用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置的制作方法

1.本申请涉及陶瓷元件厚度测量领域，尤其涉及一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置。


背景技术：

2.在例如mlcc(multi
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layer ceramic chip capacitors，片式多层陶瓷电容器)等陶瓷元件巴块叠层后要测量其厚度，以保证所有叠层的厚度相对一致。叠层厚度测量需要用到数显高度计测量，现有的数显高度计测量时先将高度计清零，然后用手捏住测量杆抬起高度计，再将叠层后的巴块放置在测量台上，最后松开测量杆使测头接触到巴块表面后读取测量数值。但这种测量方式的缺点是测量杆受人为因素影响，测值稳定性差，结果精确度差。
3.因此，测量技术还有进一步优化的空间。


技术实现要素：

4.鉴于上述问题，本申请提供了一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置，旨在解决现有技术测量装置受人为因素影响，测值稳定性差，结果精确度差的问题。
5.为解决上述技术问题，本申请采用的一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置。该装置包括测量台、高度计、测量杆和固定杆，其特征在于，所述装置还包括可带动测量杆上下运动的杠杆组件。
6.其中，所述杠杆组件包括：
7.套筒，套于所述固定杆下段；
8.杠杆，所述杠杆的支点设于套筒处，通过螺丝与所述套筒外侧活动连接；
9.所述杠杆的阻力臂末端设有开口，通过所述开口与所述测量杆下段活动卡接；
10.挡片，固定设于所述测量杆下段紧邻所述开口的上方之处。
11.其中，所述挡片的上方测量杆的下段还设有重力圈。
12.其中，所述杠杆为直杆或与测量杆相匹配的曲杆。
13.本申请的有益效果是：区别于现有技术，本申请的一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置，该装置包括：测量台、高度计、测量杆和固定杆，其特征在于，所述固定杆上设有一可带动测量杆上下运动的杠杆组件。通过上述方式，解决现有测量装置受人为因素影响，测值稳定性差，结果精确度差的问题
附图说明
14.为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
15.图1为本申请提供的一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置一实施例结构图；
16.图2为本申请提供的一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置的局部放大图。
17.附图标号说明：
18.测量台10、测量杆20、高度计30、固定杆40、套筒50、杠杆60、开口602、螺丝70、挡片80、重力圈90。
具体实施方式
19.下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
20.需要说明，本申请实施例中所有方向性指示诸如上、下、左、右、前、后
……
仅用于解释在某一特定姿态如附图所示下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
21.另外，在本申请中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。
22.本申请提供的一种技术方案是提供一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置。
23.请参照图1，图1是本申请提供的一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置一实施例结构图。
24.该装置包括测量台10、高度计30、测量杆20和固定杆40，所述装置还包括可带动测量杆上下运动的杠杆组件，通过杠杆组件的运用，避免人为因素造成测量偏差较大等问题。
25.请参照图2，图2是本申请提供的一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置的局部放大图。
26.结合图1与图2，该杠杆组件包括：
27.套筒50，套于所述固定杆40下段；
28.杠杆60，所述杠杆60的支点设于套筒50处，通过螺丝70与所述套筒50外侧活动连接；
29.所述杠杆60的阻力臂末端设有开口602，通过所述开口602与所述测量杆20下段活动卡接；
30.进一步的，该杠杆组件还包括挡片80，固定设于所述测量杆20下段紧邻所述开口的上方之处。该挡片80使得杠杠60在测量杆20的测头位置有个支点受力把测头抬起。
31.在一些实施例中所述挡片的上方测量杆的下段还设有重力圈90，所述重力圈90与所述测量杆20固定连接。能增加重力让测量杆20下降。
32.在一些实施例中，所述重力圈90是可以活动的，其内径大于所述测量杆20外径且
小于所述挡片80长度，套于所述测量杆20上。
33.进一步的，在一些实施例中，所述杠杆60为直杆。
34.在一些实施例中，所述杠杆60为与测量杆20相匹配的曲杆。
35.可以理解的，通过按压杠杆60的动力臂端，则可以带动测量杆20的上下运动，在测量杆20的测量头抬起时则将被测品放到测量台10上，松开杠杆60后，测量杆20在重力作用下自由落体下降，在测量头接触到被测品表面时，可通过高度计30读取测量值。
36.本申请的有益效果是：区别于现有技术，本申请的一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置，通过增加杠杆组件，使得整个装置不受人为因素影响，具有精度高，效率高的优点。能有效解决现有技术测值稳定性差，结果精确度差的问题。
37.在本申请所提供的实施方式中，应该理解到，所揭露的方法以及结构，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的结构实施方式仅仅是示意性的，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或结构可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
38.以上仅为本申请的实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的发明构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。


技术特征：
1.一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置，包括测量台、高度计、测量杆和固定杆，其特征在于，所述装置还包括可带动测量杆上下运动的杠杆组件，所述杠杆组件包括：套筒，套于所述固定杆下段；杠杆，所述杠杆的支点设于套筒处，通过螺丝与所述套筒外侧活动连接；所述杠杆的阻力臂末端设有开口，通过所述开口与所述测量杆下段活动卡接；挡片，固定设于所述测量杆下段紧邻所述开口的上方之处。2.根据权利要求1所述的一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置，其特征在于所述挡片的上方测量杆的下段还设有重力圈，所述重力圈与所述测量杆固定连接。3.根据权利要求1所述的一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置，其特征在于所述挡片的上方还设有重力圈，所述重力圈内径大于所述测量杆外径且小于所述挡片长度，套于所述测量杆上。4.根据权利要求1
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3任一所述的一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置，其特征在于，所述杠杆为直杆或与测量杆相匹配的曲杆。

技术总结
本申请涉及陶瓷元件厚度测量领域，公开了一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置，该装置包括：测量台、高度计、测量杆和固定杆，其特征在于，所述装置还包括可带动测量杆上下运动的杠杆组件，所述杠杆组件包括：套筒，套于所述固定杆下段；杠杆，所述杠杆的支点设于套筒处，通过螺丝与所述套筒外侧活动连接；所述杠杆的阻力臂末端设有开口，通过所述开口与所述测量杆下段活动卡接；挡片，固定设于所述测量杆下段紧邻所述开口的上方之处。通过上述方式，解决现有测量装置受人为因素影响，测值稳定性差，结果精确度差的问题。结果精确度差的问题。结果精确度差的问题。


技术研发人员：徐文锋
受保护的技术使用者：广东微容电子科技有限公司
技术研发日：2021.03.10
技术公布日：2021/10/18