大电流锁紧式测试座的制作方法

1.本实用新型涉及电器插头测试技术领域，具体涉及大电流锁紧式测试座。


背景技术：

2.在to3p/220型等具有引脚的器件生产过程中，为了对to3p/220型等具有引脚的器件的生产质量进行把控，常需要测试o3p/220型等具有引脚的器件在通电状态下的参数，而在测试时常会用到测试座。
3.然而目前的测试座主要采用拔插式的弹性卡紧结构，导致测试座在使用时对被测试器件引脚的正面压力较小，从而增加了被测试器件引脚与测试座探针之间接触电阻，当测试座在大电流测试时容易发生烧损的现象，大大降低了测试座使用寿命。


技术实现要素：

4.(一)要解决的技术问题
5.为了克服现有技术不足，现提出大电流锁紧式测试座，解决了目前的测试座主要采用拔插式的弹性卡紧结构，导致测试座在使用时对被测试器件引脚的正面压力较小，从而增加了被测试器件引脚与测试座探针之间接触电阻，当测试座在大电流测试时容易发生烧损的现象，大大降低了测试座使用寿命的问题。
6.(二)技术方案
7.本实用新型通过如下技术方案实现：本实用新型提出了大电流锁紧式测试座，包括测试座底座、测试座把手、测试座压块和曲轴，所述测试座底座内安装有六个测试座探针，其中一个所述测试座探针一侧安装有外凸式的所述测试座压块，且所述测试座压块的外凸部分与所述测试座探针接触，所述测试座压块背对所述测试座探针的侧壁上开设有内凹结构的拨槽，所述拨槽内安装有所述曲轴，所述曲轴一端连接有所述测试座把手，所述测试座底座上侧设置有被测试器件。
8.进一步的，所述测试座探针采用折弯型的片状结构，所述测试座探针底端与所述测试座底座插接。
9.通过采用上述技术方案，所述测试座探针为实现所述被测试器件测试的主要部件，以便被测试电流流经所述被测试器件。
10.进一步的，所述测试座压块与所述测试座底座滑动连接，所述测试座压块采用绝缘塑胶制成。
11.通过采用上述技术方案，能够在拨动所述测试座把手时通过所述曲轴的拨动作用下实现所述测试座压块的便捷滑动，以便将所述测试座探针夹紧，实现所述被测试器件的固定。
12.进一步的，所述曲轴位于所述拨槽内。
13.通过采用上述技术方案，所述曲轴能够确保所述测试座压块的便捷拨动。
14.进一步的，所述拨槽成型于所述测试座压块上，所述曲轴与所述拨槽接触。
15.通过采用上述技术方案，所述拨槽能够确保所述曲轴的便捷转动，以便通过所述曲轴拨动所述测试座压块移动。
16.进一步的，所述被测试器件的引脚与所述测试座底座插接，所述测试座探针与所述被测试器件上的引脚接触。
17.通过采用上述技术方案，能够确保所述测试座探针的可靠安装固定，确保测试过程的顺利进行。
18.(三)有益效果
19.本实用新型相对于现有技术，具有以下有益效果：
20.为解决目前的测试座主要采用拔插式的弹性卡紧结构，导致测试座在使用时对被测试器件引脚的正面压力较小，从而增加了被测试器件引脚与测试座探针之间接触电阻，当测试座在大电流测试时容易发生烧损的现象，大大降低了测试座使用寿命的问题，本实用新型通过预先将被测试器件放置在测试座探针之间，并通过拨动测试座把手来实现测试座压块向测试座探针的靠近，以便使被测试器件的引脚夹固在测试座探针之间，有效增大了测试座探针对被测试器件引脚的正面压力，从而减小了测试座探针与被测试器件引脚之间的接触电阻，确保被测试器件在大电流测试下不会损坏测试座，大大提高了测试座的使用寿命。
附图说明
21.图1是本实用新型所述大电流锁紧式测试座的结构示意图；
22.图2是本实用新型所述大电流锁紧式测试座的内部视图；
