显微镜挑片台的制作方法

1.本实用新型涉及石英晶片检测领域，具体的说，涉及了一种显微镜挑片台。


背景技术：

2.石英晶片在制作过程中，通常需要进行切片、粘砣、研磨、抛光等工艺，而在制作过程中，会经常需要采用显微镜对石英晶片进行外观检测。而现有的石英晶片检测平台并不能够将石英晶片完全平铺在显微镜的视野中，从而经常发生漏检状况，导致产品因外观检测不良而退货。
3.为了解决漏检的问题，申请号为201220211376.3的专利申请公开了一种晶片检测机，该装置采用一种载片台实现对晶片的x轴、y轴和角度进行检测功能，但该装置结构复杂、成本较高且操作水平要求较高。
4.为了解决以上存在的问题，人们一直在寻求一种理想的技术解决方案。


技术实现要素：

5.为了实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：一种显微镜挑片台，包括承载平台和滑动设置在所述承载平台上的平铺检测桌；
6.所述承载平台的上表面设置有中间隔条和多条滑槽，所述滑槽分布在所述中间隔条的两侧，多条所述滑槽均与所述中间隔条平行设置；
7.所述平铺检测桌的底部设置有与所述滑槽滑动配合的支腿。
8.基于上述，为了平稳滑动，所述平铺检测桌的底部设置有四个所述支腿，位于同一侧的两个所述支腿形成一副支腿组，两幅所述支腿组分别滑动设置在所述中间隔条两侧的滑槽内。
9.基于上述，为了实现平铺检测桌既能够沿滑槽滑动，又能够移动到不同滑槽内，所述平铺检测桌的宽度大于所述中间隔条的宽度。
10.基于上述，为了便于检测，所述平铺检测桌的上表面与所述承载平台的上表面平行设置。
11.基于上述，为了便于滑动，多条所述滑槽水平贯穿所述承载平台的上表面设置。
12.基于上述，为了确保每次检测的石英晶片数量相同，多条所述滑槽等间距设置。
13.基于上述，所述承载平台的下表面开设有多条底滑槽，多条所述底滑槽平行设置。
14.本实用新型相对现有技术具有实质性特点和进步，具体的说，本实用新型提供的显微镜挑片台，通过在承载平台上表面设置多条平行的滑槽，并在承载平台上滑动设置用于平铺石英晶片的平铺检测桌，从而在利用显微镜检测石英晶片的外观时，能够将石英晶片更好的摊开在平铺检测桌上，并可以随着平铺检测桌的滑动将石英晶片依次显现在显微镜视野中，从而保证了每个石英晶片均能够得到检测，避免了漏检的缺陷。该装置检测速度快、检测精度高。
附图说明
15.图1是本实用新型提供的显微镜挑片台整体结构示意图。
16.图2是本实用新型提供的显微镜挑片台中的承载平台结构示意图。
17.图3是本实用新型提供的显微镜挑片台中的平铺检测桌结构示意图。
18.图4是本实用新型实施例2提供的显微镜挑片台中的承载平台结构示意图。
19.图中：1、中间隔条；2、承载平台；3、平铺检测桌；4、下滑槽；5、支腿；6、上滑槽；7、底滑槽。
具体实施方式
20.下面通过具体实施方式，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。
21.实施例1
22.本实施例提供一种显微镜挑片台，如图1、图2、图3所示，包括承载平台2和滑动设置在所述承载平台2上的平铺检测桌3。
23.所述承载平台2的上表面设置有中间隔条1和多条滑槽，所述滑槽分布在所述中间隔条1的两侧，形成上滑槽6和下滑槽4。多条所述滑槽均与所述中间隔条1平行设置。
24.所述平铺检测桌3的底部设置有与所述滑槽滑动配合的支腿5。
25.为了平稳滑动，所述平铺检测桌3的底部设置有四个所述支腿5，位于同一侧的两个所述支腿5形成一副支腿组，两幅所述支腿组分别滑动设置在所述中间隔条1两侧的滑槽内。
26.为了实现平铺检测桌既能够沿滑槽滑动，又能够移动到不同滑槽内，所述平铺检测桌3的宽度大于所述中间隔条1的宽度。为了便于检测，所述平铺检测桌3的上表面与所述承载平台2的上表面平行设置。
27.为了便于滑动，多条所述滑槽水平贯穿所述承载平台2的上表面设置。
28.为了确保每次检测的石英晶片数量相同，多条所述滑槽等间距设置。
29.实施例2
30.本实施例提供一种显微镜挑片台，如图4所示，其结构与实施例1中的结构区别在于：本实施例中的承载平台的底部设置有多条平行的底滑槽7。
31.具体地，本实用新型提供的显微镜挑片台在检测石英晶片时，具体操作步骤如下：
32.首先将平铺检测桌水平放置在承载平台上，并使得平铺检测桌的支腿分别位于上滑槽和下滑槽中，然后将待检测的石英晶片摊平放置在平铺检测桌上，利用显微镜对进入显微镜视野内的石英晶片进行检测。然后沿滑槽逐渐移动平铺检测桌，对平铺检测桌上同行上不同位置的石英晶片进行检测。最后，将平铺检测桌在不同滑槽之间逐条移动，对平铺检测桌上不同行上的石英晶片进行检测。
33.最后应当说明的是:以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非对其限制；尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本实用新型的具体实施方式进行修改或者对部分技术特征进行等同替换；而不脱离本实用新型技术方案的精神，其均应涵盖在本实用新型请求保护的技术方案范围当中。


