布日：2021.03.12