电子零件测试装置及其测试板构造、测试板制造方法与流程

本发明有关于一种测试装置及其测试板构造、测试板制造方法，尤指一种使用在电子零件检测中用以搬送待测零件进行测试检查的电子零件测试装置电子零件测试装置及其测试板构造、测试板制造方法。

背景技术：

1、一般电子零件在制造完成后通常需经过测试以确定其物理特性，例如用于电容类的电子零件测试的公告号码第411735号的「电路元件装卸装置」专利申请案所提供的设备，其以圆盘状的测试板上形成一个或数个元件槽座的同心环座可相对于环心旋转，槽座均匀地以角度间隔并以增量方式旋转，而该旋转增量即是相邻槽座间的角度间隔，该环座以某个角度顷斜，而且当环座旋转时，元件流路向环座倾倒元件，邻接于槽座的外板侧边的固定栅板局限未归位的元件因动力而随机滚落于通过环座旋转路径的弧段的空槽座，随机的滚动使元件归位入槽座中，在旋转环座的路径中有用以连接元件和测试机的电子接触器，被测试过的元件经过一喷出歧管的下方，该喷出歧管板界定了许多喷出孔，而每当环座旋转一增量时喷出孔则与一组槽座相互对齐，喷出管与喷出口相连接，元件被选择性启动的各个气压阀门的空气的鼓风而从槽座喷出，由空气的鼓风和重力作用，喷出的元件经由管子落下并依管路板的导引进入分类储盒中，元件流路能响应于表示栅板缺少元件的检测器的信号而选择性地被引向该栅板，感应器能检测出在座槽中尚未被喷出歧管所喷出的元件。

2、ja2021—190604「电子零件检查分选装置用的晶片电子零件搬送圆盘」日本特许专利案针对该测试板公开一种搬送圆盘，在输送圆盘的背面形成有同心圆状的凹槽，所述同心圆状的凹槽将以同心圆状形成有多列的通孔群的各自内包；另亦公开在搬送圆盘的背面形成凹槽，该凹槽与在半径方向上形成多列的通孔群的各列并列。

3、该ja2021—190604日本专利申请案的现有技术虽然借由在搬送圆盘的背面形成凹槽，但其凹槽的面积庞大，并涵盖多个同心圆的整个环状面积，或与半径方向上多列通孔群并列，凹槽的面积庞大不仅造成加工上的费时及高成本，使本来就已相当薄的搬送圆盘更显得强度变弱而容易损坏；另，由于一般测试板常位于一承载底盘上作间歇性旋转磨擦，该凹槽为避免测试板强度变弱，故都仅以极微深度为之，故长期磨擦造成的磨损易使凹槽破坏，失去其完整的凹槽边界，仍有待改善之处！

技术实现思路

1、因此，本发明的目的在于提供一种改善现有技术至少一项缺失的电子零件测试装置的测试板构造。

2、本发明的另一目的在于提供一种改善现有技术至少一项缺失的电子零件测试装置的测试板制造方法。

3、本发明的又一目的在于提供一种使用如所述测试板的电子零件测试装置。

4、依据本发明目的的电子零件测试装置的测试板构造，包括：

5、由非导电材料制成圆形薄片状，其上表面设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴包括在每一该座槽底部各朝槽缘外侧扩增一具有几何形状的第一边界的第一凹设浅穴。

6、依据本发明目的的另一电子零件测试装置的测试板构造，包括：由非导电材料制成圆形薄片状，其上表面设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴包括在两相邻的行的两座槽间设有具几何形状的第二边界的第二凹设浅穴；该第二边界为一封闭状，在该测试板径向同一行设有多个该第二凹设浅穴。

7、依据本发明目的的又一电子零件测试装置的测试板构造，包括：由非导电材料制成圆形薄片状，其上表面设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴包括在该座槽底部各朝槽缘外侧扩增的第一凹设浅穴、位于两座槽间的第二凹设浅穴。

8、依据本发明目的的再一电子零件测试装置的测试板构造，包括：由非导电材料制成圆形薄片状，其中间设有供固定的固定孔，上表面则设有在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽，该座槽每一列环状相隔间距设置多数个，各列径向对应的该座槽间隔排列呈多数行；该测试板下表面每一该座槽底部各径向伸设一段凹设的导沟；在该测试板上表面间歇旋转流路方向的该座槽前侧设有一导引部，该导引部与该座槽相连通以将待测零件导引入该座槽。

