一种高通量测序系统工作台的轨迹控制方法及装置与流程

本申请涉及控制，特别是涉及一种高通量测序系统工作台的轨迹控制方法及装置。

背景技术：

1、高通量测序系统是基于荧光反应和光学系统成像对待测样品进行测定，在基于步进凝视成像的高通量测序系统中，其工件台的在收敛整定过程所需的时间快慢决定测序通量的高低。具体而言，工作台携带有待测样品从初始位置以设定的运动轨迹运动至目标位置，在运动至目标位置后进入收敛整定过程，收敛整定后经由光学系统成像对待测样品进行序列分析。

2、相关技术中，高通量测序系统工作台以设定的运动轨迹运动至目标位置后，由于工作台运动至目标位置时的冲击力过大，导致收敛整定阶段中系统的整定时间过长且超调量大，即，工作台难以在短时间内收敛整定，从而造成所采集的用于测序分析的通量损失。

3、可见，高通量测序系统工作台的运动轨迹对高通量测序分析至关重要，如何控制工作台快速收敛整定是亟待解决的技术问题。

技术实现思路

1、为了解决上述技术问题，本申请提供了一种高通量测序系统工作台的轨迹控制方法及装置，缩短了工作台到达目标位置后在收敛整定阶段的稳定时长。

2、本申请实施例公开了如下技术方案：

3、一方面，本申请实施例提供了一种高通量测序系统工作台的轨迹控制方法，所述方法包括：

4、控制工作台从初始位置运动至第一位置，所述工作台在第一运动阶段的运动时长为第一时长；所述第一运动阶段用于标识所述工作台从所述初始位置运动至所述第一位置的轨迹；

5、控制所述工作台从所述第一位置运动至目标位置，所述工作台在第二运动阶段的运动时长为第二时长；所述第二运动阶段用于标识所述工作台从所述第一位置运动至所述目标位置的轨迹；

6、其中，所述第一时长小于所述第二时长，所述工作台在所述初始位置和所述目标位置时的运动速度为零。

7、另一方面，本申请实施例提供了一种高通量测序系统工作台的轨迹控制装置，所述装置包括第一控制单元和第二控制单元：

8、所述第一控制单元，用于控制工作台从初始位置运动至第一位置，所述工作台在第一运动阶段的运动时长为第一时长；所述第一运动阶段用于标识所述工作台从所述初始位置运动至所述第一位置的轨迹；

9、所述第二控制单元，用于控制所述工作台从所述第一位置运动至目标位置，所述工作台在第二运动阶段的运动时长为第二时长；所述第二运动阶段用于标识所述工作台从所述第一位置运动至所述目标位置的轨迹；

10、其中，所述第一时长小于所述第二时长，所述工作台在所述初始位置和所述目标位置时的运动速度为零。

11、由上述技术方案可以看出，控制工作台在第一运动阶段的运动时长为第一时长，控制工作台在第二运动阶段的运动时长为第二时长；其中，第一运动阶段用于标识工作台从初始位置运动至第一位置的轨迹，第二运动阶段用于标识工作台从第一位置运动至目标位置的轨迹。由于工作台在初始位置和目标位置时的运动速度为零，且第一时长小于第二时长，即，在工作台从初始位置到目标位置的运动过程中，通过控制加速运动阶段的时长小于减速运动的时长，使得工作台能够有足够的时长进行减速运动至目标位置，由此减小工作台到达目标位置时的冲击力，从而能够缩短工作台达到目标位置之后在收敛整定阶段的稳定时长。

技术特征：

1.一种高通量测序系统工作台的轨迹控制方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一阶段包括第一子阶段和第二子阶段，则，所述控制工作台从初始位置运动至第一位置，所述工作台在第一运动阶段的运动时长为第一时长，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述工作台运动至所述目标位置后，还包括：

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其特征在于，在所述第一位置时，所述工作台的运动速度为最大值。

5.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述工作台携带有需进行高通量测序分析的待测样品。

6.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其特征在于，所述工作台的步进距离为预设阈值；所述步进距离用于标识所述工作台从所述初始位置到所述目标位置的距离。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述工作台的步进时长为预设时长；所述步进时长用于标识所述工作台运动所述步进距离的运动时长。

8.一种高通量测序系统工作台的轨迹控制装置，其特征在于，所述装置包括第一控制单元和第二控制单元：

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第一控制单元包括第一子控制单元和第二子控制单元，所述第二控制单元包括第三子控制单元和第四子控制单元：

10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括测定单元：

技术总结
本申请实施例公开了一种高通量测序系统工作台的轨迹控制方法及装置，控制工作台在第一运动阶段的运动时长为第一时长，控制工作台在第二运动阶段的运动时长为第二时长；其中，第一运动阶段用于标识工作台从初始位置运动至第一位置的轨迹，第二运动阶段用于标识工作台从第一位置运动至目标位置的轨迹。由于工作台在初始位置和目标位置时的运动速度为零，且第一时长小于第二时长，即，在工作台从初始位置到目标位置的运动过程中，通过控制加速运动阶段的时长小于减速运动的时长，使得工作台能够有足够的时长进行减速运动至目标位置，由此减小工作台到达目标位置时的冲击力，从而能够缩短工作台达到目标位置之后在收敛整定阶段的稳定时长。

技术研发人员：王凌欣,高慧斌,张鑫,亢科,曹天洋
受保护的技术使用者：长春长光华大智造测序设备有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15