检测电流源芯片的方法、装置、电子设备和存储介质与流程

本公开涉及检测，尤其涉及一种检测电流源芯片的方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术：

1、目前，针对于电流源芯片的检测方法只停留在人工外观检测、芯片设计规则检查和切片分析等，没有专门针对电流源芯片的检测方式，导致设计电流源芯片缓慢、开发难度高。基于此，需要一种能够实现对电流源芯片检测的系统，快速构建和程序开发，缩短开发周期，节省开发成本，降低开发门槛的方案。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开的目的在于提出一种电流源芯片的检测方法、装置、电子设备和存储介质，用于解决针对电流源芯片的检测系统开发效率低的技术问题。

2、基于上述目的，本公开提供了检测电流源芯片的装置，所述装置包括顺次电连接的电流源芯片模块、接口电路模块和测试机台模块，其中：

3、所述电流源芯片模块，包括输入端、设置端和输出端，所述输入端设置有恒流源；

4、所述接口电路模块，包括继电器单元和控制单元，其中，所述接口电路模块设置有第一继电器和第二继电器，所述第一继电器的控制端与所述电流源芯片的设置端连接，两个接点引脚分别与第一采样电阻和第二采样电阻连接，所述第二继电器的控制端与所述电流源芯片的输出端连接，第二继电器与输出端之间设置有第三稳压电阻，所述控制单元与第一继电器以及第二继电器电连接；

5、所述测试机台模块与所述第一采样电阻、第二采样电阻和第二继电器连接。

6、进一步地，所述控制单元包括：第一供电端口、第二供电端口、第一控制端口以及第二控制端口；

7、所述第一供电端口与所述第一继电器的供电端口电连接；

8、所述第二供电端口与所述第二继电器的供电端口电连接；

9、所述第一控制端口与所述第一继电器的控制端口电连接；

10、所述第二控制端口与所述第二继电器的控制端口电连接；

11、所述接口电路模块，包括控制单元及并联设置的第一控制支路和第二控制支路，所述第一控制支路上设有串联设置的第一继电器和采样电阻，所述采样电阻包括并联设置的第一采样电阻和第二采样电阻；所述第二控制支路上设有串联设置的第三稳压电阻和第二继电器；所述控制单元与所述第一继电器以及所述第二继电器连接。

12、基于同一发明构思，本公开还提供了一种检测电流源芯片的方法，包括：

13、响应于确定待测芯片为电流源芯片，将电流源芯片模块、接口电路模块和测试机台模块顺次电连接，其中所述接口电路模块中三个电阻的阻值分别为第一采样电阻、第二采样电阻以及第三稳压电阻的电阻值；

14、获取电流源芯片的内部数据，并将所述内部数据输入预设模型中，并得到所述电流源芯片的电特性测试结果。

15、进一步地，所述响应于确定待测芯片为电流源芯片包括：

16、获取待测芯片；

17、响应于所述待测芯片内设有输入端、设置端、输出端以及恒流源，则确定所述待测芯片为电流源芯片。

18、进一步地，所述接口电路模块中三个电阻的阻值分别为第一采样电阻、第二采样电阻以及第三稳压电阻的电阻值包括：

19、根据所述恒流源的预设电流值及接口电路模块的预设电压值确定所述第一采样电阻的电阻值、所述第二采样电阻的电阻值以及所述第三稳压电阻的电阻值。

20、进一步地，所述根据所述恒流源的预设电流值及接口电路模块的预设电压值确定所述第一采样电阻的电阻值、所述第二采样电阻的电阻值以及所述第三稳压电阻的电阻值包括：

21、获取所述接口电路的电压值、恒流源的电流值以及所述电流源芯片的负载电流最大值和负载电流最小值；

22、所述第一采样电阻的电阻值为所述接口电路的电压值与所述恒流源的电流值的比值；

23、所述第三稳压电阻的电阻值为所述接口电路的电压值与所述电流源芯片的负载电流最大值的比值；

24、所述第二采样电阻的电阻值为所述电流源芯片的负载电流最小值所述第三稳压电阻的电阻值的乘积再与所述恒流源的电流值求取比值。

25、进一步地，所述内部数据包括所述输入端的电流值、设置端的电流值、输出端的电流值以及所述恒流源的电流值。

26、进一步地，所述获取电流源芯片的内部数据，并将所述内部数据输入预设模型中，并得到所述电流源芯片的电特性测试结果之后，还包括：

27、将所述电特性测试结果与电流源芯片的标准电特性数据进行对比，得到对比结果；

28、根据对比结果判断所述电流源芯片是否符合标准。

29、基于同一发明构思，本公开还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器在执行所述计算机程序时实现如上所述的方法。

30、基于同一发明构思，本公开还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行如上所述的方法。

31、由此可见，本公开实施例具有如下有益效果：

32、本公开提出一种检测电流源芯片的方法、装置、电子设备和存储介质。响应于确定待测芯片为电流源芯片，将电流源芯片模块、接口电路模块和测试机台模块顺次电连接，其中所述接口电路模块中三个电阻的阻值分别为第一采样电阻、第二采样电阻以及第三稳压电阻的电阻值；获取电流源芯片的内部数据，并将所述内部数据输入预设模型中，并得到所述电流源芯片的电特性测试结果。如此，能够实现对电流源芯片的检测系统快速构建和程序开发，提高检测程序的开发效率。

技术特征：

1.一种检测电流源芯片的装置，其特征在于，所述装置包括顺次电连接的电流源芯片模块、接口电路模块和测试机台模块，其中：

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制单元包括：第一供电端口、第二供电端口、第一控制端口以及第二控制端口；

3.一种检测电流源芯片的方法，其特征在于，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述响应于确定待测芯片为电流源芯片包括：

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述接口电路模块中三个电阻的阻值分别为第一采样电阻、第二采样电阻以及第三稳压电阻的电阻值包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述恒流源的预设电流值及接口电路模块的预设电压值确定所述第一采样电阻的电阻值、所述第二采样电阻的电阻值以及所述第三稳压电阻的电阻值包括：

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述内部数据包括所述输入端的电流值、设置端的电流值、输出端的电流值以及所述恒流源的电流值。

8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取电流源芯片的内部数据，并将所述内部数据输入预设模型中，并得到所述电流源芯片的电特性测试结果之后，还包括：

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求3至权利要求8任意一项所述的方法。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，其特征在于，所述计算机指令用于使计算机执行权利要求3至权利要求8任一所述方法。

技术总结
本公开提出一种检测电流源芯片的方法、装置、电子设备和存储介质。响应于确定待测芯片为电流源芯片，将电流源芯片模块、接口电路模块和测试机台模块顺次电连接，其中所述接口电路模块中三个电阻的阻值分别为第一采样电阻、第二采样电阻以及第三稳压电阻的电阻值；获取电流源芯片的内部数据，并将所述内部数据输入预设模型中，并得到所述电流源芯片的电特性测试结果。如此，能够实现对电流源芯片的检测系统快速构建和程序开发，提高检测程序的开发效率。

技术研发人员：马骁,王坦,赵慧婷,闫兴亮,刘净月,乔秀铭,聂之君,张亭亭,席雨,岳冰,孙铮,张嘉昕,周若臣,赵帅,孔繁林
受保护的技术使用者：航天科工防御技术研究试验中心
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13