一种用于测量低量程磁场的测磁装置的制作方法

文档序号:29841663发布日期:2022-04-27 13:13阅读:68来源:国知局
一种用于测量低量程磁场的测磁装置的制作方法

1.本实用新型涉及磁场检测设备领域,具体讲是一种用于测量低量程磁场的测磁装置。


背景技术:

2.目前行业内检测亥姆霍兹线圈系数通过给其通恒流并测量其产生的磁场并计算得出。但是对于绕线面积大匝数少或者绕线面积小匝数多的亥姆霍兹线圈无法给其通合适电流产生合适的磁场,造成这些线圈产生的磁场往往很小而无法进行准确地测量,比如产生的磁场小于检测仪的最小量程而导致测量数据始终为零。


技术实现要素:

3.本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种可以扩大亥姆霍兹线圈的磁场,而后再逆向推导出亥姆霍兹线圈准确磁场的一种用于测量低量程磁场的测磁装置。
4.本实用新型解决上述问题所采用的技术方案为:一种用于测量低量程磁场的测磁装置,包括待检测的亥姆霍兹线圈、加强线圈、恒流源和核磁共振仪,所述恒流源、亥姆霍兹线圈与加强线圈串联以形成第一测量磁场,所述恒流源与加强线圈串联以形成第二测量磁场,所述核磁共振仪用于分别测量第一测量磁场和第二测量磁场的磁场大小,通过第一磁场与第二磁场的差值获得亥姆霍兹线圈的所形成的磁场大小。
5.与现有技术相比,本实用新型的优点在于:通过加强线圈的设计,扩大亥姆霍兹线圈的磁场,使磁场在核磁共振仪的测量范围内,以达到对第一测量磁场进行准确检测的目的,同时再检测加强线圈进行同电流的情况下形成的磁场大小,以达到对第二测量磁场进行准确检测的目的,根据磁场叠加的原理,第一测量磁场与第二测量磁场的差值即为亥姆霍兹线圈在检测位置的磁场大小。
6.作为本实用新型的一种改进,所述亥姆霍兹线圈包括待测上线圈和待测下线圈,所述待测上线圈设于待测下线圈的正上方,所述加强线圈包括加强上线圈和加强下线圈,所述加强上线圈设于加强下线圈的正上方,所述恒流源的电路从正极出发,依次穿过待测上线圈、加强上线圈、加强下线圈和待测下线圈,最后回归恒流源的负极以形成完整的用于形成第一测量磁场的串联闭合回路。
7.作为本实用新型的一种改进,所述用于测量低量程磁场的测磁装置还包括固定架,所述待测上线圈与待测下线圈通过紧固件固定连接在固定架的上、下两端,所述加强上线圈与加强下线圈设于待测上线圈与待测下线圈之间,通过所述改进,可以保证待测上线圈与待测下线圈位置的稳定性,保证测量的准确性。
8.作为本实用新型的一种改进,所述固定架包括固定脚,所述固定脚呈倒锥形,通过所述改进,可以稳定固定架的放置,从而保证测量的准确性。
9.作为本实用新型的一种改进,所述固定脚的一端设有固定螺纹,所述固定脚通过固定螺纹穿过待测下线圈用于将待测下线圈固定连接在固定架上,通过所述改进,可以避
免待测下线圈与固定脚的安装干涉,使安装更便捷。
10.作为本实用新型的一种改进,所述核磁共振仪包括数据探头,所述数据探头置于第一测量磁场中用于测量第一测量磁场的大小以及置于第二测量磁场中用于测量第二测量磁场的大小,通过所述改进,实现对测量第一测量磁场与第二测量磁场的检测。
11.作为本实用新型的一种改进,所述数据探头固定连接在连接架上,所述加强上线圈和加强下线圈分别缠绕在连接架的上端与下端,通过所述改进,可以保证对第二测量磁场测量的准确性,从而保证第一测量磁场与第二测量磁场差值的准确性,即保证了亥姆霍兹线圈磁场的准确性。
附图说明
12.图1是本实用新型整体结构示意图。
13.图2是本实用新型亥姆霍兹线圈连接结构半剖结构示意图。
14.图3是本实用新型数据探头连接结构示意图。
15.图中所示:1、亥姆霍兹线圈,1.1、待测上线圈,1.2、待测下线圈,2、加强线圈,2.1、加强上线圈,2.2、加强下线圈,3、恒流源,4、核磁共振仪,4.1、数据探头,4.2、连接架,5、固定架,5.1、固定脚,5.1.1、固定螺纹。
具体实施方式
16.下面结合附图对本实用新型的实施例作进一步描述。
17.如图1所示,一种用于测量低量程磁场的测磁装置,其特征在于:包括待检测的亥姆霍兹线圈1、加强线圈2、恒流源3和核磁共振仪4,所述恒流源3、亥姆霍兹线圈1与加强线圈2串联以形成第一测量磁场,所述恒流源3与加强线圈2串联以形成第二测量磁场,所述核磁共振仪4用于分别测量第一测量磁场和第二测量磁场的磁场大小,通过第一磁场与第二磁场的差值获得亥姆霍兹线圈1的所形成的磁场大小,所述亥姆霍兹线圈1包括待测上线圈1.1和待测下线圈1.2,所述待测上线圈1.1设于待测下线圈1.2的正上方,所述加强线圈2包括加强上线圈2.1和加强下线圈2.2,所述加强上线圈2.1设于加强下线圈2.2的正上方,所述恒流源3的电路从正极出发,依次穿过待测上线圈1.1、加强上线圈2.1、加强下线圈2.2和待测下线圈1.2,最后回归恒流源3的负极以形成完整的用于形成第一测量磁场的串联闭合回路,所述用于测量低量程磁场的测磁装置还包括固定架5,所述待测上线圈1.1与待测下线圈1.2通过紧固件固定连接在固定架5的上、下两端,所述加强上线圈2.1与加强下线圈2.2设于待测上线圈1.1与待测下线圈1.2之间。
18.如图1、图2所示,所述固定架5包括固定脚5.1,所述固定脚5.1呈倒锥形,所述固定脚5.1的一端设有固定螺纹5.1.1,所述固定脚5.1通过固定螺纹5.1.1穿过待测下线圈1.2用于将待测下线圈1.2固定连接在固定架5上。
19.固定脚5.1可以采用橡胶材料制作而成以增加固定脚5.1与放置位置的摩擦力。
20.如图1、图3所示,所述核磁共振仪4包括数据探头4.1,所述数据探头4.1置于第一测量磁场中用于测量第一测量磁场的大小以及置于第二测量磁场中用于测量第二测量磁场的大小,所述数据探头4.1固定连接在连接架4.2上,所述加强上线圈2.1和加强下线圈2.2分别缠绕在连接架4.2的上端与下端。
21.在使用过程中,先按图1所示的电线进行连接,形成第一测量磁场,并且从核磁共振仪4中获取该测量位置的磁场大小,而后取出数据探头4.1,将恒流源3的正极与加强上线圈2.1相连,恒流源3的负极与加强下线圈2.2相连,形成第二测量磁场,并且从核磁共振仪4中获取第二测量磁场的磁场大小,两者的差值即为亥姆霍兹线圈1的磁场大小,而后通过公式获得亥姆霍兹线圈系数。
22.以上仅就本实用新型的最佳实施例作了说明,但不能理解为是对权利要求的限制。本实用新型不仅局限于以上实施例,其具体结构允许有变化。凡在本实用新型独立权利要求的保护范围内所作的各种变化均在本实用新型保护范围内。


