一种高低温微波性能测试调度优化方法及系统与流程

1.本发明涉及软件自动化测试技术领域，尤其涉及一种高低温微波性能测试调度优化方法及系统。


背景技术：

2.在传统的微波环境测试即高低温测试下通常采用以下的流程：
3.a)放入一个产品到高低温箱(简称温箱)；
4.b)设置温度参数并启动温箱运行；
5.c)在到达设定温度后取出产品；
6.d)进行电性能指标测试；
7.e)完成测试后放入下一个产品进行高低温试验。
8.但是，由于产品测试的温度和时长不一致，往往存在以下浪费：
9.1)由于产品在设定温度下满足高温(或者低温)时间后需要立刻进行测试，因而无法同时放入一批产品，传统的方式串行放入一个一个确实简单易行，但是整个测试的时间会持续很长，这也是用户的核心痛点，在短期内有大量测试任务的时候往往需要连续几天24小时测试。
10.2)按照实际情况，前一个产品开始测试的时候后一个产品就能放入进行高低温试验，但是由于测试时长不一致，因此此时全凭测试人员的操作，并且由于没有详细的计算，只能有一部分实现前一个产品测试和后一个产品温度试验。此外，有些型号测试良率不高，需要复测，这样会占用更多的测试时间，使得实际测试时间高于理论时间，造成人工预测不准的情况。
11.3)由于产品的测试温度不完全一致，没有很好的排产情况下往往还需要多次设定温度，中间的升温降温时间也是浪费。
12.因此，现有技术还有待进一步改进。


技术实现要素：

13.本发明的目的在于提供一种高低温微波性能测试调度优化方法及系统，结合产品拾取机械手自动抓取产品，实时采集温箱和测试设备状态、根据产品测试任务的任务基础数据(包括温度、测试时间)，软件的调度策略功能分析数据做出决策，给出当前待测产品的最优调度策略，向温箱发出自动设置指令，以有效解决上述问题，实现无人化的高效率测试。
14.为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
15.本技术第一个方面公开了一种高低温微波性能测试调度优化方法，包括：
16.获取待测产品数据，包括产品型号、测试程序、温度试验条件、测试目标完成时间条件；
17.判断第一条件是否满足：(预定目标完成时间-(当前时间+温度准备时间+测试目
标完成时间))《安全设定值；
18.如果满足第一条件，则执行待测产品任务交付最优先策略，即该待测产品优先测试；
19.否则，执行混合策略，计算出剩余的待测产品进入温箱的先后次序、以及待测产品进入温箱的时间和取出时间，所述混合策略包括优先级由高到低依次排序的温度连续升降策略、同一温度产品优先策略，以及时间匹配策略；
20.其中，所述预定目标完成时间，表示在生产制造执行系统(mes)中设定的本任务需要完成的截止时间；
21.所述温度准备时间，表示待测产品(处于高低温箱内)在设定温度下静置的时间，完成此步骤后才能开始测试；
22.所述测试目标完成时间，表示待测产品完成测试所需的典型时间；
23.所述温度连续升降策略，表示多种待测产品同时测试时，按照测试温度由高到低或由低到高进行排序；
24.所述同一温度产品优先策略，表示多种待测产品同时测试时，对于测试温度要求相同的待测产品，同时放入温箱进行高温低温测试的静置准备；
25.所述时间匹配策略，表示当前待测产品的温度准备时间与上一个待测产品的测试目标完成时间差值最小。
26.优选地，当有多个产品同时满足待测产品任务交付最优先策略的条件时，按照任务完成的紧迫程度对待测产品的优先级进行排序。
27.优选地，所述待测产品完成测试所需的典型时间，初始为预估的理论时间，在有第一预设数量的测试数据后用第二预设数量的同一型号产品实际测试时间的均值来计算，并代替预估的理论时间。
28.优选地，所述方法还包括：实时采集温箱的当前状态，并更新至第一数据库中，所述温箱的当前状态包括温箱的设定温度、温箱内温度上升的速度和温箱的当前温度。
29.更优选地，所述方法还包括：每次测试完成后，均保存待测产品的测试结果至第一数据库，所述测试结果包括、但不限于产品型号、产品名称、程序号和测试时间。
30.优选地，所述方法还包括：实时采集测试设备的当前状态，并保存到第二数据库，所述测试设备的当前状态包括测试设备的运行状态、在测产品和测试开始时间。
31.优选地，所述方法还包括：排程执行过程中，每加入一个待测产品，排程都需检查当前队列中的待测产品是否均满足待测产品任务交付最优先策略。
32.本技术第二个方面公开了一种高低温微波性能测试调度优化系统，包括：
