本发明属于化学检测,具体涉及一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法。
背景技术:
1、铀总量检测常用的有同位素稀释质谱法、氧化还原滴定法、电位滴定法、恒电流库伦滴定等几种。同位素稀释质谱法灵敏度高、准确性好,但测量过程复杂、成本较高、测量时间较长,涉及多次称量、多次质谱分析以及样品处理,数据处理复杂,还需适宜的同位素稀释剂。氧化还原滴定法采用多酸溶解(硝酸、硫酸、高氯酸、氢氟酸),最终还需转换成磷酸体系,测量时间一般大于3小时,流程长且复杂,对操作人员要求较高。电位滴定法、恒电流库伦滴定均属于电化学滴定法,溶解过程与氧化还原滴定过程基本一致,但指示终点方式改为电位突跃等电化学方式,终点判断更加准确。同样测量时间较长,流程长且复杂,对操作人员要求较高。x射线荧光光谱法测量快速、操作简单、自动化程度较高。astm c1257测量范围(0.05-20)gu/l,测定精密度(rsd)为1.79%-0.53%,测量样品为含铀水溶液,采用液体法检测,检测精密度较大,不满足要求及缺少详细的操作步骤。
技术实现思路
1、本发明的目的是提供一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,能够对二氧化铀中铀含量进行快速检测。
2、本发明的技术方案如下:一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,包括如下步骤:
3、步骤1:样品压片;
4、步骤2:标准曲线绘制;
5、步骤3:测定;
6、步骤4:计算。
7、所述的步骤1为采用淀粉或硼酸作为粘合剂,在20t~25t压力下,压制20s~40s,制备得到x荧光分析用样品。
8、所述的步骤2为根据铀的特征谱线,选用lα,lβ任意一个分析线检测。
9、所述的步骤2为使用八氧化三铀、二氧化铀标准物质粉末,压片制备系列工作标准,在x荧光光谱仪上绘制标准曲线。
10、所述的步骤3中的测试条件包括钼的分析线u-lα、u-lβ,仪器中应用方法建立时,采用仪器推荐的α系数对共存元素干扰进行校正。
11、所述的步骤3中测试条件见表2,
12、表2x射线光谱仪测量条件
13、
14、所述的步骤4中按仪器工作条件和测定程序,在x荧光光谱仪上录入样品信息,校正曲线,依次测定待测样品,在“结果”中导出测定结果ω。
15、本发明的有益效果在于:采用x射线荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量,使用硼酸或淀粉镶边压片制备检测样品。选择仪器最佳测试条件,线性范围在15%~87.8%之间,u-lα、u-lβ均具有良好的线性。最终获得快速检测二氧化铀中铀含量的xrf快速分析方法,且获得了较好的精密度。在实际样品分析中,二氧化铀中铀含量测定结果与电位滴定法法测定结果一致,满足二氧化铀样品的检测要求。
1.一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤1为采用淀粉或硼酸作为粘合剂,在20t~25t压力下,压制20s~40s,制备得到x荧光分析用样品。
3.如权利要求1所述的一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤2为根据铀的特征谱线,选用lα,lβ任意一个分析线检测。
4.如权利要求3所述的一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤2为使用八氧化三铀、二氧化铀标准物质粉末,压片制备系列工作标准,在x荧光光谱仪上绘制标准曲线。
5.如权利要求1所述的一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤3中的测试条件包括钼的分析线u-lα、u-lβ,仪器中应用方法建立时,采用仪器推荐的α系数对共存元素干扰进行校正。
6.如权利要求5所述的一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤3中测试条件见表2,
7.如权利要求1所述的一种x荧光光谱法测定二氧化铀中铀含量快速检测方法,其特征在于:所述的步骤4中按仪器工作条件和测定程序,在x荧光光谱仪上录入样品信息,校正曲线,依次测定待测样品,在“结果”中导出测定结果ω。