一种多工位同步的光耦测试系统及其测试方法与流程

本发明涉及半导体器件交流特性测试领域，尤其涉及了一种多工位同步的光耦测试系统及其测试方法。

背景技术：

1、随着技术的发展，光耦的应用场景越来越多，市场对光耦的需求愈来愈大。因此，高效率地测试是提高光耦产能中尤为重要的一环。在光耦测试领域，常规光耦测试系统成熟度较高，但随着光耦产量的增加，常规光耦测试系统在测试速度上开始跟不上产能需求。

2、综上所述，要实现光耦材料位于封装产线的高效、高速测试的需求，需研发一款多工位同步的光耦测试系统。

技术实现思路

1、针对现有技术存在的不足，本发明的目的就在于提供了一种多工位同步的光耦测试系统及其测试方法，支持乒乓模式、同步模式及多信道扫描模式等多种测试模式，在多线程控制上，由主机向从机发送时钟信号，从机解析信号，最多支持256位从机地址。

2、为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是这样的：一种多工位同步的光耦测试系统，包括主机以及与主机相连接的从机，所述主机通过从机对被测光耦进行测试，所述从机包括从机控制电路以及与从机控制电路相连接的多源测量模拟电路，所述多源测量模拟电路包括测试模块、同步接收处理模块，所述同步接收处理模块包括数字同步单元、模拟同步单元，所述测试模块包括fimv模块、fvmi模块、浮动型hv模块，所述测试模块与被测光耦相连接，所述测试模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路，从机控制电路将测试值发送给主机。

3、作为一种优选方案，所述系统包括一个主机、两个从机，一个主机与两个从机相连接，所述主机交替测试两个从机上的被测光耦。

4、作为一种优选方案，所述系统包括若干主机、若干从机，所述主机的数量与从机的数量相同，每个主机与对应的从机相连接，所有的主机同步并行测试对应从机上的被测光耦。

5、作为一种优选方案，所述系统包括一个主机、若干从机，一个主机与若干从机相连接，所述主机依次测试从机上的被测光耦。

6、作为一种优选方案，所述主机通过数据总线发送8bit时钟信号至从机处，经由译码器转译为256bit信号，所述时钟信号包含开始时钟信号、地址时钟信号，所述开始时钟信号开关控制地址时钟信号，所述地址时钟信号至多256个地址。

7、作为一种优选方案，所述fimv模块具体为恒流源单元，用于实现加电流测电压，所述fimv模块与被测光耦相连接，所述fimv模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路。

8、作为一种优选方案，所述fvmi模块具体为恒压源单元，用于实现加电压测电流，所述fvmi模块与被测光耦相连接，所述fvmi模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路。

9、作为一种优选方案，所述浮动型hv模块包括同步采集模块、电压环路选择单元、电流环路选择电路，所述从机控制电路经过同步采集模块、电压环路选择单元后与被测光耦相连接，所述同步采集模块包括数字采集单元、模拟采集单元，所述从机控制电路经过模拟采集单元、电流环路选择电路后与被测光耦相连接。

10、本发明还公开了一种光耦测试系统的测试方法，包括如下步骤：

11、（1）设定测试模式，所述测试模式包括乒乓模式、同步模式、多通道扫描模式，其中乒乓模式的系统包括一个主机、两个从机，一个主机与两个从机相连接，所述主机交替测试两个从机上的被测光耦；所述同步模式的系统包括若干主机、若干从机，所述主机的数量与从机的数量相同，每个主机与对应的从机相连接，所有的主机同步并行测试对应从机上的被测光耦；所述多通道扫描模式的系统包括一个主机、若干从机，一个主机与若干从机相连接，所述主机依次测试从机上的被测光耦；

12、（2）选择测试模式，开始测试：所述主机通过数据总线发送时钟信号经由译码器转译至从机处，从机控制电路根据实际需求选择测试模式，所述测试模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路，从机控制电路将测试值发送给主机。

13、与现有技术相比，本发明的有益效果：本发明支持乒乓模式、同步模式及多信道扫描模式等多种测试模式，在多线程控制上，由主机向从机发送时钟信号，从机解析信号，最多支持256位从机地址。

技术特征：

1.一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：包括主机以及与主机相连接的从机，所述主机通过从机对被测光耦进行测试，所述从机包括从机控制电路以及与从机控制电路相连接的多源测量模拟电路，所述多源测量模拟电路包括测试模块、同步接收处理模块，所述同步接收处理模块包括数字同步单元、模拟同步单元，所述测试模块包括fimv模块、fvmi模块、浮动型hv模块，所述测试模块与被测光耦相连接，所述测试模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路，从机控制电路将测试值发送给主机。

2.根据权利要求1所述的一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：所述系统包括一个主机、两个从机，一个主机与两个从机相连接，所述主机交替测试两个从机上的被测光耦。

3.根据权利要求1所述的一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：所述系统包括若干主机、若干从机，所述主机的数量与从机的数量相同，每个主机与对应的从机相连接，所有的主机同步并行测试对应从机上的被测光耦。

4.根据权利要求1所述的一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：所述系统包括一个主机、若干从机，一个主机与若干从机相连接，所述主机依次测试从机上的被测光耦。

5.根据权利要求1所述的一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：所述主机通过数据总线发送8bit时钟信号至从机处，经由译码器转译为256bit信号，所述时钟信号包含开始时钟信号、地址时钟信号，所述开始时钟信号开关控制地址时钟信号，所述地址时钟信号至多256个地址。

6.根据权利要求1所述的一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：所述fimv模块具体为恒流源单元，用于实现加电流测电压，所述fimv模块与被测光耦相连接，所述fimv模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路。

7.根据权利要求1所述的一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：所述fvmi模块具体为恒压源单元，用于实现加电压测电流，所述fvmi模块与被测光耦相连接，所述fvmi模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路。

8.根据权利要求1所述的一种多工位同步的光耦测试系统，其特征在于：所述浮动型hv模块包括同步采集模块、电压环路选择单元、电流环路选择电路，所述从机控制电路经过同步采集模块、电压环路选择单元后与被测光耦相连接，所述同步采集模块包括数字采集单元、模拟采集单元，所述从机控制电路经过模拟采集单元、电流环路选择电路后与被测光耦相连接。

9.一种基于权利要求1所述光耦测试系统的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

技术总结
本发明公开了一种多工位同步的光耦测试系统，包括主机以及与主机相连接的从机，所述主机通过从机对被测光耦进行测试，所述从机包括从机控制电路以及与从机控制电路相连接的多源测量模拟电路，所述多源测量模拟电路包括测试模块、同步接收处理模块，所述测试模块与被测光耦相连接，所述测试模块得到被测光耦的测试值，测试值经同步接收处理模块处理返回至从机控制电路，从机控制电路将测试值发送给主机。本发明支持乒乓模式、同步模式及多信道扫描模式等多种测试模式，在多线程控制上，由主机向从机发送时钟信号，从机解析信号，最多支持256位从机地址。

技术研发人员：曹贺,钱卫东
受保护的技术使用者：苏州索拉科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13