一种适用于芯片Bar条角度测试夹具的制作方法

一种适用于芯片bar条角度测试夹具
技术领域
1.本实用新型涉及光通芯片制造领域，尤其涉及一种适用于芯片bar条角度测试夹具。


背景技术：

2.以往的bar条角度测试方法为使用电子显微镜去测试，没有固定的限位，装夹仅靠员工手动凭经验操作，导致bar条放置到显微镜上的位置不平整，影响测试精度、操作复杂繁琐，效率低。


技术实现要素：

3.为解决上述问题，本技术方案提供一种适用于芯片bar条角度测试夹具，通过高精度限位机构和高精度滑台有效解决上述问题。
4.为实现上述目的，本技术方案如下：
5.一种适用于芯片bar条角度测试夹具，包括底座，所述底座上一端设有固定架，所述固定架位于一侧的上方设有第一光源发射部，位于另一侧下方设有第二光源发射部，所述底座上还设有升降机构，所述升降机构还设有横向设置的滑动机构，所述滑动机构的内侧还设有用于调节角度的调节机构，所述调节机构还设有用于承载bar条的固定座。
6.在一些实施例中，所述调节机构包括固定底板和滑板，其中所述固定底板形状呈弧形，所述滑板形状与所述固定底板相匹配。
7.在一些实施例中，所述固定底板的中部凸起有限位部，其中所述限位部由上端面至下端面面积逐渐减小。
8.在一些实施例中，所述升降机构包括一驱动座，所述驱动座一端设有插入所述驱动座内并可沿其长度方向移动的驱动轴，另一端设有与所述驱动轴连接的顶起部，所述顶起部用于将所述滑动机构抬起。
9.在一些实施例中，所述升降机构还包括对称设置在所述底座上的限位块，所述滑动机构的下方设有与所述限位块配合的支撑脚。
10.在一些实施例中，所述限位块一侧设有延伸至所述滑动机构上的限位槽板，所述限位块还设有穿过所述限位槽板的限位档块。
11.在一些实施例中，所述滑动机构包括横向座以及与所述横向座配合的横向滑动板。
12.在一些实施例中，所述固定座设有若干个安装孔，还设有一固定档片，所述固定档片相对所述安装孔设有呈椭圆形的安装槽。
13.本申请有益效果为：
14.本申请通过滑动机构、调节机构以及升降机构可取代人手对bar条进行调节，以准确反射出研磨端面的角度，从而提高了精度，并且提高了效率。
附图说明
15.为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
16.图1是本实用新型实施例的结构示意图一；
17.图2是本实用新型实施例的调节机构分解结构示意图；
18.图3是本实用新型实施例的升降机构分解结构示意图；
19.图4是本实用新型实施例的光线发射示意图一；
20.图5是本实用新型实施例的光线发射示意图二。
具体实施方式
21.为了使本实用新型所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
22.请参照图1-5所示，一种适用于芯片bar条角度测试夹具，包括底座1，所述底座1上一端设有固定架2，所述固定架2位于一侧的上方设有第一光源发射部3，位于另一侧下方设有第二光源发射部4，所述底座1上还设有升降机构5，所述升降机构5还设有横向设置的滑动机构6，所述滑动机构6的内侧还设有用于调节角度的调节机构7，所述调节机构7还设有用于承载bar条的固定座8；
23.首先参考图5，第一光源发射部为8度测试，第二光源发射部为41度测试，首先第一光源发射部将光线发射至bar条端面上，经其斜端面反射在测试组件上，然后参考图4，根据从而测出端面的倾斜度，而设置有两个光源发射是为了可多角度进行检测，同时还可以实现测试多角度的产品。
24.另外滑动机构、调节机构以及升降机构可取代人手对bar条进行调节，保证测试的精度，确保测量的数据准确，误差小。
25.在本实施例中，所述调节机构7包括固定底板71和滑板72，其中所述固定底板71形状呈弧形，所述滑板72形状与所述固定底板71相匹配，参考图2，在此形状的设计上，滑板可沿弧形进行滑动，从而可带动bar条进行角度的调节，利用精确检测。
26.在本实施例中，所述固定底板71的中部凸起有限位部73，其中所述限位部73由上端面至下端面面积逐渐减小，从图2可知，从限位部一端看，限位部呈倒梯形设计，而滑板的形状与限位部匹配，这样配合后有足够的抓合力可使得滑板与固定底部之间摩擦配合，在外力作用下方可移动，在没外力作用下处于静止状态。
27.在本实施例中，所述升降机构5包括一驱动座51，所述驱动座51一端设有插入所述驱动座51内并可沿其长度方向移动的驱动轴52，另一端设有与所述驱动轴52连接的顶起部53，所述顶起部53用于将所述滑动机构6抬起，顶起部呈三角形，并且活动连接在驱动座的一端上，将驱动轴往顶起部推，当然也可以螺纹连接在驱动座上，旋转时可以往顶起部侧移动，从而将顶起部顶起，进而将bar台升高，反之则下降。
28.在本实施例中，所述升降机构5还包括对称设置在所述底座1上的限位块54，所述滑动机构6的下方设有与所述限位块54配合的支撑脚55，参考图3，支撑脚伸入限位块内以
在限位块的限位作用下上下移动，而支撑脚的中部则与顶起部配合，以将支撑脚抬起。
29.在本实施例中，所述限位块54一侧设有延伸至所述滑动机构6上的限位槽板56，所述限位块54还设有穿过所述限位槽板56的限位档块57，用于限制上升的行程。
30.在本实施例中，所述滑动机构6包括横向座61以及与所述横向座61配合的横向滑动板62，通过推动横向滑动板以调节bar条的横向位置。
31.在本实施例中，所述固定座8设有若干个安装孔，还设有一固定档片81，所述固定档片81相对所述安装孔设有呈椭圆形的安装槽82，通过安装槽可改变固定档片的位置，以适配不同尺寸的bar条，通用性高。
32.以上所述仅为本申请的较佳实施例，并非用来限定本申请实施的范围，其他凡其原理和基本结构与本申请相同或近似的，均在本申请的保护范围之内。


