一种光学元器件损耗测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及光学元器件测试技术领域，尤其涉及一种光学元器件损耗测试装置。


背景技术：

2.光学元器件是光纤通信设备的重要组成部分，具有高回波损耗、低插入损耗、高可靠性、稳定性、机械耐磨性和抗腐蚀性、易于操作等特点，广泛应用于长距离通信、区域网络及光纤到户、视频传输、光纤感测等等，光学元器件在生产过程中，会对光学元器件进行插入损耗和回波损耗进行测试，来保证光学元器件的合格生产和使用时的安全性。
3.然而，现有的光学元器件损耗测试装置只能分别对插入损耗和回波损耗进行测试，并不能同时对插入损耗和回波损耗进行测试，导致光学元器件损耗测试过程费时费力，影响测试效率。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本实用新型提出一种光学元器件损耗测试装置，可以解决现有光学元器件损耗测试装置所存在的无法同时对插入损耗和回波损耗进行测试的缺陷。
5.本实用新型的技术方案是这样实现的：
6.一种光学元器件损耗测试装置，包括机箱、指示灯、产品接口、电源和测试电路，所述指示灯和产品接口设置于所述机箱上，所述电源和测试电路设置于所述机箱体内，所述指示灯和产品接口分别与所述测试电路连接，所述指示灯、产品接口和测试电路分别与所述电源连接，所述测试电路包括光发射器、第一光开关、第二光开关、第三光开关、第四光开关、第一耦合器、第二耦合器和光功率计，所述光发射器的输出端与第一光开关的输入端连接，所述第一光开关的输出端分别与所述第一耦合器的输入端和第二耦合器的输入端连接，所述第一耦合器的输出端与所述第二光开关的输入端连接，所述第二光开关的输出端与所述指示灯连接，所述第二耦合器的输出端与所述第三光开关的输入端连接，所述第三光开关的输出端分别与所述指示灯和第四光开关输入端连接，所述第四光开关输出端与所述光功率计输入端连接，所述产品接口还分别与所述第一耦合器和第二耦合器连接。
7.作为所述光学元器件损耗测试装置的进一步可选方案，所述第一光开关的输出端与所述第一耦合器的输入端所连接的电路之间还设置有偏振控制仪。
8.作为所述光学元器件损耗测试装置的进一步可选方案，所述指示灯设置于所述机箱上的一侧面上，所述产品接口设置于所述机箱上的另一侧面上。
9.本实用新型的有益效果是：通过第二光开关和第一耦合器组成插入损耗测试电路，并通过第三光开关、第四光开关、第二耦合器和光功率计组成回波损耗测试电路，然后通过第一光开关可切换到两个工位使用，从而实现插入损耗和回波损耗的同时测试，解决了现有光学元器件损耗测试装置在损耗测试过程中存在的费时费力和影响测试效率的缺陷。
附图说明
10.为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
11.图1为本实用新型一种光学元器件损耗测试装置中测试电路的电路示意图。
具体实施方式
12.下面将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
13.参考图1，一种光学元器件损耗测试装置，包括机箱、指示灯、产品接口、电源和测试电路，所述指示灯和产品接口设置于所述机箱上，所述电源和测试电路设置于所述机箱体内，所述指示灯和产品接口分别与所述测试电路连接，所述指示灯、产品接口和测试电路分别与所述电源连接，所述测试电路包括光发射器、第一光开关、第二光开关、第三光开关、第四光开关、第一耦合器、第二耦合器和光功率计，所述光发射器的输出端与第一光开关的输入端连接，所述第一光开关的输出端分别与所述第一耦合器的输入端和第二耦合器的输入端连接，所述第一耦合器的输出端与所述第二光开关的输入端连接，所述第二光开关的输出端与所述指示灯连接，所述第二耦合器的输出端与所述第三光开关的输入端连接，所述第三光开关的输出端分别与所述指示灯和第四光开关输入端连接，所述第四光开关输出端与所述光功率计输入端连接，所述产品接口还分别与所述第一耦合器和第二耦合器连接。
14.在本实施例中，通过第二光开关和第一耦合器组成插入损耗测试电路，并通过第三光开关、第四光开关第二耦合器和光功率计组成回波损耗测试电路，然后通过第一光开关可切换到两个工位使用，从而实现插入损耗和回波损耗的同时测试，解决了现有光学元器件损耗测试装置在损耗测试过程中存在的费时费力和影响测试效率的缺陷。
15.需要说明的是，通过光功率计还可以将测量到的参数反馈到上位机中，实现数据的保存，便于后续的查看，此外，所述产品接口用于将光学元器件、第一耦合器和第二耦合器进行连接。
16.优选的，所述第一光开关的输出端与所述第一耦合器的输入端所连接的电路之间还设置有偏振控制仪。
17.在本实施例中，通过在第一光开关的输出端与第一耦合器的输入端所连接的电路之间还设置有偏振控制仪，能够测量光学元器件的偏振损耗，从而提高光学元器件损耗测试装置的测试功能。
18.优选的，所述指示灯设置于所述机箱上的一侧面上，所述产品接口设置于所述机箱上的另一侧面上。
19.在本实施例中，通过将指示灯设置于机箱上的一侧面上，产品接口设置于机箱上的另一侧面上，能够便于观察和连接产品。
20.以上所述仅为本实用新型的较佳实施方式而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。


