一种带点对点多光通路光学部件的MiniLED检测设备的制作方法

一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备
技术领域
1.本发明涉及led领域，具体为一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备。


背景技术：

2.由于mini
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led芯片的尺寸被减小到约100微米(0.1毫米)，令超小间距mini
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led芯片的生产成本和测试分选成本相对较高。成本高是mini led大规模应用的关键制约因素。相比较mini
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led芯片的生产成本，当面积小于32mil*mil时，miniled测试分选价格占比较高，其中测试成本也非常高。
3.目前决定测试价格主要受限于测试速度不高，总测试时间较长，总测试时间包括上下料的时间、平台移动马达移动平台的时间、led通电测光的时间、应用下游的衔接时间。
4.针对led通电测光的时间，led的测试设备是将蓝膜上的led阵列逐一测试同一光学参数和电学参数，通常led的测试设备为多探头测试设备，现流行的为8探针测试设备，能同时测试4个led，通过电流控制，让4个led逐一点亮，逐一测试光学参数和电学参数，检测效率低下、检测速度慢、检测成本高，需要解决这一难题。
5.为了解决以上的技术难题，本发明提出了一种一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备。


技术实现要素：

6.本发明的目的在于提供一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，以解决上述背景技术提出的现有的检测效率低下、检测速度慢、检测成本高的问题。
7.为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，包括点对点阵列光通路光学部件，阵列探针，移动平台，移动马达，遮光透光部件，电路控制系统，阵列光谱仪，特制ccd，特制光源。
8.更进一步的，点对点阵列光通路光学部件为miniled芯片点光源对光谱仪阵列光通路光学部件，此光学部件为带有多个互相独立的中空透光和不透led发出的光部分组成的不透led发出的光部件。
9.更进一步的，阵列探针数量大于等于2。
10.更进一步的，移动平台位于阵列探针的下方，位于移动马达的上方。
11.更进一步的，移动平台的面积大于待检测阵列led的面积。
12.更进一步的，移动马达能实现垂直移动和水平移动。
13.更进一步的，遮光透光部件位于点对点阵列光通路光学部件、阵列探针、移动平台、移动马达、电路控制系统、阵列光谱仪的外部，遮光透光部件不透led发出的光，其光透过率小于1%,遮光透光部件能透特制光源发出的光,特制ccd能通过特制光源发出的光的成像。
14.更进一步的，电路控制系统控制阵列探针、移动平台、移动马达、阵列光谱仪。
15.更进一步的，阵列光谱仪数量大于等于2；阵列光谱仪位于阵列探针的上部。
16.更进一步的，阵列光谱仪为光纤光谱仪或带积分球的光纤光谱仪，定位部件位于移动平台之上，定位部件数量大于等于2。
17.与现有技术相比，本发明的有益效果是：本方案通过设有的点对点阵列光通路光学部件，实现多个led同时导电发出的光经过不同的光通路分别进入不同的光谱仪，能减少多个led通电检测时间，提高了检测速度，提高了效率，降低了成本，增加了miniled测试厂家的利润，具有极大的市场空间，值得全行业推广使用。
附图说明
18.图1为本发明一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备示意图。
19.图中:1.点对点阵列光通路光学部件，2.阵列探针，3.移动平台，4.移动马达，5.遮光透光部件，6.电路控制系统，7.阵列光谱仪，71.积分球，72.光纤，8.miniled芯片点光源，9.阵列led，11.特制光源，12.定位部件, 21.中空透光部分, 22.不透led发出的光部分。
具体实施方式
20.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
21.请参阅图1，本发明提供一种技术方案：一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，包括点对点阵列光通路光学部件1，阵列探针2，移动平台3，移动马达4，遮光透光部件5，电路控制系统6，阵列光谱仪7,特制光源11，定位部件12, 中空透光部分21, 不透led发出的光部分22。
22.更进一步的，点对点阵列光通路光学部件1为miniled芯片点光源8对光谱仪7阵列光通路光学部件，此光学部件为带有多个互相独立的中空透光部分21和不透led发出的光部分22组成的部件。
23.更进一步的，阵列探针2数量大于等于2。
24.更进一步的，移动平台3位于阵列探针2的下方，位于移动马达4的上方。
25.更进一步的，移动平台3的面积大于待检测阵列led9的面积。
26.更进一步的，移动马达4能实现垂直移动和水平移动。
27.更进一步的，遮光透光部件5位于点对点阵列光通路光学部件1、阵列探针2、移动平台3、移动马达4、电路控制系统6、阵列光谱仪7的外部，遮光透光部件5不透led发出的光，其光透过率小于1%,遮光透光部件5能透特制光源发出的光,特制ccd能通过特制光源11发出的光的成像。
28.更进一步的，电路控制系统控制阵列探针2、移动平台3、移动马达4、阵列光谱仪7。
29.更进一步的，阵列光谱仪7数量大于等于2；阵列光谱仪7位于阵列探针2的上部。
30.更进一步的，阵列光谱仪7为光纤光谱仪或带积分球71的光纤72光谱仪，定位部件12位于移动平台之上，定位部件12数量大于等于2。
31.说明中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术，尽管参照
前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。


技术特征：
1.一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，包括点对点阵列光通路光学部件，阵列探针，移动平台，移动马达，遮光透光部件，电路控制系统，阵列光谱仪，特制ccd，特制光源，点对点阵列光通路光学部件为miniled芯片点光源对光谱仪阵列光通路光学部件，此光学部件为带有多个互相独立的中空透光和不透led发出的光部分组成的不透led发出的光部件。2.根据权利要求1所述的一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，其特征在于：阵列探针数量大于等于2。3.根据权利要求1所述的一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，其特征在于：移动平台位于阵列探针的下方，位于移动马达的上方。4.根据权利要求1所述的一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，其特征在于：移动平台的面积大于待检测阵列led的面积。5.根据权利要求1所述的一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，其特征在于：移动马达能实现垂直移动和水平移动。6.根据权利要求1所述的一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，其特征在于：遮光透光部件位于点对点阵列光通路光学部件、阵列探针、移动平台、移动马达、电路控制系统及阵列光谱仪的外部，遮光透光部件不透led发出的光，其光透过率小于1%，遮光透光部件能透特制光源发出的光，特制ccd能通过特制光源发出的光的成像。7.根据权利要求1所述的一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，其特征在于：电路控制系统控制阵列探针、移动平台、移动马达及阵列光谱仪。8.根据权利要求1所述的一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，其特征在于：阵列光谱仪数量大于等于2，阵列光谱仪位于阵列探针的上部。9.根据权利要求1所述的一种带点对点多光通路光学部件的miniled检测设备，其特征在于：阵列光谱仪为光纤光谱仪或带积分球的光纤光谱仪，定位部件位于移动平台之上，定位部件数量大于等于2。

技术总结
本发明公开了一种带点对点多光通路光学部件的MiniLED检测设备，包括点对点阵列光通路光学部件，阵列探针，移动平台，移动马达，遮光透光部件，电路控制系统，阵列光谱仪，特制CCD，特制光源，定位部件。本方案通过设有的点对点阵列光通路光学部件，实现多个LED同时导电发出的光经过不同的光通路分别进入不同的光谱仪，能减少多个LED通电检测时间，提高了检测速度，提高了效率，降低了成本，增加了MiniLED测试厂家的利润，具有极大的市场空间，值得全行业推广使用。值得全行业推广使用。值得全行业推广使用。


技术研发人员：魏伟 黄飞
受保护的技术使用者：盐城东紫光电科技有限公司
技术研发日：2021.06.04
技术公布日：2021/9/14