33.获取模块，用于获取待测产品数据，所述待测产品数据包括产品型号、测试程序、温度试验条件、测试目标完成时间条件；
34.判断模块，用于判断第一条件是否满足，所述第一条件为：(预定目标完成时间-(当前时间+温度准备时间+测试目标完成时间))《安全设定值；
35.待测产品任务交付最优先策略执行模块，用于在判断模块判断出第一条件满足时，执行待测产品任务交付最优先策略，即该待测产品优先测试；
36.混合策略执行模块，用于在判断模块判断出第一条件不满足时，计算出剩余的待测产品进入温箱的先后次序、以及待测产品进入温箱的时间和取出时间，所述混合策略包
括优先级由高到低依次排序的温度连续升降策略、同一温度产品优先策略，以及时间匹配策略；
37.其中，所述预定目标完成时间，表示在生产制造执行系统(mes)中设定的本任务需要完成的截止时间；
38.所述温度准备时间，表示待测产品(处于高低温箱内)在设定温度下静置的时间，完成此步骤后才能开始测试；
39.所述测试目标完成时间，表示待测产品完成测试所需的典型时间；
40.所述温度连续升降策略，表示多种待测产品同时测试时，按照测试温度由高到低或由低到高进行排序；
41.所述同一温度产品优先策略，表示多种待测产品同时测试时，对于测试温度要求相同的待测产品，同时放入温箱进行高温低温测试的静置准备；
42.所述时间匹配策略，表示当前待测产品的温度准备时间与上一个待测产品的测试目标完成时间差值最小。(需要确认描述是否准确，如有误，请完善。)
43.本技术第三个方面公开了一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述第一个方面所述的一种高低温微波性能测试调度优化方法。
44.本技术第四个方面公开了一种存储介质，所述存储介质上存储有高低温微波性能测试调度优化程序，所述高低温微波性能测试调度优化程序被处理器执行时实现上述第一个方面所述的一种高低温微波性能测试调度优化方法的步骤。
45.与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下有益效果：
46.本技术公开了一种高低温微波性能测试调度优化方法及系统，结合产品拾取机械手自动抓取产品，根据采集的测试设备状态、温箱状态(包括设定温度、温升速度、当前温度)和当前需要测试的产品任务(包括产品型号、测试程序、温度试验条件、测试目标完成时间条件)，结果保存在数据库的该型号产品的历史测试时间和设备良率等，对需要测试的产品进行动态计算，经过一系列的调度策略算法裁决，给出当前待测产品的最优调度策略，向温箱发出自动设置指令，实现了无人化的高效率测试。
附图说明
47.构成本技术的一部分附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
48.图1是本发明一种高低温微波性能测试调度优化方法的流程示意图；
49.图2是本发明一种高低温微波性能测试调度优化方法的工作原理框图；
50.图3是本发明一种高低温微波性能测试调度优化系统的组成框图。
具体实施方式
51.本发明提供一种高低温微波性能测试调度优化方法及系统，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实例对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
52.需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第
二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序，应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换。此外，术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
53.实施例1
54.使用本技术方法的软件需要机械手以及经过改造支持自动取放产品的多位置温箱等硬件配合，根据采集的测试设备状态、温箱状态(包括设定温度、温升速度、当前温度)和当前需要测试的产品任务(包括产品型号、测试程序、温度试验条件、测试目标完成时间条件)，结果保存在数据库的该型号产品的历史测试时间和设备良率等，对需要测试的产品进行动态计算，经过一系列的调度策略算法裁决，调度策略包含有：同一温度产品优先策略，时间匹配策略，温箱温度升降连续策略，待测试产品任务交付最优先策略等，最后发给机械手执行。并且在每个产品完成测试或者给出一个新的待测产品时需要重新计算。
