电子产品的测试方法、电子装置及存储介质与流程

本申请涉及产品测试，尤其涉及一种电子产品的测试方法、电子装置及存储介质。

背景技术：

1、在产品的生产过程中，通常需要对产品执行faca(failure analysis correctionactions，失效分析与纠正措施)流程。faca流程包括非破坏分析实验，例如目检、x射线检测、短/开路检测、环境模拟检测等。在非破坏性实验中，需要将产品运送到产线上进行测试，以读取产品信息，进而对产品的状态进行分析。然而，将产品的运送需要开单和消耗人力，导致增加产品测试的时间成本和人工成本。

技术实现思路

1、有鉴于此，有必要提供一种电子产品的测试方法、电子装置及存储介质，便于在对产品执行非破坏性试验的同时获取产品信息，并对产品进行测试分析。

2、本申请提供一种电子产品的测试方法，所述方法包括：

3、选择连接有从机的串口，建立电子装置与所述从机之间的连接，其中，所述从机与至少一电子产品连接；

4、发送点亮指令至所述从机，通过所述从机启动所述电子产品；

5、获取所述电子产品的寄存器中存储的数据及所述电子产品的状态；

6、测量所述电子产品中至少一电容器的电容；

7、若所述电子产品处于异常状态，根据所述电子产品的数据和测量得到的所述电容分析异常原因。

8、可选地，所述选择连接有从机的串口包括：

9、刷新多个串口以显示串口列表，响应用户操作从所述串口列表中选择连接有从机的串口。

10、可选地，所述建立电子装置与所述从机之间的连接包括：

11、通过usb接口建立所述电子装置与所述从机之间的通信连接，通过stm32接口建立所述从机与所述电子产品之间的通信连接。

12、可选地，所述方法还包括：

13、在电子装置与所述从机之间建立通信连接时，获取所述电子产品的序列号和生产阶段编号。

14、可选地，所述存储器的数据包括所述电子产品的运行数据和一次性可编程数据，所述电子产品的状态包括正常状态和异常状态。

15、可选地，所述方法还包括：

16、通过所述从机的激光驱动装置发送驱动信号至所述电子产品，以驱动所述电子产品发射激光；

17、根据所述电子产品发射的激光对所述电子产品的激光扫描功能进行测试。

18、可选地，所述测量所述电子产品中至少一电容器的电容包括：

19、测量所述至少一电容器的电压；

20、根据所述电压和预设参数计算所述至少一电容器的电容步长；

21、根据所述电容步长和预设步长数量计算所述至少一电容器的电容。

22、可选地，所述根据所述电子产品存储的数据和电容分析异常原因包括：

23、从所述电子产品存储的数据中获取电容的标准范围；

24、判断所述电容是否落入所述标准范围；

25、若所述电容未落入所述标准范围内，确定所述异常原因为所述电容所在的电路或芯片异常。

26、本申请还提供一种电子装置，包括：

27、处理器；以及

28、存储器，所述存储器中存储有多个程序模块，所述多个程序模块由所述处理器加载并执行上述的电子产品的测试方法。

29、本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有至少一条计算机指令，所述指令由处理器并加载执行上述的电子产品的测试方法。

30、上述电子产品的测试方法、电子装置及存储介质通过从机与待测试的电子产品连接，连接方式简单，产品信息传输方便，可以方便地在对电子产品执行非破坏性试验的同时获取产品信息，并对产品进行测试分析，无需执行将产品运送至产线机台的流程，减少了产品测试的时间成本和人工成本，提高了产品的测试效率。

技术特征：

1.一种电子产品的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.如权利要求1所述的电子产品的测试方法，其特征在于，所述选择连接有从机的串口包括：

3.如权利要求2所述的电子产品的测试方法，其特征在于，所述建立电子装置与所述从机之间的连接包括：

4.如权利要求1所述的电子产品的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

5.如权利要求1所述的电子产品的测试方法，其特征在于，所述存储器的数据包括所述电子产品的运行数据和一次性可编程数据，所述电子产品的状态包括正常状态和异常状态。

6.如权利要求1所述的电子产品的测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

7.如权利要求1所述的电子产品的测试方法，其特征在于，所述测量所述电子产品中至少一电容器的电容包括：

8.如权利要求1所述的电子产品的测试方法，其特征在于，所述根据所述电子产品存储的数据和电容分析异常原因包括：

9.一种电子装置，其特征在于，所述电子装置包括：

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有至少一条计算机指令，其特征在于，所述指令由处理器加载并执行如权利要求1至8中任一项所述的电子产品的测试方法。

技术总结
本申请提供一种电子产品的测试方法、电子装置及存储介质，所述方法包括：选择连接有从机的串口，建立电子装置与所述从机之间的连接，其中，所述从机与至少一电子产品连接；发送点亮指令至所述从机，通过所述从机启动所述电子产品；获取所述电子产品的寄存器中存储的数据及所述电子产品的状态；测量所述电子产品中至少一电容器的电容；若所述电子产品处于异常状态，根据所述电子产品的数据和测量得到的所述电容分析异常原因。本申请可以在对产品执行非破坏性试验的同时获取产品信息，并对产品进行分析，无需执行将产品运送至产线机台的流程，减少了时间成本和人工成本，提高了产品的测试效率。

技术研发人员：吴嘉良
受保护的技术使用者：三赢科技（深圳）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13