一种样品温度可调式荧光光谱仪样品台

本实用新型涉及荧光光谱仪技术领域，尤其涉及一种样品温度可调式荧光光谱仪样品台。

背景技术：

荧光光谱仪被用于测量半导体的光致发光谱，荧光光谱仪中需要使用样品台来夹持半导体样品，现有的荧光光谱仪样品台仅仅包括底座和固定杆，使用时转动固定杆将样品夹在底座上的挡板和固定杆端部之间，功能较为简单，只能测量半导体在常温下的半导体光致发光谱，这使得荧光光谱仪的使用范围较窄。

技术实现要素：

为了解决以上现有技术的缺点和不足之处，本实用新型的目的是提供一种样品温度可调式荧光光谱仪样品台。

本实用新型的技术方案是：一种样品温度可调式荧光光谱仪样品台，包括：

底座；

固定杆，所述固定杆连接在底座上；

还包括：

安装槽，所述安装槽开设在固定杆的样品端；

控制器；

红外灯，所述红外灯设置在安装槽内，红外灯与控制器电连接；

调节旋钮，所述调节旋钮与控制器电连接。

进一步地，所述安装槽为三维抛物面，三维抛物面的中轴线与固定杆中轴线重合，安装槽内表面涂有反光层，红外灯固定连接在三维抛物面的焦点上。

进一步地，还包括：

固定槽，所述固定槽开设在固定杆的样品端，固定槽与安装槽同轴，固定槽直径大于安装槽在样品端端面上的直径；

散光板，所述散光板为透明玻璃，散光板表面磨砂，散光板与固定槽相匹配，散光板安装在固定槽上。

进一步地，还包括：

橡胶垫层，所述橡胶垫层设置在散光板与固定槽底面之间；

橡胶气囊；

连通管，所述连通管一端连通安装槽，连通管另一端连通橡胶气囊；

气阀，所述气阀与橡胶气囊连通。

本实用新型的有益效果是：与现有技术相比，

1）本实用新型通过红外灯发出的红外辐射照射到半导体样品上，使半导体样品升温，通过调节旋钮向控制器发送控制信号，控制器根据控制信号控制红外灯的输出功率，从而改变半导体样品上的温度，达到使荧光光谱仪测量半导体的光致发光光谱的温度范围更广，使荧光光谱仪的使用范围更宽；

2）本实用新型通过将安装槽设为三维抛物面，在三维抛物面上涂有反光层，并且将红外灯安装在三维抛物面的焦点上，使得照射到半导体样品上的红外光为平行光并且更加均匀；

3）本实用新型通过散光板将红外灯发出的光散射均匀，从而使半导体样品上接收到的红外光更加均匀，使半导体各处温度均匀；

4）本实用新型通过橡胶垫层使得散光板将安装槽开口密闭，再通过橡胶气囊在自身弹性力的作用下将外界空气吸入橡胶气囊，接着将气阀关闭，通过手压橡胶气囊使安装槽内压强增大，通过气压将散光板打开，以便将损坏的红外灯拆卸更换。

附图说明

图1为本实用新型的立体视图；

图2为图1中c处的局部视图；

图3为本实用新型的爆炸视图；

图4为图3中d处的局部视图；

图5为本实用新型的固定杆的前视图；

图6为图5中a-a剖面线的剖视图。

图7为图6中b处的局部视图；

图8为本实用新型的电路连接框图。

具体实施方式

下面结合附图及具体的实施例对实用新型进行进一步介绍：

实施实例1：参考图1至图8，本实施例一种样品温度可调式荧光光谱仪样品台，包括：底座1；固定杆2，所述固定杆2连接在底座1上；还包括：安装槽2-1，所述安装槽2-1开设在固定杆2的样品端；控制器4；红外灯2-2，所述红外灯2-2设置在安装槽2-1内，红外灯2-2与控制器4导线连接；调节旋钮5，所述调节旋钮5与控制器4导线连接。这里的控制器4可以是plc、arduino或树莓派等带外围电路的控制组件。由于实验室内环境温度较为稳定，可预先测量样品温度的与红外灯2-2的输出功率的关系，然后通过检测红外灯2-2的输出功率的来确定样品温度。