55.本技术方法所需要的数据支撑包括：
56.1)软件采集温箱的当前状态(包括温箱的设定温度、温箱的温升速度、温箱当前温度等)，并更新到数据库。
57.2)软件采集测试设备的当前状态(包括测试设备的运行状态、在测产品、测试开始时间等)，并保存到测试数据库。
58.3)每次测试完成后，均保存待测产品的测试结果至数据库中，所述测试结果包括、但不限于产品型号、产品名称、程序号和测试时间。
59.图1为一种高低温微波性能测试调度优化方法的流程示意图，图2为其工作原理框图。
60.具体地，如图1所示，一种高低温微波性能测试调度优化方法包括如下步骤：
61.步骤s1：软件导入待测产品数据，包括产品型号、测试程序、温度试验条件和测试目标完成时间条件，并启动计算。
62.步骤s2：判断第一条件是否满足，所述第一条件为：(预定目标完成时间-(当前时间+温度准备时间+测试目标完成时间))《安全设定值；
63.如果满足第一条件，则执行待测产品任务交付最优先策略，即该待测产品优先测试。同时，当有多个产品同时满足待测产品任务交付最优先策略的条件时，按照任务完成的紧迫程度对待测产品的优先级进行排序。
64.其中，所述预定目标完成时间，表示在生产制造执行系统(mes)中设定的本任务需要完成的截止时间。
65.所述温度准备时间，表示待测产品(处于高低温箱内)在设定温度下静置的时间，完成此步骤后才能开始测试。
66.所述测试目标完成时间，表示待测产品完成测试所需的典型时间，初始为预估的理论时间，在有一定数量的测试数据后可以用一定数量的同一型号产品实际测试时间的均值来计算，并代替预估的理论时间。
67.步骤s3：如果不满足第一条件，其它产品按照混合策略进行计算，给出待测产品进入温箱的先后次序，并且根据温箱的情况给出待测产品进入温箱的时间以及取出时间，然
后在到达时间时调度机械手来进行操作。所述混合策略包括优先级由高到低依次排序的温度连续升降策略、同一温度产品优先策略，以及时间匹配策略。
68.其中，所述温度连续升降策略，表示多种待测产品同时测试时，按照测试温度由高到低或由低到高进行排序。温箱在升温、降温时有多余的时间浪费，为了减少这一时间，使用混合策略时，优先使用温度升降连续策略，比如55度、70度、85度依次执行。
69.所述同一温度产品优先策略，表示多种待测产品同时测试时，对于测试温度要求相同的待测产品，同时放入温箱进行高温低温测试的静置准备。此策略可以减少等待时间。
70.所述时间匹配策略，表示当前待测产品的温度准备时间与上一个待测产品的测试目标完成时间差值最小。由于产品的温度准备时间和测试时间对于不同的产品是并不相同的，为了保证测试设备的最大利用率，要对测试时间和准备时间进行计算调度，确保尽可能有产品在执行测试。
71.需要注意的是，上述排程执行中，每加入一个产品排程，都需要检查当前队列中的待测产品是否均能够满足待测产品任务交付最优先策略。
72.以一个简单的五产品调度为例：
73.表1为五个待测产品未采用上述策略前的数据信息。
74.表1，待测产品的数据信息表
[0075][0076]
表2为采用待测产品任务交付最优先策略和混合策略后形成的产品排序信息。
[0077]
表2，综合以上策略后的产品排序表
[0078][0079]
表1中的五个待测产品，首先按照待测产品任务交付最优先策略进行排序。由于产
品4和产品5满足第一条件：(预定目标完成时间-(当前时间+温度准备时间+测试目标完成时间))《安全设定值，因此产品4和产品5的优先级最高。由于产品4和产品4的数据信息完全相同，产品4和产品5之间没有优先级排序，可以同时放入温箱进行高低温测试的静置准备，可以同时放入测试设备进行测试。
[0080]
由于产品4和产品5的温箱温度为85度，按照温度连续升降策略，产品1、产品2和产品3的温箱温度依次降低，则其执行顺序依次排列在产品4和产品5之后。其中，产品1和产品2满足同一温度产品优先策略，产品1和产品2可以同时放入温箱进行高温低温测试的静置准备。
[0081]
虽然产品1和产品2的温箱温度一致，但由于其温度准备时间和测试目标完成时间不同，产品1和产品2之间也存在优先级高低排序。此时，按照时间匹配策略，产品2的温度准备时间与产品5的测试目标完成时间之间的差值、较产品1的温度准备时间与产品5的测试目标完成时间之间的差值更小，因此，将产品2的执行优先级排列在产品1之前，可以保证测试设备的最大利用率。
