一种多通道电子元器件测试装置的制作方法

本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种多通道电子元器件测试装置。

背景技术：

一般多通道电子元器件有两个以上的相同的通道组成，较多的是4个通道，也有多的时候可能有16个通道，对一个多通道电子元器件的测试就要完成对每一个通道的相同功能的测试，频率较低(例如测试频率在1mhz以下的应用)时可以用继电器转换的方式完成各个通道的测试，当频率到达100mhz以上时，继电器的应用受到限制，因为继电器本身会产生一定的附加损耗，影响测试结果，要判定一个电子元器件的好坏有困难，如果频率上升到500mhz时，从根本上已经无法使用继电器来做通道之间的转换测试。这类情况下为了获得比较准确的测试结果，不使用继电器，而是将待测试的电子元器件移动，在测试治具上只设置一个通道的接触点，在实际测试中，只要移动待测试的产品对准测试治具上的测试位置，完成测试后，再移动下一个通道到测试治具同样位置，重复测试，直到测试完所有通道为止。

不用继电器这种测试的好处是测试精度高，但是测试效率低，因为在移动待测产品时，要每个通道的引脚对准测试治具上面的相应的位置比较费时间，也不一定能对准，这个不只是影响测试效率，也影响测试精度。

技术实现要素：

本实用新型提供了一种多通道电子元器件测试装置，包括测试治具本体，所述测试治具本体设有测试位，该多通道电子元器件测试装置还包括限位框，所述限位框与所述测试治具本体安装在一起，测试时，多通道电子元器件位于所述限位框一侧，实现所述多通道电子元器件的一个通道与所述测试位对准，所述限位框用于对所述多通道电子元器件的两个通道进行定位。

作为本实用新型的进一步改进，所述限位框为多个，多个所述限位框的尺寸不相同。

作为本实用新型的进一步改进，尺寸最大的限位框与所述测试治具本体固定相连，其他的限位框与所述测试治具本体活动连接。

作为本实用新型的进一步改进，多个所述限位框均与所述测试治具本体活动连接。

作为本实用新型的进一步改进，所述限位框包括第一限位框、第二限位框，所述第一限位框尺寸大于所述第二限位框尺寸。

作为本实用新型的进一步改进，所述第一限位框与所述测试治具本体固定相连，所述第二限位框与所述测试治具本体活动连接。

作为本实用新型的进一步改进，所述第一限位框用螺丝或胶水固定在所述测试治具本体上。

作为本实用新型的进一步改进，该多通道电子元器件测试装置还包括合页，所述第二限位框与所述测试治具本体通过所述合页相连。

本实用新型的有益效果是：本实用新型依靠机械定位，产品的外壳尺寸不变，通过限位框准确地完成对多通道电子元器件高精度的定位，使得测试效率提高，也使得大量生产有了可能，同时也是一种节约成本的测试。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的4通道电子元器件结构示意图；

图3是4通道电子元器件的第一通道测试示意图；

图4是4通道电子元器件的第四通道测试示意图；

图5是4通道电子元器件的第二通道测试示意图；

图6是4通道电子元器件的第三通道测试示意图；

图7是本实用新型的立体结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，本实用新型公开了一种多通道电子元器件测试装置，包括测试治具本体1，所述测试治具本体1设有测试位11，该多通道电子元器件测试装置还包括限位框，所述限位框与所述测试治具本体1安装在一起，测试时，多通道电子元器件2位于所述限位框一侧，实现所述多通道电子元器件2的一个通道与所述测试位11对准，所述限位框用于对所述多通道电子元器件2的两个通道进行定位。

该多通道电子元器件2，例如可以是多通道滤波器。

下面以4通道电子元器件测试为例进行说明，如图2所示，4通道电子元器件包括第一通道、第二通道、第三通道、第四通道。

所述限位框为多个，多个所述限位框的尺寸不相同，例如，所述限位框包括第一限位框31、第二限位框32，所述第一限位框31尺寸大于所述第二限位框32尺寸。

如图3所示，在第一限位框31安装在测试治具本体1上时，操作人员将产品(4通道电子元器件)拨动到最右边靠紧第一限位框31时，测试位11就会自动对准第一通道测试；如图4所示，将产品(4通道电子元器件)再次拨动到第一限位框31最左边时，测试位11就会自动对准第四通道测试。