进一步地，所述安装槽2-1为三维抛物面，三维抛物面的中轴线与固定杆2中轴线重合，安装槽2-1内表面涂有反光层，红外灯2-2通过灯座连接在三维抛物面的焦点上。

进一步地，还包括：固定槽2-6，所述固定槽2-6开设在固定杆2的样品端，固定槽2-6与安装槽2-1同轴，固定槽2-6直径大于安装槽2-1在样品端端面上的直径；散光板2-3，所述散光板2-3为透明玻璃，散光板2-3表面磨砂，散光板2-3与固定槽2-6相匹配，散光板2-3安装在固定槽2-6上。

进一步地，还包括：橡胶垫层2-4，所述橡胶垫层2-4设置在散光板2-3与固定槽2-6底面之间；橡胶气囊3；连通管2-5，所述连通管2-5一端连通安装槽2-1，连通管2-5另一端连通橡胶气囊3；气阀3-1，所述气阀3-1与橡胶气囊3连通。

本实用新型的优点是：

1）本实用新型通过红外灯2-2发出的红外辐射照射到半导体样品上，使半导体样品升温，通过调节旋钮5向控制器4发送控制信号，控制器4根据控制信号控制红外灯2-2的输出功率，从而改变半导体样品上的温度，达到使荧光光谱仪测量半导体的光致发光光谱的温度范围更广，使荧光光谱仪的使用范围更宽；

2）本实用新型通过将安装槽2-1设为三维抛物面，在三维抛物面上涂有反光层，并且将红外灯2-2安装在三维抛物面的焦点上，使得照射到半导体样品上的红外光为平行光并且更加均匀；

3）本实用新型通过散光板2-3将红外灯2-2发出的光散射均匀，从而使半导体样品上接收到的红外光更加均匀，使半导体各处温度均匀；

4）本实用新型通过橡胶垫层2-4使得散光板2-3将安装槽2-1开口密闭，再通过橡胶气囊3在自身弹性力的作用下将外界空气吸入橡胶气囊3，接着将气阀3-1关闭，通过手压橡胶气囊3使安装槽2-1内压强增大，通过气压将散光板2-3打开，以便将损坏的红外灯2-2拆卸更换。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。

技术特征：

1.一种样品温度可调式荧光光谱仪样品台，包括：

底座（1）；

固定杆（2），所述固定杆（2）连接在底座（1）上；

其特征在于，还包括：

安装槽（2-1），所述安装槽（2-1）开设在固定杆（2）的样品端；

控制器（4）；

红外灯（2-2），所述红外灯（2-2）设置在安装槽（2-1）内，红外灯（2-2）与控制器（4）电连接；

调节旋钮（5），所述调节旋钮（5）与控制器（4）电连接。

2.根据权利要求1所述样品温度可调式荧光光谱仪样品台，其特征在于，所述安装槽（2-1）为三维抛物面，三维抛物面的中轴线与固定杆（2）中轴线重合，安装槽（2-1）内表面涂有反光层，红外灯（2-2）固定连接在三维抛物面的焦点上。

3.根据权利要求2所述样品温度可调式荧光光谱仪样品台，其特征在于，还包括：

固定槽（2-6），所述固定槽（2-6）开设在固定杆（2）的样品端，固定槽（2-6）与安装槽（2-1）同轴，固定槽（2-6）直径大于安装槽（2-1）在样品端端面上的直径；

散光板（2-3），所述散光板（2-3）为透明玻璃，散光板（2-3）表面磨砂，散光板（2-3）与固定槽（2-6）相匹配，散光板（2-3）安装在固定槽（2-6）上。

4.根据权利要求3所述样品温度可调式荧光光谱仪样品台，其特征在于，还包括：

橡胶垫层（2-4），所述橡胶垫层（2-4）设置在散光板（2-3）与固定槽（2-6）底面之间；

橡胶气囊（3）；

连通管（2-5），所述连通管（2-5）一端连通安装槽（2-1），连通管（2-5）另一端连通橡胶气囊（3）；

气阀（3-1），所述气阀（3-1）与橡胶气囊（3）连通。

技术总结
本实用新型公开了一种样品温度可调式荧光光谱仪样品台，包括：底座；固定杆，所述固定杆连接在底座上；还包括：安装槽，所述安装槽开设在固定杆的样品端；控制器；红外灯，所述红外灯设置在安装槽内，红外灯与控制器电连接；调节旋钮，所述调节旋钮与控制器电连接。以解决现有技术只能测量半导体在常温下的半导体光致发光谱，使用范围较窄的问题。

技术研发人员：王一;王阳;宋家勇;郭祥;王继红;李军丽;杨晨;丁召
受保护的技术使用者：贵州大学
技术研发日：2020.11.03
技术公布日：2021.06.18