一种半导体芯片测试板卡的制作方法

1.本实用新型属于测试板卡技术领域，尤其涉及一种半导体芯片测试板卡。


背景技术：

2.半导体芯片是一种微型电子器件或部件，半导体芯片在生产的过程中，常需要通过测试板卡配合测试装置控制被测芯片进入相应的模式，然后采集在各种状态下被测产品的电压，电流，频率等参数，然后对参数进行分析来判断被测芯片是否满足设计要求。
3.目前，测试板卡在放置的过程中，常常得不到有效的防护，使得测试板卡容易暴露于外部，进而容易受到人为碰触和外界灰尘侵蚀的可能，且测试板卡在进行测试的过程中，为了避免测试板卡移位，有时需要人工进行扶持稳固，较为繁琐。
4.为此，我们提出一种半导体芯片测试板卡解决上述问题。


技术实现要素：

5.本实用新型的目的是为了解决上述的问题，而提出的一种半导体芯片测试板卡。
6.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
7.一种半导体芯片测试板卡，包括防护壳，所述防护壳中转动连接有丝杠，且丝杠上螺纹连接有与防护壳滑动连接的支撑座，所述防护壳上设置有与丝杠相配合的调节机构，所述支撑座上开设有放置槽，且放置槽中放置有板卡本体，所述放置槽上开设有驱动腔，且驱动腔中转动连接有两个螺母套，两个所述螺母套中均螺纹连接有螺杆，且螺杆贯穿支撑座设置，所述螺杆的上端通过固定杆固定连接有压板，且压板与板卡本体的侧边相压合，两个所述螺母套之间设置有联动机构，所述防护壳上插设有盖板。
8.优选地，所述调节机构由蜗杆和蜗轮组成，所述蜗轮固定套接于丝杠上，所述蜗杆转动设置于防护壳中，且蜗杆与蜗轮相啮合，所述蜗杆的一端贯穿防护壳并固定连接有转把。
9.优选地，所述联动机构有两个同步轮和同步带组成，两个所述同步轮分别固定套接于对应的螺母套上，且两个同步轮之间通过同步带传动。
10.优选地，两个所述螺杆的下端共同固定连接有连杆，其中一个所述螺母套上固定套接有旋钮。
11.优选地，所述固定杆上固定连接有支撑板，且支撑板通过多个缓冲弹簧与压板固定连接。
12.优选地，所述压板上固定连接有多个限位块，且限位块与支撑板滑动连接，所述压板的下端粘接有橡胶垫。
13.与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
14.1、通过设置的调节机构和丝杠的配合，可以调节板卡进行升降，进而在需要使用板卡时，可以将板卡调出，同时，在螺母套和螺杆的配合下，可以使得压板压合稳固板卡，避免了人工扶持的繁琐，在需要放置板卡时，可以将板卡调节至防护壳中进行收纳防护。
15.2、通过设置的联动机构，可以使得两个螺母套进行联动，进而使得两个压板可以同时压合或远离板卡，大大便捷了板卡的固定或解锁方式，通过设置的缓冲弹簧和支撑板的配合，可以对板卡给予缓冲防护，避免压板下压过程中由于下压过猛损伤板卡。
附图说明
16.图1为本实用新型提出的一种半导体芯片测试板卡的正视透视结构示意图；
17.图2为图1中a处的放大结构示意图；
18.图3为图1中b处的放大结构示意图。
19.图中：1防护壳、2丝杠、3支撑座、4调节机构、41蜗杆、42蜗轮、5放置槽、6板卡本体、7驱动腔、8螺母套、9螺杆、10固定杆、11压板、12联动机构、121同步轮、122同步带、13盖板、14转把、15连杆、16旋钮、17支撑板、18缓冲弹簧、19限位块。
具体实施方式
20.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
21.参照图1-3，一种半导体芯片测试板卡，包括防护壳1，防护壳1中转动连接有丝杠2，且丝杠2上螺纹连接有与防护壳1滑动连接的支撑座3，丝杠2的螺纹升角小于当量摩擦角，使得丝杠2可以与支撑座3自锁，防护壳1上设置有与丝杠2相配合的调节机构4，调节机构4由蜗杆41和蜗轮42组成，蜗轮42固定套接于丝杠2上，蜗杆41转动设置于防护壳1中，且蜗杆41与蜗轮42相啮合，蜗杆41的一端贯穿防护壳1并固定连接有转把14，通过设置的蜗杆41和蜗轮42的传动配合，便于使用者，通过转把14调控丝杠2转动。
22.支撑座3上开设有放置槽5，且放置槽5中放置有板卡本体6，放置槽5上开设有驱动腔7，且驱动腔7中转动连接有两个螺母套8，两个螺母套8中均螺纹连接有螺杆9，且螺杆9贯穿支撑座3设置，两个螺杆9的下端共同固定连接有连杆15，其中一个螺母套8上固定套接有旋钮16，连杆15的设置，可以使得两个螺杆9相互限位，避免螺杆9跟随螺母套8转动。
23.螺杆9的上端通过固定杆10固定连接有压板11，且压板11与板卡本体6的侧边相压合，固定杆10上固定连接有支撑板17，且支撑板17通过多个缓冲弹簧18与压板11固定连接，支撑板17和缓冲弹簧18的配合，可以给予板卡本体6缓冲防护，避免压板11压合过猛损伤板卡本体6，压板11上固定连接有多个限位块19，且限位块19与支撑板17滑动连接，压板11的下端粘接有橡胶垫，限位块19的设置，可以避免压板11晃动，橡胶垫的设置可以避免压板11与板卡本体6硬性碰触。
24.两个螺母套8之间设置有联动机构12，联动机构12有两个同步轮121和同步带122组成，两个同步轮121分别固定套接于对应的螺母套8上，且两个同步轮121之间通过同步带122传动，通过设置的两个同步轮121和同步带122的传动配合，可以使得两个螺母套8实现联动，防护壳1上插设有盖板13。
25.现对本实用新型的操作原理做如下描述：
26.使用板卡本体6时，首先取下盖板13，然后转动转把14，转把14会带动蜗杆41转动，蜗杆41转动后会通过与其相啮合的蜗轮42带动丝杠2转动，随着丝杠2的转动，支撑座3会带
动板卡本体6上升，当板卡本体6升出防护壳1的端口时，停止转动转把14，随后，即可通过外部线缆将板卡本体6与测试设备进行连接，接着即可通过测试设备对半导体芯片进行测试，当需要拆卸板卡本体6时，首先反向转动旋钮16，旋钮16会带动其中一个螺母套8转动，在两个同步轮121和同步带122的传动下，会使得两个螺母套8同步转动，由于连杆15的限位，两个螺杆9会同时带动压板11远离板卡本体6，当压板11完全远离板卡本体6时，停止转动旋钮16，随后，即可将板卡本体6拆下。
27.以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。


