一种霍尔元件三维磁场测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及霍尔元件测试装置领域，特别涉及一种霍尔元件三维磁场测试装置。


背景技术：

2.霍尔元件是一种基于霍尔效应的磁传感器，因其体积小，使用简便，测量准确度高，可测量交、直流磁场等优点，已广泛用于磁场的测量，并配以其他装置用于位置、位移、转速、角度等物理的测量和自动控制。
3.现有的转塔机对霍尔元件进行测试时，将三组磁场分成两组装置对霍尔元件进行测试，降低了测试的效率。针对以上问题，以下提出一种解决方式。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是提供一种霍尔元件三维磁场测试装置，具有将三组磁场结合到一个测试装置上，在一个测试装置上形成一个三维磁场，从而使一次即可完成对芯片的磁场内的性能测试，提高检测效率的优点。
5.本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
6.一种霍尔元件三维磁场测试装置，包括支架和测试台，所述支架用于支撑测试台，所述测试台上设有三组线圈，三组所述线圈分别为x轴线圈组、y轴线圈组和z轴线圈组，所述x轴线圈组、y轴线圈组和z轴线圈组的磁场方向在空间内相互垂直，所述x轴线圈组和y轴线圈组之间设有承台，所述承台用于放置需要测试的元件，所述测试台上设有电路板，所述电路板位于线圈组的下方，所述电路板用于反馈测试结果。
7.作为优选，所述z轴线圈组内侧设有安装块，所述x轴线圈组和y轴线圈均位于安装块内，且与安装块配合。
8.作为优选，所述支架的一侧设有提升装置，所述提升装置包括固定板和提升板，所述固定板与支架的一侧固定连接，所述提升板与测试台的一侧固定连接，所述固定板内设有气缸，所述气缸用于带动提升板移动。
9.作为优选，所述支架的一侧设有下位传感器，所述下位传感器用于限制测试台的最低位置。
10.作为优选，所述测试台一侧的下端设有插板，所述下位传感器上设有插槽，所述插板与插槽插接配合，所述插板用于限定测试台的最低位置。
11.作为优选，所述支架上设有两个磁性开关，两个所述磁性开关分别为上位磁性开关和下位磁性开关，所述提升板上固设有限位块，所述限位块位于上位磁性开关和下位磁性开关之间，所述上位磁性开关和下位磁性开关用于限定限位块的移动位置。
12.作为优选，所述支架呈l形，所述支架的底面上开设有若干连接孔，所述连接孔用于固定支架。
13.作为优选，所述承台上设有安置槽，所述安置槽用于放置芯片。
14.作为优选，所述电路板包括子电路板和母电路板，所述子电路板位于承台的正下方，所述子电路板与母电路板电性连接。
15.本实用新型的有益效果为：x轴线圈组、y轴线圈组和z轴线圈组构成一个三维磁场，在外界的转塔机将需要测试的元件向下推动时，气缸会带动提升板向上移动，使承台向上移动，转塔机上的元件会放入到承台的安置槽内，实现对元件在磁场环境内的参数测试。
附图说明
16.图1为实施例的结构示意图；
17.图2为实施例的侧视图；
18.图3为实施例的俯视图；
19.图4为实施例的剖视图。
20.附图标记：1、支架；2、测试台；3、x轴线圈组；4、y轴线圈组；5、z轴线圈组；6、承台；7、安装块；8、固定板；9、提升板；10、气缸；11、下位传感器；12、插板；13、插槽；14、上位磁性开关；15、下位磁性开关；16、限位块；17、安置槽；18、子电路板；19、母电路板。
具体实施方式
21.以下所述仅是本实用新型的优选实施方式，保护范围并不仅局限于该实施例，凡属于本实用新型思路下的技术方案应当属于本实用新型的保护范围。其中相同的零部件用相同的附图标记表示。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“底部”和“顶部”、“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。
22.如图1所示，一种霍尔元件三维磁场测试装置，包括支架1和测试台2。支架1呈l形，支架1的底面上开设有若干连接孔，紧固件穿过连接孔并与外界的转塔机连接。
23.如图1和图4所示，支架1的一侧设有提升装置，提升装置包括固定板8和提升板9，固定板8与支架1的一侧固定连接，提升板9与测试台2的一侧固定连接。固定板8内设有气缸10，气缸10用于带动提升板9移动。气缸10启动，会带动提升板9移动，提升板9会带动测试台2向上移动。测试台2和转塔机双向运动，将元件放置到测试台2进行测试。
24.如图1所示，支架1用于支撑测试台2，测试台2上设有三组线圈，三组线圈分别为x轴线圈组3、y轴线圈组4和z轴线圈组5。z轴线圈组5内侧设有安装块7，x轴线圈组3和y轴线圈均位于安装块7内。
25.如图1所示，x轴线圈组3、y轴线圈组4和z轴线圈组5构成了一个三维空间内的磁场，当元件放置到测试台2上后，即可测试元件在各个方向的磁场内的参数。
26.如图1和图3所示，x轴线圈组3和y轴线圈组4之间设有承台6，承台6上设有安置槽17，转塔机上的元件放入到安置槽17内进行检测。
27.如图1和图4所示，测试台2上设有电路板，电路板包括子电路板18和母电路板19，子电路板18位于承台6的正下方，安置槽17上的引脚与子电路板18上的电路连接，子电路板18与母电路板19电性连接，从而使电路板能够完成对芯片测试结果的反馈。
28.检测完后，气缸10会带动提升板9向下移动。支架1上设有上位磁性开关14和下位磁性开关15，提升板9上固设有限位块16，限位块16位于上位磁性开关14和下位磁性开关15
之间。限位块16只能在上位磁性开关14和下位磁性开关15之间移动，当限位块16移动到与上位磁性开关14接触时，转塔机将芯片送入到安置槽17内进行测试。当限位板移动到与下位磁性开关15接触时，转塔机继续开始转动。
29.如图1和图2所示，支架1的一侧设有下位传感器11，下位传感器11能够感受提升块的位置，测试台2一侧的下端设有插板12，下位传感器11上设有插槽13，当提升块移动到最下端时，插板12插入到插槽13内，下位传感器11将位置信息进行反馈，此时，转塔机才能够继续转动，防止装置损坏。
30.工作原理：转塔机转动，将需要测试的元件送到测试台2的上端，转塔机会带动元件向下移动，同时，气缸10带动测试台2向上移动，使元件能够顺利的进入到承台6的安置槽17内，三组线圈在安置槽17的周围形成一个三维的磁场，对元件进行测试。
31.测试完后，气缸10带动提升板9向下移动，直至移动到最低位置时，下位传感器11将信号反馈，转塔机才会继续转动，进行下一次的测试。
32.以上所述的具体实施例，对本实用新型解决的技术问题、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。


