一种基于静态质量法的高精度质量流量计现场校准方法与流程

本发明涉及质量流量计现场校准方法，具体涉及一种基于静态质量法的高精度质量流量计现场校准方法。

背景技术：

1、质量流量计现场校准方法通常有静态质量法、静态容积法、动态质量法、动态容积法、标准表法等。每种方法都各有其特点，适用范围也不尽相同。但是这些方法的准确度均较低，例如：标准表法的准确度等级通常0.5级～1.0级，导致无法作为标准器对0.2级的高精度质量流量计进行检定或校准。对于一些特殊的试验中心，其液流试验台通常安装有多台0.2级的高精度质量流量计，其测量范围为0.2g/s～1kg/s，流量范围较宽，需要根据不同流量范围选择合适的方法对其进行现场校准。但是现有的质量流量计现场校准方法精度太低，均无法满足0.2级高精度质量流量计的现场校准。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种基于静态质量法的高精度质量流量计现场校准方法，以解决现有的流量计现场校准方法精度太低，均无法满足0.2级高精度质量流量计的现场校准的技术问题。

2、为了达到上述目的，本发明的技术方案如下：

3、一种基于静态质量法的高精度质量流量计现场校准方法，其特殊之处在于，包括如下步骤：

4、步骤1，搭建校准装置；

5、将第一导管的一端与液流试验台的输出端相连，将第一导管的另一端与快速换向装置的输入端连接，将第二导管的一端与快速换向装置的输出端连接，将第二导管的另一端与称量容器的进液口连接，将称量容器放置在称量装置；

6、步骤2，打开称量容器的排液口，待称量容器内的液体排空后关闭排液口，并将称量装置恢复至初始状态；

7、步骤3，通过调节液流试验台中阀门的开启程度，调节液流试验台中流过质量流量计的流量；

8、步骤4，运行液流试验台，等待液流试验台运行至稳定状态后开启快速换向装置，同时通过外部计时装置进行计时；待称量容器内的液位达到预设位置时，关闭快速换向装置，同时停止计时并记录计时时间为t，读取此时称量装置上显示的质量，记录为m，将称量容器内的液体排空以及称量装置进行清零；在计时时间t内记录n次待检定质量流量计的电流值i，n≥3，计算n次电流值i的电流均值i平并记录；

9、步骤5，计算该流量值下的质量流量计的质量流量值q，

10、步骤6，返回步骤3，直至得到至少三个不同流量值下质量流量计的质量流量值q以及电流均值i平

11、步骤7，计算得到的质量流量值q平均值作为标准值p，及电流均值i平的平均值作为测量电流值i；通过判断该质量流量计的精度是否符合要求，完成该质量流量计的检定。

12、进一步地，步骤6中，得到三个不同流量值下质量流量计的质量流量值q以及电流均值i平；三个不同流量值分别为最小流量值、0.5倍最大流量值和最大流量值。

13、进一步地，所述步骤4中，n＝4。

14、进一步地，步骤1中，所述第一导管和第二导管均为软管。

15、进一步地，步骤1中，所述称量装置为电子天平。

16、本发明的有益效果：

17、1、本发明通过测量质量流量计的电流值以及得到的液体质量就能直接进行测量并校准，不需要拆卸质量流量计，使得校准过程大大缩短。

18、2、现场校准方法精度高。本发明通过计算后得到的结果进行数量级的比较，进而得到最终结果，可解决0.2级高精度质量流量计的现场校准的技术问题。

技术特征：

1.一种基于静态质量法的高精度质量流量计现场校准方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于静态质量法的高精度质量流量计现场校准方法，其特征在于，步骤6中，得到三个不同流量值下质量流量计的质量流量值q以及电流均值i平；三个不同流量值分别为最小流量值、0.5倍最大流量值和最大流量值。

3.根据权利要求1或2所述的一种基于静态质量法的高精度质量流量计现场校准方法，其特征在于，所述步骤4中，n＝4。

4.根据权利要求3所述的一种基于静态质量法的高精度质量流量计现场校准方法，其特征在于，步骤1中，所述第一导管(2)和第二导管(4)均为软管。

5.根据权利要求3所述的一种基于静态质量法的高精度质量流量计现场校准方法，其特征在于：步骤1中，所述称量装置(4)为电子天平。

技术总结
一种基于静态质量法的高精度质量流量计现场校准方法，解决了现有的流量计现场校准方法精度太低的问题。本发明步骤如下：步骤1，搭建校准装置；步骤2，清理称量容器，并将称量装置恢复至初始状态；步骤3，调节流过质量流量计的流量；步骤4，运行液流试验台，待称量容器内的液位达到预设位置时，得到时间T和质量M；计算电流均值I<subgt;平</subgt;并记录；步骤5，计算质量流量值q，步骤6，返回步骤3，直至得到至少三个不同流量值下质量流量计的质量流量值q以及电流均值I<subgt;平</subgt;，步骤7，计算得到标准值p和测量电流值i；通过判断该质量流量计的精度是否符合要求。

技术研发人员：孙新新,张露,赵华,张泽辉
受保护的技术使用者：西安航天计量测试研究所
技术研发日：
技术公布日：2024/1/11