芯片测试箱的制作方法

1.本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试箱。


背景技术：

2.但是现有芯片本身在高功率状态下发热严重，有些极端情况下外界温度也会升高，此时就需要对芯片进行高温测试，但是不同芯片之间的测试温度不同，同一平台只能提供单一的温度测试环境。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是提供一种芯片测试箱，该芯片测试箱可以满足不同情况下的测试需求，还可以同时对多个芯片进行性能测试，提高了装置的适用性及测试效率。
4.为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种芯片测试箱，包括：安装座、检测箱、和转盘，所述检测箱通过若干个支撑板固定在安装座的顶部，所述转盘设置在安装座与检测箱之间，一电机设置在安装座的顶部且位于转盘下方，所述电机的输出轴与转盘连接；
5.所述检测箱上沿转盘的旋转方向分别设置有进料口、出料口，所述检测箱自进料口沿周向延伸至出料口的顶部依次设置有中温台、高温台。
6.上述技术方案中进一步改进的方案如下：
7.1. 上述方案中，所述转盘为圆环形转盘。
8.2. 上述方案中，所述转盘的环形内壁上设置有一支架，所述转盘通过支架与电机的输出轴连接。
9.3. 上述方案中，所述支架为十字形支架。
10.4. 上述方案中，所述支撑板在检测箱的周向外壁上间隔设置。
11.由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：
12.本实用新型芯片测试箱，其转盘设置在安装座与检测箱之间，设置在安装座的顶部且位于转盘下方的电机的输出轴与转盘连接，检测箱上沿转盘的旋转方向分别设置有进料口、出料口，检测箱自进料口沿周向延伸至出料口的顶部依次设置有中温台、高温台，通过将中温台、高温台集成在一个测试箱上，可以满足不同情况下的测试需求，还可以同时对多个芯片进行性能测试，提高了装置的适用性及测试效率。
附图说明
13.附图1为本实用新型芯片测试箱的整体结构示意图；
14.附图2为本实用新型芯片测试箱的局部结构示意图一；
15.附图3为本实用新型芯片测试箱的局部结构示意图二。
16.以上附图中：1、安装座；2、检测箱；3、转盘；4、支撑板；5、电机；6、进料口；7、出料口；8、中温台；9、高温台；10、支架。
具体实施方式
17.在本专利的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利的具体含义。
18.下面结合实施例对本实用新型作进一步描述：
19.实施例1：一种芯片测试箱，包括：安装座1、检测箱2、和转盘3，所述检测箱2通过若干个支撑板4固定在安装座1的顶部，所述转盘3设置在安装座1与检测箱2之间，一电机5设置在安装座1的顶部且位于转盘3下方，所述电机5的输出轴与转盘3连接；
20.所述检测箱2上沿转盘3的旋转方向分别设置有进料口6、出料口7，所述检测箱2自进料口6沿周向延伸至出料口7的顶部依次设置有中温台8、高温台9。
21.上述转盘3为圆环形转盘。
22.上述转盘3的环形内壁上设置有一支架10，上述转盘3通过支架10与电机5的输出轴连接。
23.上述支撑板4在检测箱2的周向外壁上间隔设置。
24.实施例2：一种芯片测试箱，包括：安装座1、检测箱2、和转盘3，所述检测箱2通过若干个支撑板4固定在安装座1的顶部，所述转盘3设置在安装座1与检测箱2之间，一电机5设置在安装座1的顶部且位于转盘3下方，所述电机5的输出轴与转盘3连接；
25.所述检测箱2上沿转盘3的旋转方向分别设置有进料口6、出料口7，所述检测箱2自进料口6沿周向延伸至出料口7的顶部依次设置有中温台8、高温台9。
26.上述转盘3为圆环形转盘。
27.上述转盘3的环形内壁上设置有一支架10，上述转盘3通过支架10与电机5的输出轴连接。
28.上述支架10为十字形支架。
29.采用上述芯片测试箱时，其检测箱通过若干个支撑板固定在安装座的顶部，转盘设置在安装座与检测箱之间，一电机设置在安装座的顶部且位于转盘下方，电机的输出轴与转盘连接，检测箱上沿转盘的旋转方向分别设置有进料口、出料口，所述检测箱自进料口沿周向延伸至出料口的顶部依次设置有中温台、高温台，通过将中温台、高温台集成在一个测试箱上，可以满足不同情况下的测试需求，还可以同时对多个芯片进行性能测试，提高了装置的适用性及测试效率。
30.上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。


技术特征：
1.一种芯片测试箱，其特征在于：包括：安装座（1）、检测箱（2）、和转盘（3），所述检测箱（2）通过若干个支撑板（4）固定在安装座（1）的顶部，所述转盘（3）设置在安装座（1）与检测箱（2）之间，一电机（5）设置在安装座（1）的顶部且位于转盘（3）下方，所述电机（5）的输出轴与转盘（3）连接；所述检测箱（2）上沿转盘（3）的旋转方向分别设置有进料口（6）、出料口（7），所述检测箱（2）自进料口（6）沿周向延伸至出料口（7）的顶部依次设置有中温台（8）、高温台（9）。2.根据权利要求1所述的芯片测试箱，其特征在于：所述转盘（3）为圆环形转盘。3.根据权利要求2所述的芯片测试箱，其特征在于：所述转盘（3）的环形内壁上设置有一支架（10），所述转盘（3）通过支架（10）与电机（5）的输出轴连接。4.根据权利要求3所述的芯片测试箱，其特征在于：所述支架（10）为十字形支架。5.根据权利要求1所述的芯片测试箱，其特征在于：所述支撑板（4）在检测箱（2）的周向外壁上间隔设置。

技术总结
本实用新型公开一种芯片测试箱，包括：安装座、检测箱、和转盘，所述检测箱通过若干个支撑板固定在安装座的顶部，所述转盘设置在安装座与检测箱之间，一电机设置在安装座的顶部且位于转盘下方，所述电机的输出轴与转盘连接，所述检测箱上沿转盘的旋转方向分别设置有进料口、出料口，所述检测箱自进料口沿周向延伸至出料口的顶部依次设置有中温台、高温台。本实用新型可以满足不同情况下的测试需求，还可以同时对多个芯片进行性能测试，提高了装置的适用性及测试效率。适用性及测试效率。适用性及测试效率。


技术研发人员：李江波 张成 姚燕杰 王丽 位贤龙
受保护的技术使用者：江苏凯尔生物识别科技有限公司
技术研发日：2022.02.23
技术公布日：2022/11/7