9、依据本发明另一目的的电子零件测试装置的测试板制造方法，包括：由非导电材料制成圆形薄片状，其在该测试板下表面加工出以耐磨材料所形成的一膜层，形成该膜层后，再于已具有该膜层的该测试板加工形成包括：在径向相隔间距的多列同心环状设置的镂设的座槽、每一该座槽底部各径向伸设的导沟、及多个凹设浅穴。

10、依据本发明又一目的的电子零件测试装置，使用如所述测试板。

11、本发明实施例的电子零件测试装置及其测试板构造、测试板制造方法，由于形成于该测试板下表面的凹设浅穴面积范围较小，不像现有技术必须涵盖多个同心圆的整个环状面积，或与半径方向上多列通孔群并列，故可以采用加工工具作快速而有效率的加工完成，并降低成本，若在该测试板下表面以耐磨材料形成膜层，由于形成该膜层后，再于已具有该膜层的该测试板加工形成该座槽、该导沟、及该凹设浅穴，故在形成该膜层时无须绕过该座槽、该导沟、及该凹设浅穴，使加工较容易；另，亦可在该测试板上表面间歇旋转流路方向的该座槽前侧设有该导引部，使待测零件落置于该座槽更容易。

技术特征：

1.一种电子零件测试装置的测试板构造，包括：

2.如权利要求1所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，该第一边界为一封闭状，仅与该第一凹设浅穴所设部位处的一个该座槽及一个该导沟相通。

3.如权利要求1所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，相邻不同列的环形路径上的两个该座槽底部的该第一凹设浅穴的该第一边界间保持一第一列距而不相交叠及导通，相邻不同行间的两个该座槽底部的该第一凹设浅穴的该第一边界间保持一第一行距而不相交叠及导通。

4.如权利要求1所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，该第一边界为圆形或矩形其中之一。

5.一种电子零件测试装置的测试板构造，包括：

6.如权利要求5所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，相邻不同列的环形路径上的两个该第二凹设浅穴的该第二边界间保持一第二列距而不相交叠及导通，相邻不同行间的两个该第二凹设浅穴的该第二边界间保持一第二行距而不相交叠及导通。

7.如权利要求5所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，相邻不同行间的该第二凹设浅穴的该第二边界与该第一凹设浅穴的该第一边界间保持一邻距而不相交叠及导通。

8.一种电子零件测试装置的测试板构造，包括：

9.如权利要求8所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，该同一列中各该第一凹设浅穴中心所环列围设成的圆形路径，与同一列中各该第二凹设浅穴中心所环列围设成的圆形路径是在同一个半径上。

10.一种电子零件测试装置的测试板构造，包括：

11.如权利要求10所述的电子零件测试装置的测试板构造，其中，该导引部自该座槽上方开口周缘外的该测试板水平表面向该座槽倾斜，在与该座槽上方的开口周缘相接处低于该开口周缘一段间距。

12.一种电子零件测试装置的测试板制造方法，包括：

13.如权利要求12所述的电子零件测试装置的测试板制造方法，其中，该凹设浅穴是在每一该座槽底部各朝槽缘外侧扩增一具有几何形状的第一边界的第一凹设浅穴。

14.如权利要求12所述的电子零件测试装置的测试板制造方法，其中，该凹设浅穴是在两相邻的行的两座槽间设有具几何形状的第二边界的第二凹设浅穴；该第二边界为一封闭状，在该测试板径向同一行设有多个该第二凹设浅穴。

15.一种电子零件测试装置，使用如权利要求1～14中任一权利要求所述的测试板。

技术总结
本发明提供一种电子零件测试装置及其测试板构造、测试板制造方法，该测试板下表面设有多个凹设浅穴，该凹设浅穴采用每一该座槽底部各朝槽缘外侧扩增一具有几何形状的第一边界的第一凹设浅穴；或在两相邻的行的两座槽间设有具几何形状的第二边界的第二凹设浅穴，该第二边界为一封闭状，在该测试板径向同一行设有多个该第二凹设浅穴；借此使加工较容易，成本可以降低。

技术研发人员：卢昱呈
受保护的技术使用者：万润科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14