第二限位框32比第一限位框31小一些，装上第二限位框32时，第一限位框31不需要移开，安装上第二限位框32后，操作人员将产品(4通道电子元器件)拨动到最右边靠紧第二限位框32时，测试位11就会自动对准第二通道测试，如图5所示；再次将产品(4通道电子元器件)拨动到第二限位框32最左边时，测试位11就会自动对准第三通道测试，如图6所示。

这样一个产品的四个通道都得到测试，完成一个测试，重复第二个产品的测试，接着循环测试多个产品。

如图7所示，所述第一限位框31与所述测试治具本体1固定相连，所述第二限位框32与所述测试治具本体1活动连接。例如，所述第一限位框31用螺丝或胶水固定在所述测试治具本体1上。该多通道电子元器件测试装置还包括合页5，所述第二限位框32与所述测试治具本体1通过所述合页5相连。测试第一、第四两个通道时打开第二限位框32，测试第二通道和第三通道时压下第二限位框32到测试治具本体1表面。

作为本实用新型的一个实施例，尺寸最大的限位框与所述测试治具本体1固定相连，其他的限位框与所述测试治具本体1活动连接。

作为本实用新型的另一个实施例，多个所述限位框均与所述测试治具本体1活动连接。

本实用新型可以对2通道电子元器件、4通道电子元器件、6通道电子元器件……16通道电子元器件等多通道电子元器件2进行测试。

本实用新型依靠机械定位，产品的外壳尺寸不变，通过限位框准确地完成对多通道电子元器件2高精度的定位，使得测试效率提高，也使得大量生产有了可能，同时也是一种节约成本的测试。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。

技术特征：

1.一种多通道电子元器件测试装置，包括测试治具本体(1)，所述测试治具本体(1)设有测试位(11)，其特征在于：该多通道电子元器件测试装置还包括限位框，所述限位框与所述测试治具本体(1)安装在一起，测试时，多通道电子元器件(2)位于所述限位框一侧，实现所述多通道电子元器件(2)的一个通道与所述测试位(11)对准，所述限位框用于对所述多通道电子元器件(2)的两个通道进行定位。

2.根据权利要求1所述的多通道电子元器件测试装置，其特征在于：所述限位框为多个，多个所述限位框的尺寸不相同。

3.根据权利要求2所述的多通道电子元器件测试装置，其特征在于：尺寸最大的限位框与所述测试治具本体(1)固定相连，其他的限位框与所述测试治具本体(1)活动连接。

4.根据权利要求2所述的多通道电子元器件测试装置，其特征在于：多个所述限位框均与所述测试治具本体(1)活动连接。

5.根据权利要求2所述的多通道电子元器件测试装置，其特征在于：所述限位框包括第一限位框(31)、第二限位框(32)，所述第一限位框(31)尺寸大于所述第二限位框(32)尺寸。

6.根据权利要求5所述的多通道电子元器件测试装置，其特征在于：所述第一限位框(31)与所述测试治具本体(1)固定相连，所述第二限位框(32)与所述测试治具本体(1)活动连接。

7.根据权利要求6所述的多通道电子元器件测试装置，其特征在于：所述第一限位框(31)用螺丝或胶水固定在所述测试治具本体(1)上。

8.根据权利要求6所述的多通道电子元器件测试装置，其特征在于：该多通道电子元器件测试装置还包括合页(5)，所述第二限位框(32)与所述测试治具本体(1)通过所述合页(5)相连。

技术总结
本实用新型提供了一种多通道电子元器件测试装置，包括测试治具本体，所述测试治具本体设有测试位，该多通道电子元器件测试装置还包括限位框，所述限位框与所述测试治具本体安装在一起，测试时，多通道电子元器件位于所述限位框一侧，实现所述多通道电子元器件的一个通道与所述测试位对准，所述限位框用于对所述多通道电子元器件的两个通道进行定位。本实用新型的有益效果是：本实用新型依靠机械定位，产品的外壳尺寸不变，通过限位框准确地完成对多通道电子元器件高精度的定位，使得测试效率提高，也使得大量生产有了可能，同时也是一种节约成本的测试。

技术研发人员：李公礼;付勇攀
受保护的技术使用者：东莞市佳忻电子有限公司
技术研发日：2020.12.23
技术公布日：2021.08.17