[0082]
综合采用上述策略后，产品1至产品5的排序依次为产品4、产品5、产品2、产品1、产品3，具体数据参见表2。
[0083]
步骤s4：在一个新产品加入或者一个产品完成测试，均需要重新执行一下上述的测试策略，对后续产品的测试条件进行调整。
[0084]
实施例2
[0085]
另一方面，本技术还公开了一种高低温微波性能测试调度优化系统，包括：获取模块100、判断模块200、待测产品任务交付最优先策略执行模块300和混合策略执行模块400。
[0086]
所述获取模块100，用于获取待测产品数据，所述待测产品数据包括产品型号、测试程序、温度试验条件、测试目标完成时间条件。
[0087]
所述判断模块200，用于判断第一条件是否满足，所述第一条件为：(预定目标完成时间-(当前时间+温度准备时间+测试目标完成时间))《安全设定值。
[0088]
所述待测产品任务交付最优先策略执行模块300，用于在判断模块200判断出第一条件满足时，执行待测产品任务交付最优先策略，即该待测产品优先测试。
[0089]
所述混合策略执行模块400，用于在判断模块200判断出第一条件不满足时，计算出剩余的待测产品进入温箱的先后次序、以及待测产品进入温箱的时间和取出时间，所述混合策略包括优先级由高到低依次排序的温度连续升降策略、同一温度产品优先策略，以及时间匹配策略。
[0090]
其中，所述预定目标完成时间，表示在生产制造执行系统(mes)中设定的本任务需要完成的截止时间。
[0091]
所述温度准备时间，表示待测产品(处于高低温箱内)在设定温度下静置的时间，完成此步骤后才能开始测试。
[0092]
所述测试目标完成时间，表示待测产品完成测试所需的典型时间。
[0093]
所述温度连续升降策略，表示多种待测产品同时测试时，按照测试温度由高到低或由低到高进行排序。
[0094]
所述同一温度产品优先策略，表示多种待测产品同时测试时，对于测试温度要求相同的待测产品，同时放入温箱进行高温低温测试的静置准备。
[0095]
所述时间匹配策略，表示当前待测产品的温度准备时间与上一个待测产品的测试目标完成时间差值最小。
[0096]
实施例3
[0097]
另一方面，本技术还公开了一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述实施例1所述的一种高低温微波性能测试调度优化方法。具体实现过程可参见上文中的相关描述，在此不再赘述。
[0098]
本技术还公开了一种存储介质，所述存储介质上存储有高低温微波性能测试调度优化程序，所述高低温微波性能测试调度优化程序被处理器执行时实现上述实施例1所述的一种高低温微波性能测试调度优化方法的步骤。
[0099]
存储介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是、但不限于电、磁、光、电磁、红外线或半导体的系统、装置或器件，磁卡、ic卡、优盘、sd卡等。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(ram)、只读存储器(rom)、可擦式可编程只读存储器(eprom或闪存)、便携式紧凑磁盘只读存储器(cd-rom)、光存储器件、磁存储器件或者上述的任意组合。计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读存储介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、有线、光缆、射频信号等等。
[0100]
综上所述，本技术技术方案，结合产品拾取机械手自动抓取产品，根据采集的测试设备状态、温箱状态(包括设定温度、温升速度、当前温度)和当前需要测试的产品任务(包括产品型号、测试程序、温度试验条件、测试目标完成时间条件)，结果保存在数据库的该型号产品的历史测试时间和设备良率等，对需要测试的产品进行动态计算，经过一系列的调度策略算法裁决，给出当前待测产品的最优调度策略，向温箱发出自动设置指令，实现了无人化的高效率测试。
[0101]
以上对本发明的具体实施例进行了详细描述，但其只是作为范例，本发明并不限制于以上描述的具体实施例。对于本领域技术人员而言，任何对本发明进行的等同修改和替代也都在本发明的范畴之中。因此，在不脱离本发明的精神和范围下所作的均等变换和修改，都应涵盖在本发明的范围内。