一种涂层厚度测量方法与流程

1.本发明涉及涂层厚度测量技术领域，尤其是涉及一种涂层厚度测量方法。


背景技术：

2.现在，技术人员可以利用许多不同的仪器来测量这些涂层或薄膜的厚度，而在选取最合适的测量方法时需要考虑到许多因素，包括涂层的类型、基体材料、涂层厚度范围、测试件的形状和尺寸以及测量成本等。
3.涂层厚度测量技术一般有无损测量法，例如磁性测量、涡流测量、超声波测量以及千分尺测量等；此外还有破坏性的测量法，例如横断面测量法和重量分析法等。对于粉末和液体状涂料，在其干燥固化前同样可以采取一些有效方法对其薄膜厚度进行测量。
4.现有的方法均是单一测量一种涂层厚度，无法实现同时测量多种涂层厚度，且精确度不够高。


技术实现要素：

5.本发明的目的是提供一种可同时测量底漆、面漆多层的厚度，精度高的涂层厚度测量方法。
6.为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案，涂层厚度测量方法，包括以下步骤：
7.步骤一：用打孔器在待测样品表面钻孔，钻孔深度直达基层；
8.步骤二：将待测样品放置载物台，采用显微镜和光源照明结合方式，对打孔位置的v型孔进行显示；
9.步骤三：利用三角函数原理计算涂层厚度。
10.优选的，所述步骤一中打多个孔，计算结果取平均值。
11.优选的，所述载物台为xy轴载物台。
12.优选的，步骤二中在屏幕上的图像通过调节载物台x,y轴使v 型坑圆心同屏幕十字标的中心重合，然后拍照。
13.优选的，还包括生成报告，输出结果连同公司名称、操作者、产品牌号、生产批次信息，保存文件存档。
14.因此，本发明上述方法能够带来如下技术效果：
15.1)仪器重复性好，测试快速精确，极大减少人为因素；
16.2)可同时测量底漆、面漆多层的厚度；
17.3)操作安全性高,无溶剂,擦拭剂等；
18.4)无需探头校正；
19.5)光学/照相装置可应用于其他方面:基材表面瑕疵及涂层瑕疵分析；
20.6)鼠标操作,简单方便；
21.7)多点平均，测试一致性好；
22.8)数据图标可自动生成输出报告模式；
23.9)可一次进行多层覆膜厚度测量。
附图说明
24.图1为本发明显微镜下的孔的示意图；
25.图2为本发明软件计算涂层厚度的测量示意图；
26.图3为本发明显微镜中测量计算图。
具体实施方式
27.以下通过附图和实施例对本发明的技术方案作进一步说明。
28.除非另外定义，本发明使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
29.实施例
30.如图1和图2所示，本发明提供了一种涂层厚度测量方法，利用一专用钻孔器在被测物表面钻出一特殊角度光滑的v型凹面，深度直达基层，利用三角函数原理，采用专用光学显微系统及数据分析软件，直接输出各个涂层的厚度。
31.具体的，首先在待测样品表面用记号笔涂上一点，然后用自动打孔器在该点上钻出一光滑的凹坑，然后将样品放在xy轴载物台上(由于系统采用显微镜同轴光+led环光源相结合的照明方式，在测量时不但可以快速确定所钻孔位置，而且可以清晰显示所钻的v 型坑表面)，打开中心光源，将打孔位置放于中心光源下，按下载物台上的电磁开关，固定好被测样品，调节显微镜及载物台，使被测图像在显示器上清晰显示，软件测量方法，该方式是通过专用软件的测量功能实现的，在屏幕上的图像通过调节载物台x,y轴使v 型坑圆心同屏幕十字标的中心重合，然后拍照。测量方法是8点平均法，每层覆膜均取8个点的厚度，而后求出平均值。并最终生成报告。在生成报告时可以填入公司名称，操作者，产品牌号，生产批次等信息。生成的报告最终保存为pdf、word、excel格式文档，可以打印，存档。
32.如图1-2所示，在显微镜中将要读的x是覆膜厚度f1微米，但当所测量面为5.71
°
时，只要做很小的计算，请看公式近似的 f1＝x*0.1，这就是说显微镜中原通常每一刻度代表10微米，现在相应的就是10*0.1微米＝1微米，结合图3。
33.当然，本实施例中，采用8点平均，也可以采用其它数值平均，如6、7、9等，均在本发明保护范围之内。
34.本实施例中采用的是cms自动打孔器，光学显微镜，显微数字相机ccd600万像素。
35.本涂层测厚系统用于各种彩涂板的涂层厚度测，符合gb/t 13448-2006《彩色涂层钢板及钢带试验放方法》中介绍的彩涂板涂层厚度试验方法中的钻孔破坏式显微观察法和
gb/t12754-2006彩色涂层钢板及钢带要求。
36.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明技术方案的精神和范围。


技术特征：
1.涂层厚度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：用打孔器在待测样品表面钻孔，钻孔深度直达基层；步骤二：将待测样品放置载物台，采用显微镜和光源照明结合方式，对打孔位置的v型孔进行显示；步骤三：利用三角函数原理计算涂层厚度。2.根据权利要求1所述的涂层厚度测量方法，其特征在于，所述步骤一中打多个孔，计算结果取平均值。3.根据权利要求1所述的涂层厚度测量方法，其特征在于，所述载物台为xy轴载物台。4.根据权利要求1所述的涂层厚度测量方法，其特征在于，步骤二中在屏幕上的图像通过调节载物台x,y轴使v型坑圆心同屏幕十字标的中心重合，然后拍照。5.根据权利要求1所述的涂层厚度测量方法，其特征在于，还包括生成报告，输出结果连同公司名称、操作者、产品牌号、生产批次信息，保存文件存档。

技术总结
本发明提供一种涂层厚度测量方法，涉及涂层厚度测量技术领域，利用一专用钻孔器在被测物表面钻出一特殊角度光滑的V型凹面，深度直达基层，利用三角函数原理，采用专用光学显微镜系统及数据分析，直接输出涂层厚度，仪器重复性好，测试快速精确，极大减少人为因素，可以同时测量底漆、面漆多层厚度，操作安全性高，无溶剂、擦拭剂等。擦拭剂等。


技术研发人员：吴学博
受保护的技术使用者：达威净化科技（河北）有限公司
技术研发日：2021.11.01
技术公布日：2022/3/15