技术特征：
1.一种光学元器件损耗测试装置，其特征在于，包括机箱、指示灯、产品接口、电源和测试电路，所述指示灯和产品接口设置于所述机箱上，所述电源和测试电路设置于所述机箱体内，所述指示灯和产品接口分别与所述测试电路连接，所述指示灯、产品接口和测试电路分别与所述电源连接，所述测试电路包括光发射器、第一光开关、第二光开关、第三光开关、第四光开关、第一耦合器、第二耦合器和光功率计，所述光发射器的输出端与第一光开关的输入端连接，所述第一光开关的输出端分别与所述第一耦合器的输入端和第二耦合器的输入端连接，所述第一耦合器的输出端与所述第二光开关的输入端连接，所述第二光开关的输出端与所述指示灯连接，所述第二耦合器的输出端与所述第三光开关的输入端连接，所述第三光开关的输出端分别与所述指示灯和第四光开关输入端连接，所述第四光开关输出端与所述光功率计输入端连接，所述产品接口还分别与所述第一耦合器和第二耦合器连接。2.根据权利要求1所述的一种光学元器件损耗测试装置，其特征在于，所述第一光开关的输出端与所述第一耦合器的输入端所连接的电路之间还设置有偏振控制仪。3.根据权利要求2所述的一种光学元器件损耗测试装置，其特征在于，所述指示灯设置于所述机箱上的一侧面上，所述产品接口设置于所述机箱上的另一侧面上。

技术总结
本实用新型公开了一种光学元器件损耗测试装置，包括机箱、指示灯、产品接口、电源和测试电路，所述指示灯和产品接口设置于所述机箱上，所述电源和测试电路设置于所述机箱体内，所述指示灯和产品接口分别与所述测试电路连接，所述指示灯、产品接口和测试电路分别与所述电源连接，所述测试电路包括光发射器、第一光开关、第二光开关、第三光开关、第四光开关、第一耦合器、第二耦合器和光功率计；通过第二光开关和第一耦合器组成插入损耗测试电路，并通过第三光开关、第四光开关、第二耦合器和光功率计组成回波损耗测试电路，然后通过第一光开关可切换到两个工位使用，从而实现插入损耗和回波损耗的同时测试。和回波损耗的同时测试。和回波损耗的同时测试。


技术研发人员：刘延文 严慧敏 李树蓉
受保护的技术使用者：深圳光泰通信设备有限公司
技术研发日：2021.10.28
技术公布日：2022/5/10