技术特征：
1.一种霍尔元件三维磁场测试装置，包括支架(1)和测试台(2)，其特征在于，所述支架(1)用于支撑测试台(2)，所述测试台(2)上设有三组线圈，三组所述线圈分别为x轴线圈组(3)、y轴线圈组(4)和z轴线圈组(5)，所述x轴线圈组(3)、y轴线圈组(4)和z轴线圈组(5)的磁场方向在空间内相互垂直，所述x轴线圈组(3)和y轴线圈组(4)之间设有承台(6)，所述承台(6)用于放置需要测试的元件，所述测试台(2)上设有电路板，所述电路板位于线圈组的下方，所述电路板用于反馈测试结果。2.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述z轴线圈组(5)内侧设有安装块(7)，所述x轴线圈组(3)和y轴线圈均位于安装块(7)内，且与安装块(7)配合。3.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述支架(1)的一侧设有提升装置，所述提升装置包括固定板(8)和提升板(9)，所述固定板(8)与支架(1)的一侧固定连接，所述提升板(9)与测试台(2)的一侧固定连接，所述固定板(8)内设有气缸(10)，所述气缸(10)用于带动提升板(9)移动。4.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述支架(1)的一侧设有下位传感器(11)，所述下位传感器(11)用于限制测试台(2)的最低位置。5.根据权利要求4所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述测试台(2)一侧的下端设有插板(12)，所述下位传感器(11)上设有插槽(13)，所述插板(12)与插槽(13)插接配合，所述插板(12)用于限定测试台(2)的最低位置。6.根据权利要求3所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述支架(1)上设有两个磁性开关，两个所述磁性开关分别为上位磁性开关(14)和下位磁性开关(15)，所述提升板(9)上固设有限位块(16)，所述限位块(16)位于上位磁性开关(14)和下位磁性开关(15)之间，所述上位磁性开关(14)和下位磁性开关(15)用于限定限位块(16)的移动位置。7.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述支架(1)呈l形，所述支架(1)的底面上开设有若干连接孔，所述连接孔用于固定支架(1)。8.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述承台(6)上设有安置槽(17)，所述安置槽(17)用于放置芯片。9.根据权利要求1所述的一种霍尔元件三维磁场测试装置，其特征在于，所述电路板包括子电路板(18)和母电路板(19)，所述子电路板(18)位于承台(6)的正下方，所述子电路板(18)与母电路板(19)电性连接。

技术总结
本实用新型公开了一种霍尔元件三维磁场测试装置，包括支架和测试台，支架用于支撑测试台，测试台上设有三组线圈，三组线圈分别为X轴线圈组、Y轴线圈组和Z轴线圈组，X轴线圈组、Y轴线圈组和Z轴线圈组的磁场方向在空间内相互垂直，X轴线圈组和Y轴线圈组之间设有承台，承台用于放置需要测试的元件，测试台上设有电路板，电路板位于线圈组的下方，电路板用于反馈测试结果，本实用新型结构合理，通过三组线圈构成一个三维磁场，将原件放入到承台内后，即可以对芯片的三个方向的磁场进行测试，无需进行多次测试，提高检测效率。提高检测效率。提高检测效率。


技术研发人员：茹建成
受保护的技术使用者：绍兴千欣电子技术有限公司
技术研发日：2021.01.29
技术公布日：2021/12/7