技术特征:
1.一种用于测量低量程磁场的测磁装置,其特征在于:包括待检测的亥姆霍兹线圈(1)、加强线圈(2)、恒流源(3)和核磁共振仪(4),所述恒流源(3)、亥姆霍兹线圈(1)与加强线圈(2)串联以形成第一测量磁场,所述恒流源(3)与加强线圈(2)串联以形成第二测量磁场,所述核磁共振仪(4)用于分别测量第一测量磁场和第二测量磁场的磁场大小,通过第一磁场与第二磁场的差值获得亥姆霍兹线圈(1)的所形成的磁场大小。2.根据权利要求1所述的一种用于测量低量程磁场的测磁装置,其特征在于:所述亥姆霍兹线圈(1)包括待测上线圈(1.1)和待测下线圈(1.2),所述待测上线圈(1.1)设于待测下线圈(1.2)的正上方,所述加强线圈(2)包括加强上线圈(2.1)和加强下线圈(2.2),所述加强上线圈(2.1)设于加强下线圈(2.2)的正上方,所述恒流源(3)的电路从正极出发,依次穿过待测上线圈(1.1)、加强上线圈(2.1)、加强下线圈(2.2)和待测下线圈(1.2),最后回归恒流源(3)的负极以形成完整的用于形成第一测量磁场的串联闭合回路。3.根据权利要求2所述的一种用于测量低量程磁场的测磁装置,其特征在于:所述用于测量低量程磁场的测磁装置还包括固定架(5),所述待测上线圈(1.1)与待测下线圈(1.2)通过紧固件固定连接在固定架(5)的上、下两端,所述加强上线圈(2.1)与加强下线圈(2.2)设于待测上线圈(1.1)与待测下线圈(1.2)之间。4.根据权利要求3所述的一种用于测量低量程磁场的测磁装置,其特征在于:所述固定架(5)包括固定脚(5.1),所述固定脚(5.1)呈倒锥形。5.根据权利要求4所述的一种用于测量低量程磁场的测磁装置,其特征在于:所述固定脚(5.1)的一端设有固定螺纹(5.1.1),所述固定脚(5.1)通过固定螺纹(5.1.1)穿过待测下线圈(1.2)用于将待测下线圈(1.2)固定连接在固定架(5)上。6.根据权利要求2所述的一种用于测量低量程磁场的测磁装置,其特征在于:所述核磁共振仪(4)包括数据探头(4.1),所述数据探头(4.1)置于第一测量磁场中用于测量第一测量磁场的大小以及置于第二测量磁场中用于测量第二测量磁场的大小。7.根据权利要求6所述的一种用于测量低量程磁场的测磁装置,其特征在于:所述数据探头(4.1)固定连接在连接架(4.2)上,所述加强上线圈(2.1)和加强下线圈(2.2)分别缠绕在连接架(4.2)的上端与下端。

技术总结
本实用新型公开一种用于测量低量程磁场的测磁装置,其特征在于:包括待检测的亥姆霍兹线圈(1)、加强线圈(2)、恒流源(3)和核磁共振仪(4),所述恒流源(3)、亥姆霍兹线圈(1)与加强线圈(2)串联以形成第一测量磁场,所述恒流源(3)与加强线圈(2)串联以形成第二测量磁场,所述核磁共振仪(4)用于分别测量第一测量磁场和第二测量磁场的磁场大小,通过第一磁场与第二磁场的差值获得亥姆霍兹线圈(1)的所形成的磁场大小。本实用新型提供一种可以扩大亥姆霍兹线圈的磁场,而后再逆向推导出亥姆霍兹线圈准确磁场的一种用于测量低量程磁场的测磁装置。确磁场的一种用于测量低量程磁场的测磁装置。确磁场的一种用于测量低量程磁场的测磁装置。


技术研发人员:黄可可 雷强
受保护的技术使用者:宁波兴隆磁性技术有限公司
技术研发日:2021.11.17
技术公布日:2022/4/26
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