技术特征：
1.一种显微镜挑片台，其特征在于：包括承载平台和滑动设置在所述承载平台上的平铺检测桌；所述承载平台的上表面设置有中间隔条和多条滑槽，所述滑槽分布在所述中间隔条的两侧，多条所述滑槽均与所述中间隔条平行设置；所述平铺检测桌的底部设置有与所述滑槽滑动配合的支腿。2. 根据权利要求 1 所述的显微镜挑片台，其特征在于：所述平铺检测桌的底部设置有四个所述支腿，位于同一侧的两个所述支腿形成一副支腿组，两幅所述支腿组分别滑动设置在所述中间隔条两侧的滑槽内。3.根据权利要求1或2所述的显微镜挑片台，其特征在于：所述平铺检测桌的宽度大于所述中间隔条的宽度。4. 根据权利要求3 所述的显微镜挑片台，其特征在于：所述平铺检测桌的上表面与所述承载平台的上表面平行设置。5. 根据权利要求4 所述的显微镜挑片台，其特征在于：多条所述滑槽水平贯穿所述承载平台的上表面设置。6. 根据权利要求1或2 所述的显微镜挑片台，其特征在于：多条所述滑槽等间距设置。7. 根据权利要求6 所述的显微镜挑片台，其特征在于：所述承载平台的下表面开设有多条底滑槽，多条所述底滑槽平行设置。

技术总结
本实用新型提供一种显微镜挑片台，包括承载平台和滑动设置在所述承载平台上的平铺检测桌；所述承载平台的上表面设置有中间隔条和多条滑槽，所述滑槽分布在所述中间隔条的两侧，多条所述滑槽均与所述中间隔条平行设置；所述平铺检测桌的底部设置有与所述滑槽滑动配合的支腿。该显微镜挑片台能够将石英晶片更好的摊开在平铺检测桌上，并可以随着平铺检测桌的滑动将石英晶片依次显现在显微镜视野中，从而保证了每个石英晶片均能够得到检测，避免了漏检的缺陷。该装置检测速度快、检测精度高。检测精度高。检测精度高。


技术研发人员：申红卫 侯标 姜翠平 赵峰
受保护的技术使用者：济源石晶光电频率技术有限公司
技术研发日：2021.12.13
技术公布日：2022/6/9