本申请涉及码盘测试,尤其涉及一种码盘测试装置、系统及方法。
背景技术:
1、扫地机dtof激光雷达的测距模组由测距机芯,旋转机构、码盘及外壳组成,其中旋转机构包括旋转pcb板,旋转pcb板上设有光电传感器,码盘和光电传感器作为角度识别部分,提供旋转过程中的角度识别功能。
2、码盘的形状为圆环,示例性的,分布有23个白/黑组合,其中22个白/黑组合的角度为15°,白/黑比例为1:1,1个白/黑组合的角度为30°,白/黑比例为1:3;光电传感器通过探测白/黑,生成一系列电信号波形,通过设置阈值判断白面和黑面并计数,识别旋转过程中的角度,每识别到一次白/黑比例为1:3时判断光电传感器旋转了一圈。
3、在实际旋转过程中,码盘的白/黑比例(又称占空比)会极大的影响光电传感器识别到的电信号,在以往的调试过程中,无法实时读取光电传感器产生的电信号,通常是通过光电传感器传递到旋转pcb板的数据进行判断,这个过程复杂,且需要对数据进行进一步分析处理,不容易发现造成角度识别问题的原因,进而不利于为码盘结构的优化提供依据。
4、因此,有必要提供一种码盘测试装置和方法,便于实时读取光电传感器的电信号,容易发现造成角度识别问题的原因,以有利于为码盘结构的优化提供依据。
技术实现思路
1、本申请的目的在于提供一种码盘测试装置,便于实时读取光电传感器的电信号,容易发现造成角度识别问题的原因,以有利于为码盘结构的优化提供依据。
2、本申请的另一目的在于提供一种码盘测试系统,便于实时读取光电传感器的电信号,容易发现造成角度识别问题的原因,以有利于为码盘结构的优化提供依据。
3、本申请的又一目的在于提供一种码盘测试方法,便于实时读取光电传感器的电信号,容易发现造成角度识别问题的原因,以有利于为码盘结构的优化提供依据。
4、为实现上述目的,本申请提供了一种码盘测试装置,用于对dtof激光雷达的测距模组进行测试,所述测距模组包括底座、相对所述底座固定的码盘、设置在所述底座上的旋转机构以及设置在所述旋转机构上的测距机芯,所述旋转pcb板上设有光电传感器,所述光电传感器根据所述码盘反射的光信号生成电信号,所述码盘测试装置包括:
5、第一支架;
6、第二支架,所述第二支架用于固定连接至所述测距机芯,所述第二支架上设有安装部;
7、信号传输装置,所述信号传输装置包括旋转体和固定体,所述旋转体被配置为呈周向固定地安装在所述安装部,所述旋转体上设有随所述旋转体一起旋转的第一导线,所述固定体被配置为固定在所述第二支架,所述固定体上设有第二导线,所述第一导线与所述第二导线信号连接,其中所述第一导线连接至所述旋转pcb板或者所述光电传感器,所述旋转pcb板将来自所述光电传感器的电信号实时传输至所述第一导线或者所述光电传感器将生成的电信号实时传输至所述第一导线,所述第二导线被配置为与外部波形显示器连接以将所述第一导线传输来的电信号传输至所述外部波形显示器进行实时显示。
8、可选地,所述第一支架包括底板、顶板以及连接所述底板和顶板的连接部;
9、所述底板被配置供所述测距模组固定放置;
10、所述固定体固定在所述顶板;
11、所述固定体的底侧开设有第一安装槽,所述顶板开设有通孔,所述通孔与所述第一安装槽对应;
12、所述旋转体穿过所述通孔,所述旋转体的上部可旋转地安装在所述第一安装槽,所述旋转体的下部安装在所述安装部。
13、可选地,所述固定体的下端形成法兰,所述法兰和所述顶板相对应的位置分别设有固定孔,所述法兰通过与所述固定孔配合的紧固件固定连接在所述顶板。
14、可选地,所述测距机芯上设有第一定位结构;