技术特征：
1.一种适用于芯片bar条角度测试夹具，其特征在于，包括底座(1)，所述底座(1)上一端设有固定架(2)，所述固定架(2)位于一侧的上方设有第一光源发射部(3)，位于另一侧下方设有第二光源发射部(4)，所述底座(1)上还设有升降机构(5)，所述升降机构(5)还设有横向设置的滑动机构(6)，所述滑动机构(6)的内侧还设有用于调节角度的调节机构(7)，所述调节机构(7)还设有用于承载bar条的固定座(8)。2.根据权利要求1所述的一种适用于芯片bar条角度测试夹具，其特征在于：所述调节机构(7)包括固定底板(71)和滑板(72)，其中所述固定底板(71)形状呈弧形，所述滑板(72)形状与所述固定底板(71)相匹配。3.根据权利要求2所述的一种适用于芯片bar条角度测试夹具，其特征在于：所述固定底板(71)的中部凸起有限位部(73)，其中所述限位部(73)由上端面至下端面面积逐渐减小。4.根据权利要求1所述的一种适用于芯片bar条角度测试夹具，其特征在于：所述升降机构(5)包括一驱动座(51)，所述驱动座(51)一端设有插入所述驱动座(51)内并可沿其长度方向移动的驱动轴(52)，另一端设有与所述驱动轴(52)连接的顶起部(53)，所述顶起部(53)用于将所述滑动机构(6)抬起。5.根据权利要求4所述的一种适用于芯片bar条角度测试夹具，其特征在于：所述升降机构(5)还包括对称设置在所述底座(1)上的限位块(54)，所述滑动机构(6)的下方设有与所述限位块(54)配合的支撑脚(55)。6.根据权利要求5所述的一种适用于芯片bar条角度测试夹具，其特征在于：所述限位块(54)一侧设有延伸至所述滑动机构(6)上的限位槽板(56)，所述限位块(54)还设有穿过所述限位槽板(56)的限位档块(57)。7.根据权利要求1所述的一种适用于芯片bar条角度测试夹具，其特征在于：所述滑动机构(6)包括横向座(61)以及与所述横向座(61)配合的横向滑动板(62)。8.根据权利要求1所述的一种适用于芯片bar条角度测试夹具，其特征在于：所述固定座(8)设有若干个安装孔，还设有一固定档片(81)，所述固定档片(81)相对所述安装孔设有呈椭圆形的安装槽(82)。

技术总结
一种适用于芯片Bar条角度测试夹具，包括底座，所述底座上一端设有固定架，所述固定架位于一侧的上方设有第一光源发射部，位于另一侧下方设有第二光源发射部，所述底座上还设有升降机构，所述升降机构还设有横向设置的滑动机构，所述滑动机构的内侧还设有用于调节角度的调节机构，所述调节机构还设有用于承载BAR条的固定座，本申请有益效果为：本申请通过滑动机构、调节机构以及升降机构可取代人手对BAR条进行调节，以准确反射出研磨端面的角度，从而提高了精度，并且提高了效率。并且提高了效率。并且提高了效率。


技术研发人员：何褀昌 文羑煟
受保护的技术使用者：安捷芯科技有限公司
技术研发日：2021.12.30
技术公布日：2022/5/29