不规则微小弹片厚度测量专用千分尺的制作方法

1.本发明涉及测量工具，具体为一种不规则微小弹片厚度测量专用千分尺。


背景技术：

2.本申请人公司航天航空用继电器及开关插件等产品中包含较多不规则微小簧片，这些不规则微小簧片的外形尺寸都以毫米为单位计量，形状各异，批量大，加工过程较简单，均采用落料
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光饰
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成形(直接压弯或弯曲卷圈)的工序过程，每道工序都需要检测不规则微小簧片本体厚度尺寸的变化。
3.由于不规则微小簧片本体具有厚度薄、刚性差和容易变形的特点，一般不适应采用通用量具如普通千分尺进行测量，而采用其他辅助测量工具测量时都存在一定的缺陷与不足，如存在测量误差或测量费时费力的问题。


技术实现要素：

4.为解决由于通用量具的局限性带来的测量问题，本发明提出了一种不规则微小弹片厚度测量专用千分尺。
5.能够解决上述技术问题的不规则微小弹片厚度测量专用千分尺，其技术方案包括“u”型尺架，所述“u”型尺架的前端设有测砧，“u”型尺架的后端设有由测微装置控制的螺杆，所不同的是所述测砧包括固定座和测量杆，所述固定座设于“u”型尺架前端的顶部，所述测量杆竖直设于固定座的顶部，所述螺杆前端的测头对位于测量杆的后侧面，所述测微装置的读数归零时，所述测头与测量杆相接触。
6.进一步，所述测头的顶部平齐于测量杆的顶部
7.再进一步，所述测量杆的直径设计为φ1mm
×
3.5mm，所述测头的直径设计为φ3mm
×
6mm，所述固定座的直径设计为φ3.5mm
×
5mm。
8.常规上，所述测微装置上设有带数据输出端口的液晶显示器。
9.本发明的有益效果：
10.本发明不规则微小弹片厚度测量专用千分尺能达到简便、精确、高效测量的测量目的，降低了传统测量方式的生产成本，实现了快速直接准确的测量。
附图说明
11.图1为本发明一种实施方式的结构示意图。
12.图2为图1实施方式中a处的局部放大图。
13.图3为采用图1实施方式进行测量的半开口卷圈簧片的结构示意图。
14.图4为采用图1实施方式对图3所示半开口卷圈簧片进行测量的示意图(俯视)。
15.图号标识：1、“u”型尺架；2、测砧；2-1、固定座；2-2、测量杆；3、螺杆；3-1、测头；4、测微装置；4-1、液晶显示器；5、半开口卷圈簧片。
具体实施方式
16.下面结合附图所示实施方式对本发明的技术方案作进一步说明。
17.本发明不规则微小弹片厚度测量专用千分尺，包括相互作用进行测量的测砧2和螺杆3，所述测砧2设于“u”型尺架1的前端，所述螺杆3设于“u”型尺架1后端上设置的测微装置4内并在测微装置4的旋动控制下向测砧2前进或后退，所述测微装置4上设有带数据输出端口的液晶显示器4-1，如图1所示。
18.所述测砧2包括固定座2-1和测量杆2-2，所述固定座2-1设于“u”型尺架1前端的顶部上，所述测量杆2-2同轴竖直设于固定座2-1上，如图2所示。
19.所述螺杆3的前端同轴设有与测量杆2-2相对的测头3-1，所述测头3-1的顶部平齐于测量杆2-2的顶部，测头3-1的底部高于固定座2-1的顶部，测头3-1的长度大于固定座2-1的半径；所述测微装置4的读数归零时，所述测头3-1与测量杆2-2的后侧面相接触，如图2所示。
20.所述固定座2-1采用不锈钢材料(1cr18ni9ti)制作，其规格尺寸为φ3.5mm
×
5mm。
21.所述测量杆2-2采用不锈钢材料(1cr18ni9ti)制作，其规格尺寸为φ1mm
×
3.5mm。
22.所述测头3-1采用不锈钢材料(1cr18ni9ti)制作，其规格尺寸为φ3mm
×
6mm。
23.本申请人公司的航天航空产品内部采用一种半开口卷圈簧片5，其外形结构及相关尺寸如图3所示，采用本发明测量半开口卷圈簧片5厚度的操作方法为：
24.测量时，与普通千分尺使用方法一样，一手水平把持半开口卷圈簧片5，一手垂直把持专用千分尺，将半开口卷圈簧片5套入测量杆2-2并靠平在固定座2-1上，将半开口卷圈簧片5被测部位的内侧面贴平于测量杆2-2的后侧面，半开口卷圈簧片5的高度不超过测量杆2-2的顶部，顺时针旋转测微装置4而驱动螺杆3及测头3-1向前移动而使得测头3-1的前端面与半开口卷圈簧片5被测部位的外侧面接触，此时在液晶显示器4-1上显示的读数即为半开口卷圈簧片5被测部位的厚度尺寸，如有需要可以通过液晶显示器4-1的输出端口连接计算机输出数据，如图4所示。


技术特征：
1.不规则微小弹片厚度测量专用千分尺，包括“u”型尺架(1)，所述“u”型尺架(1)的前端设有测砧(2)，“u”型尺架(1)的后端设有由测微装置(4)控制的螺杆(3)，其特征在于：所述测砧(2)包括固定座(2-1)和测量杆(2-2)，所述固定座(2-1)设于“u”型尺架(1)前端的顶部，所述测量杆(2-2)竖直设于固定座(2-1)的顶部，所述螺杆(3)前端的测头(3-1)对位于测量杆(2-2)的后侧面，所述测微装置(4)的读数归零时，所述测头(3-1)与测量杆(2-2)相接触。2.根据权利要求1所述的不规则微小弹片厚度测量专用千分尺，其特征在于：所述测头(3-1)的顶部平齐于测量杆(2-2)的顶部。3.根据权利要求2所述的不规则微小弹片厚度测量专用千分尺，其特征在于：所述测量杆(2-2)的直径为φ1mm
×
3.5mm，所述测头(3-1)的直径为φ3mm
×
6mm，所述固定座(2-1)的直径为φ3.5mm
×
5mm。4.根据权利要求1～3中任意一项所述的不规则微小弹片厚度测量专用千分尺，其特征在于：所述测微装置(4)上设有带数据输出端口的液晶显示器(4-1)。

技术总结
本发明公开了一种不规则微小弹片厚度测量专用千分尺，包括“U”型尺架，所述“U”型尺架的前端设有测砧，“U”型尺架的后端设有由测微装置控制而旋进或旋退的螺杆，所述测砧包括固定座和测量杆，所述固定座设于“U”型尺架前端的顶部，所述测量杆竖直设于固定座的顶部，所述螺杆前端的测头对位于测量杆的后侧面，所述测微装置的读数归零时，所述测头与测量杆相接触。本发明能达到简便、精确、高效测量的测量目的，降低了传统测量方式的生产成本，实现了快速直接准确的测量。速直接准确的测量。速直接准确的测量。


技术研发人员：何勇
受保护的技术使用者：桂林航天电子有限公司
技术研发日：2022.04.20
技术公布日：2022/7/5