15、所述第二支架设有与所述第一定位结构适配对接的第二定位结构;
16、所述第二定位结构与所述第一定位结构通过紧固件固定连接。
17、可选地,所述第一定位结构包括所述测距机芯上形成的定位孔和所述旋转机构的转子向上凸设的第一定位柱,所述定位孔的中部设有沉台,所述沉台的中部设有第一螺孔,所述第一定位柱设有第二螺孔;
18、所述旋转pcb板上设有过孔,所述第一定位柱穿过所述过孔并伸入所述定位孔的下部;
19、所述第二定位结构包括所述第二支架向下伸出的第二定位柱,所述第二定位柱设有第三螺孔,所述第二定位柱伸入所述定位孔的上部,所述第二定位柱、所述定位孔和所述第一定位柱利用紧固件固定在一起。
20、可选地,所述安装部设有通孔,所述第一导线由所述通孔穿出。
21、可选地,所述安装部包括第二安装槽,所述第二安装槽的底壁设有所述通孔,所述旋转体安装在所述第二安装槽。
22、为实现上述另一目的,本申请提供了一种码盘测试系统,其特征在于,包括如上所述的码盘测试装置和波形显示器,所述波形显示器与所述第二导线连接以接收所述第二导线传输的电信号。
23、为实现上述又一目的,本申请提供了一种码盘测试方法,包括:
24、提供如上所述的码盘测试装置、波形显示器以及待测的所述测距模组;
25、进行所述第二导线与所述波形显示器的连接以及所述码盘测试装置与所述测距模组的装配连接;
26、使所述测距模组通电,所述旋转机构和所述测距机芯旋转并带动所述第二支架和所述旋转体同步旋转,所述光电传感器发射光信号至经所述码盘以及接收所述码盘反射的光信号并根据该反射的光信号生成电信号;
27、所述光电传感器将所述电信号实时传输至所述旋转pcb板并由所述旋转pcb板实时传输至所述第一导线,或者所述光电传感器将所述电信号实时传输至所述第一导线;
28、所述第一导线将所述电信号传输至所述第二导线,所述第二导线将所述电信号传输至所述波形显示器;
29、所述波形显示器实时显示所述电信号。
30、本申请可以将光电传感器产生的电信号通过第一导线和第二导线实时传输至波形显示器来可视化反应码盘的实时状态,进而可以直接通过波形对码盘进行直观判断,在角度识别存在问题时,利用异常的波形容易发现造成角度识别问题的原因,以有利于为码盘结构的优化提供依据。相较现有技术中需要在光电传感器静态时接线读取其数据,本申请可以在光电传感器旋转过程中实时读取动态信号并以波形形式显示。另外,本申请在完成码盘测试系统的装配、连接后,通电即可直接通过实时显示的波形进行判断,无需现有技术中码盘测试的读取具体占空比数据并换算分析等操作,省略了繁琐的步骤。
1.一种码盘测试装置,用于对dtof激光雷达的测距模组进行测试,所述测距模组包括底座、相对所述底座固定的码盘、设置在所述底座上的旋转机构以及设置在所述旋转机构上的测距机芯,所述旋转机构包括旋转pcb板,所述旋转pcb板上设有光电传感器,所述光电传感器根据所述码盘反射的光信号生成电信号,其特征在于,所述码盘测试装置包括:
2.如权利要求1所述的码盘测试装置,其特征在于,
3.如权利要求2所述的码盘测试装置,其特征在于,
4.如权利要求1所述的码盘测试装置,其特征在于,
5.如权利要求4所述的码盘测试装置,其特征在于,
6.如权利要求1所述的码盘测试装置,其特征在于,
7.如权利要求6所述的码盘测试装置,其特征在于,
8.如权利要求1所述的码盘测试装置,其特征在于,
9.一种码盘测试系统,其特征在于,包括如权利要求1至8任一项所述的码盘测试装置和波形显示器,所述波形显示器与所述第二导线连接以接收所述第二导线传输的电信号。
10.一种码盘测试方法,其特征在于,包括: