芯片的测试方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本申请涉及芯片测试的，尤其涉及一种芯片的测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、芯片的供应商设计出芯片后，需通过测试方案对芯片进行测试，并在芯片通过测试之后，再生产芯片从而提供给用户使用。例如，对于手机、平板电脑等电子设备内的芯片，需要将芯片设置在电子设备内部后，由测试人员根据测试方案的要求，模拟用户的真实操作向芯片发出操作指令，使芯片获取测试人员发出的操作指令并执行操作指令。同时，在芯片执行操作指令的过程中，测试人员还使用电流表等电流采集设备采集芯片的电流数据，从而在芯片执行完所有操作指令后，测试人员可以根据芯片的电流数据对芯片进行功率分析等后续处理。

2、但是，当芯片所在的测试环境发生变化，会导致电流采集设备采集到的芯片的电流数据发生变化，即使是同一型号的多个芯片分别进行测试时，也会导致出现多种不同的电流数据，从而无法准确地对芯片进行测试。因此，如何克服芯片所在测试环境对芯片的电流数据产生的影响，是本领域需要解决的技术问题。

技术实现思路

1、本申请提供一种芯片的测试方法、装置、电子设备及存储介质，用于解决现有技术中芯片所在测试环境对芯片的电流数据产生影响，导致无法准确地对芯片进行测试的技术问题。

2、本申请第一方面提供一种芯片的测试方法，包括：获取芯片执行测试指令时的第一电流数据；确定芯片所在的测试环境对应的补偿参数；补偿参数用于表征测试环境对电流数据的影响；基于补偿参数对第一电流数据进行补偿得到第二电流数据；根据第二电流数据对芯片进行功率分析得到测试结果。

3、在本申请第一方面一实施例中，确定芯片所在的测试环境对应的补偿参数，包括：确定芯片所在的测试环境的至少一个环境因素；环境因素包括：芯片所在电子设备的屏幕亮度、电子设备的音量、电子设备的信号强度、得到第一电流数据的设备的电流值和电子设备的待机情况；根据映射关系确定至少一个环境因素中每个环境因素对应的补偿等级；映射关系包括多个环境因素，以及每个环境因素的多个环境因素等级与多个补偿等级的对应关系；根据至少一个环境因素的补偿等级确定补偿参数。

4、在本申请第一方面一实施例中，根据至少一个环境因素的补偿等级确定补偿参数，包括：对至少一个环境因素的补偿等级进行加权求和，得到补偿参数。

5、在本申请第一方面一实施例中，根据至少一个环境因素的补偿等级确定补偿参数，包括：计算每个环境因素的补偿等级与环境因素的持续时间的乘积；根据所有至少一个环境因素的补偿等级与持续时间的乘积加权求和，得到补偿参数。

6、在本申请第一方面一实施例中，还包括：获取芯片在标准测试环境下的标准电流数据；获取芯片在多个测量测试环境下的测量电流数据；其中多个测量测试环境包括至少一个环境因素分别取值为不同环境因素等级的测量测试环境；根据标准电流数据和多个测量电流数据，得到映射关系。

7、在本申请第一方面一实施例中，还包括：获取测试人员输入的映射关系；或者，当确定芯片所在的测试环境与标准测试环境不同，向服务器发送映射关系获取请求，并接收服务器发送的映射关系。

8、在本申请第一方面一实施例中，基于补偿参数对第一电流数据进行补偿得到第二电流数据，包括：计算第一电流数据与补偿参数的乘积得到第二电流数据。

9、本申请第二方面提供一种芯片的测试装置，可用于执行如本申请第一方面任一项提供的芯片的测试方法，该装置包括：获取模块，用于获取芯片执行测试指令时的第一电流数据；确定模块，用于确定芯片所在的测试环境对应的补偿参数；补偿参数用于表征测试环境对电流数据的影响；补偿模块，用于基于补偿参数对第一电流数据进行补偿得到第二电流数据；分析模块，用于根据第二电流数据对芯片进行功率分析得到测试结果。

10、本申请第三方面提供一种电子设备，包括：通信连接的处理器以及存储器；其中，存储器中存储有计算机程序，当处理器执行计算机程序时，处理器执行如本申请第一方面任一项的方法。

11、本申请第四方面提供一种存储介质，存储有计算机指令，计算机指令被执行时用于实现如本申请第一方面任一项的方法。

12、本申请提供一种芯片的测试方法、装置、电子设备及存储介质，测试设备获取芯片执行测试指令时的第一电流数据后，确定芯片所在测试环境对应的补偿参数，并基于补偿参数对第一电流数据进行补偿处理得到第二电流数据，最终根据修复后更为准确的第二电流数据对芯片进行分析得到测试结果。因此，测试设备在对芯片进行测试时，通过补偿参数对第一电流数据进行的补偿消除了芯片所在测试环境对第一电流数据带来的影响，由于补偿后得到的第二电流数据能够更加准确地反应芯片实际的电流变化情况，使测试设备能够根据第二电流数据更为有效地对芯片进行测试。

技术特征：

1.一种芯片的测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述芯片所在的测试环境对应的补偿参数，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个环境因素的补偿等级确定所述补偿参数，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个环境因素的补偿等级确定所述补偿参数，包括：

5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述映射关系是通过如下步骤确定的：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，基于所述补偿参数对所述第一电流数据进行补偿得到第二电流数据，包括：

8.一种芯片的测试装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：通信连接的处理器以及存储器；其中，所述存储器中存储有计算机程序，当所述处理器执行所述计算机程序时，所述处理器执行如权利要求1-7任一项所述的方法。

10.一种存储介质，其特征在于，存储有计算机指令，所述计算机指令被执行时用于实现如权利要求1-7任一项所述的方法。

技术总结
本申请提供一种芯片的测试方法、装置、电子设备及存储介质，测试设备获取芯片执行测试指令时的第一电流数据后，确定芯片所在测试环境对应的补偿参数，并基于补偿参数对第一电流数据进行补偿处理得到第二电流数据，最终根据修复后更为准确的第二电流数据对芯片进行分析得到测试结果。因此，测试设备在对芯片进行测试时，通过补偿参数对第一电流数据进行的补偿，从而消除了芯片所在测试环境对第一电流数据带来的影响，由于补偿后得到的第二电流数据能够更加准确地反应芯片实际的电流变化情况，使测试设备能够根据第二电流数据更为有效地对芯片进行测试。

技术研发人员：廖道聪
受保护的技术使用者：西安紫光展锐科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12