技术特征：
1.一种半导体芯片测试板卡，包括防护壳(1)，其特征在于，所述防护壳(1)中转动连接有丝杠(2)，且丝杠(2)上螺纹连接有与防护壳(1)滑动连接的支撑座(3)，所述防护壳(1)上设置有与丝杠(2)相配合的调节机构(4)，所述支撑座(3)上开设有放置槽(5)，且放置槽(5)中放置有板卡本体(6)，所述放置槽(5)上开设有驱动腔(7)，且驱动腔(7)中转动连接有两个螺母套(8)，两个所述螺母套(8)中均螺纹连接有螺杆(9)，且螺杆(9)贯穿支撑座(3)设置，所述螺杆(9)的上端通过固定杆(10)固定连接有压板(11)，且压板(11)与板卡本体(6)的侧边相压合，两个所述螺母套(8)之间设置有联动机构(12)，所述防护壳(1)上插设有盖板(13)。2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试板卡，其特征在于，所述调节机构(4)由蜗杆(41)和蜗轮(42)组成，所述蜗轮(42)固定套接于丝杠(2)上，所述蜗杆(41)转动设置于防护壳(1)中，且蜗杆(41)与蜗轮(42)相啮合，所述蜗杆(41)的一端贯穿防护壳(1)并固定连接有转把(14)。3.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试板卡，其特征在于，所述联动机构(12)有两个同步轮(121)和同步带(122)组成，两个所述同步轮(121)分别固定套接于对应的螺母套(8)上，且两个同步轮(121)之间通过同步带(122)传动。4.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试板卡，其特征在于，两个所述螺杆(9)的下端共同固定连接有连杆(15)，其中一个所述螺母套(8)上固定套接有旋钮(16)。5.根据权利要求1所述的一种半导体芯片测试板卡，其特征在于，所述固定杆(10)上固定连接有支撑板(17)，且支撑板(17)通过多个缓冲弹簧(18)与压板(11)固定连接。6.根据权利要求5所述的一种半导体芯片测试板卡，其特征在于，所述压板(11)上固定连接有多个限位块(19)，且限位块(19)与支撑板(17)滑动连接，所述压板(11)的下端粘接有橡胶垫。

技术总结
本实用新型公开了一种半导体芯片测试板卡，包括防护壳，所述防护壳中转动连接有丝杠，且丝杠上螺纹连接有与防护壳滑动连接的支撑座，所述防护壳上设置有与丝杠相配合的调节机构，所述支撑座上开设有放置槽，且放置槽中放置有板卡本体，所述放置槽上开设有驱动腔，且驱动腔中转动连接有两个螺母套，两个所述螺母套中均螺纹连接有螺杆，且螺杆贯穿支撑座设置。本实用新型涉及测试板卡技术领域，通过本实用新型的设计，使得板卡在放置时可以得到有效的防护，且在使用板卡时，可以对板卡进行有效的稳固，以避免人工扶持的繁琐，同时便于后期对板卡进行拆卸。期对板卡进行拆卸。期对板卡进行拆卸。


技术研发人员：郭飞 陈宗廷 朱放中
受保护的技术使用者：深圳市九章半导体有限公司
技术研发日：2021.11.04
技术公布日：2022/4/15