可防止瞬断的双头单动半导体测试探针的制作方法

本发明属于半导体测试，具体涉及一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针。

背景技术：

1、半导体测试探针广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等技术领域，是一种高端的电子元件。

2、半导体测试探针的结构通常是由针头、针管、弹簧三部分组成，针头和弹簧装在针管内部，在针管管口运用压铆缩口方式，使得针头、弹簧保持在针管内部，成为一个整体的结构。使用时，针头受力向针管内压缩弹簧，此时弹簧产生的弹力顶住针头，针头与被测件良好接触，进行测试。

3、但是现有半导体测试探针使用时，针头与弹簧之间产生的瞬时断开会影响半导体测试探针的测试准确度，造成不能在精密测试环境下使用的问题。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，解决现有半导体测试探针使用时，针头与弹簧之间产生的瞬时断开会影响半导体测试探针的测试准确度，造成不能在精密测试环境下使用的问题。

2、为了解决上述技术问题，本发明公开了一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，包括针管，所述针管的一端固定有固定针头，针管的另一端可伸缩地设置有活动针头，针管内设置有弹簧，所述弹簧一端抵触在固定针头尾部，弹簧的另一端始抵触在活动针头的尾部，活动针头的尾部设置有连接部，所述连接部伸入弹簧内并且始终与弹簧接触。

3、本发明的技术方案，还具有以下特点：

4、作为本发明技术方案的进一步改进，所述固定针头的尾部外壁上设置有凹槽，所述针管的一端外部设置有凹点。

5、作为本发明技术方案的进一步改进，所述凹点的数量为多个且沿针管的轴向等角度布置。

6、作为本发明技术方案的进一步改进，所述活动针头的尾部设置有限位台阶，所述针管的另一端口形成有缩口。

7、作为本发明技术方案的进一步改进，所述连接部包含多个等角度布置的连接片。

8、与现有技术相比，本发明的一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，在使用过程中，由于活动针头尾端连接在连接部嵌套在弹簧内，始终与弹簧可靠接触，故而无论下压或回弹速度如何变化，半导体测试探针既能保证不会发生瞬断；还有，活动针头具有非常低的电阻，因此能够很好的保证半导体测试探针的测试性能，进而保证所述半导体测试探针能够在精密测试环境下使用。

技术特征：

1.一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，其特征在于，包括针管(1)，所述针管(1)的一端固定有固定针头(2)，针管(1)的另一端可伸缩地设置有活动针头(6)，针管(1)内设置有弹簧(3)，所述弹簧(3)的一端抵触在固定针头(2)尾部，弹簧(3)的另一端始抵触在活动针头(6)的尾部，活动针头(6)的尾部设置有连接部(4)，所述连接部(4)伸入弹簧(3)内并且始终与弹簧(3)接触。

2.根据权利要求1所述的可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，其特征在于，所述固定针头(2)的尾部外壁上设置有凹槽，所述针管(1)的一端外部设置有凹点。

3.根据权利要求1所述的可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，其特征在于，所述凹点的数量为多个且沿针管(1)的轴向等角度布置。

4.根据权利要求1所述的可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，其特征在于，所述活动针头(6)的尾部设置有限位台阶(5)，所述针管(1)的另一端口形成有缩口。

5.根据权利要求1所述的可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，其特征在于，所述连接部(4)包含多个等角度布置的连接片。

技术总结
本发明公开了一种可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，包括针管，所述针管的一端固定有固定针头，针管的另一端可伸缩地设置有活动针头，针管内设置有弹簧，所述弹簧一端抵触在固定针头尾部，弹簧的另一端始抵触在活动针头的尾部，活动针头的尾部设置有连接部，所述连接部伸入弹簧内并且始终与弹簧接触。该可防止瞬断的双头单动半导体测试探针，解决了现有半导体测试探针使用时，针头与弹簧之间产生的瞬时断开会影响半导体测试探针的测试准确度，造成不能在精密测试环境下使用的问题。

技术研发人员：丁崇亮,张飞龙
受保护的技术使用者：渭南木王智能科技股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13