量测卡、量测系统及量测方法与流程

本发明涉及一种量测卡、量测系统及量测方法。

背景技术：

1、产品完成后，后续通常需进行质量检验，例如尺寸量测。然而，对于立体(三维)的产品而言，产品的部件沿空间不同方向延伸，造成在尺寸量测上的费工及费时。

技术实现思路

1、因此，本发明提出一种量测卡、量测系统及量测方法，以解决上述问题。

2、本发明一实施例提出一种量测卡。量测卡包括一本体及多个特征图案。本体具有相对的侧边与尖端。此多个特征图案形成于本体。此多个特征图案满足下列(1)与(2)中至少一种：(1).此多个特征图案的第一个与一第二个沿通过侧边与尖端的参考轴具有第一间距，此多个特征图案的第二个与第三个沿参考轴具有第二间距，而第一间距与第二间距相异；及(2).此多个特征图案相对参考轴呈非对称配置。

3、本发明另一实施例提出一种量测系统。量测系统包括摄像器及处理器。摄像器用以采集前述量测卡的量测卡影像，量测卡影像包括对应此多个特征图案的多个特征图案影像。处理器电性连接摄像器且用以：分析此多个特征图案影像，以取得各特征图案影像的特征点的特征点坐标；以及，输入此多个特征点坐标于一转换矩阵，以取得尖端的尖端坐标。

4、本发明另一实施例提出一种量测方法。量测方法包括以下步骤：采集前述量测卡的量测卡影像，其中量测卡影像具有对应此多个特征图案的多个特征图案影像；分析此多个特征图案影像，以取得各特征图案影像的特征点的特征点坐标；以及，输入此多个特征点坐标于转换矩阵，以取得尖端的尖端坐标。

技术特征：

1.一种量测卡，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的量测卡，其特征在于，该多个特征图案的数量至少为四个。

3.如权利要求1所述的量测卡，其特征在于，该多个特征图案包括内圆及外圆，该内圆与该外圆为同心配置。

4.如权利要求1所述的量测卡，其特征在于，该多个特征图案包括内圆及外圆，该内圆与该外圆为偏心配置。

5.如权利要求1所述的量测卡，其特征在于，该多个特征图案包括内圆及外圆，该内圆具有第一灰阶值，该外圆与该内圆之间的区域具有第二灰阶值，该第一灰阶值与该第二灰阶值的灰阶值差至少200。

6.如权利要求1所述的量测卡，其特征在于，还包括：

7.如权利要求6所述的量测卡，其特征在于，该背景图案为绿色。

8.一种量测系统，其特征在于，包括：

9.如权利要求8所述的量测系统，其特征在于，该量测卡影像具有背景图案影像，该背景图案影像围绕该多个特征图案影像；该处理器还包括：

10.如权利要求9所述的量测系统，其特征在于，该色彩坐标为hsv色度坐标。

11.如权利要求8所述的量测系统，其特征在于，该处理器还包括：

12.如权利要求8所述的量测系统，其特征在于，各该特征图案影像为圆形影像；该处理器还包括：

13.如权利要求8所述的量测系统，其特征在于，该多个特征图案影像包括多个内圆影像及复多个外圆影像；该处理器还包括：

14.如权利要求8所述的量测系统，其特征在于，该量测卡影像参考第一坐标系，该尖端坐标参考第二坐标系，该转换矩阵为该第一坐标系转换至该第二坐标系的转换关系。

15.一种量测方法，其特征在于，包括：

16.如权利要求15所述的量测方法，其特征在于，该量测卡影像具有背景图案影像，该背景图案影像围绕该多个特征图案影像；

17.如权利要求16所述的量测方法，其特征在于，该色彩坐标为hsv色度坐标。

18.如权利要求16所述的量测方法，其特征在于，还包括：

19.如权利要求15所述的量测方法，其特征在于，各特征图案影像为圆形影像，各该特征点为对应的该圆形影像的圆心；于分析该多个特征图案影像以取得各该特征图案影像的该特征点的该特征点坐标的步骤包括：

20.如权利要求15所述的量测方法，其特征在于，该多个特征图案影像包括多个内圆影像及多个外圆影像；于分析该多个特征图案影像以取得各该特征图案影像的该特征点的该特征点坐标的步骤包括：

技术总结
本发明提供一种量测卡、量测系统及量测方法，量测系统包括摄像器及处理器。摄像器用以采集量测卡的量测卡影像，量测卡影像包括多个特征图案影像。处理器电性连接摄像器且用以分析此些特征图案影像，以取得各特征图案影像的特征点的特征点坐标；以及，输入此些特征点坐标于转换矩阵，以取得量测卡的尖端的尖端坐标。

技术研发人员：张育维,杨茆世芳,马天彦
受保护的技术使用者：财团法人工业技术研究院
技术研发日：
技术公布日：2024/4/7