23.图3是本实用新型所述大电流锁紧式测试座中测试座把手的结构示意图。
24.附图标记说明如下：
25.1、测试座压块；2、测试座探针；3、测试座底座；4、测试座把手；5、被测试器件；6、拨槽；7、曲轴。
具体实施方式
26.为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
27.如图1-图3所示，本实施例中的大电流锁紧式测试座，包括测试座底座3、测试座把手4、测试座压块1和曲轴7，测试座底座3内安装有六个测试座探针2，其中一个测试座探针2一侧安装有外凸式的测试座压块1，且测试座压块1的外凸部分与测试座探针2接触，测试座压块1背对测试座探针2的侧壁上开设有内凹结构的拨槽6，曲轴7位于拨槽6内，曲轴7能够确保测试座压块1的便捷拨动，拨槽6内安装有曲轴7，曲轴7一端连接有测试座把手4，在拨动测试座把手4时通过曲轴7的拨动作用下实现测试座压块1的便捷滑动，以便将测试座探针2夹紧，实现被测试器件5的固定，测试座底座3上侧设置有被测试器件5。
28.如图1-图3所示，本实施例中，测试座探针2采用折弯型的片状结构，测试座探针2底端与测试座底座3插接，测试座探针2为实现被测试器件5测试的主要部件，以便被测试电流流经被测试器件5，测试座压块1与测试座底座3滑动连接，测试座压块1采用绝缘塑胶制
成。
29.如图1-图3所示，本实施例中，拨槽6成型于测试座压块1上，曲轴7与拨槽6接触，拨槽6能够确保曲轴7的便捷转动，以便通过曲轴7拨动测试座压块1移动，被测试器件5的引脚与测试座底座3插接，测试座探针2与被测试器件5上的引脚接触，能够确保测试座探针2的可靠安装固定，确保测试过程的顺利进行。
30.本实施例的具体实施过程如下：当需要对被测试器件5进行测试时，首先将被测试器件5按照如图1所示方式放置在测试座底座3内，然后只需将测试座把手4向下拨动90
°
，便可在曲轴7转动过程中实现测试座压块1对测试座探针2的压紧，从而将被测试器件5可靠压紧在测试座探针2之间，接着只需将测试座底座3与外部测试设备相连，便可对被测试器件5进行检测，由于通过曲轴7的拨动来实现测试座压块1移动夹紧，有效增大了测试座探针2对被测试器件5引脚的正面压力，从而减小了测试座探针2与被测试器件5引脚之间的接触电阻，确保被测试器件5在大电流测试下不会损坏测试座，大大提高了测试座的使用寿命。
31.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。


技术特征：
1.大电流锁紧式测试座，其特征在于：包括测试座底座(3)、测试座把手(4)、测试座压块(1)和曲轴(7)，所述测试座底座(3)内安装有六个测试座探针(2)，其中一个所述测试座探针(2)一侧安装有外凸式的所述测试座压块(1)，且所述测试座压块(1)的外凸部分与所述测试座探针(2)接触，所述测试座压块(1)背对所述测试座探针(2)的侧壁上开设有内凹结构的拨槽(6)，所述拨槽(6)内安装有所述曲轴(7)，所述曲轴(7)一端连接有所述测试座把手(4)，所述测试座底座(3)上侧设置有被测试器件(5)。2.根据权利要求1所述的大电流锁紧式测试座，其特征在于：所述测试座探针(2)采用折弯型的片状结构，所述测试座探针(2)底端与所述测试座底座(3)插接。3.根据权利要求1所述的大电流锁紧式测试座，其特征在于：所述测试座压块(1)与所述测试座底座(3)滑动连接，所述测试座压块(1)采用绝缘塑胶制成。4.根据权利要求1所述的大电流锁紧式测试座，其特征在于：所述曲轴(7)位于所述拨槽(6)内。5.根据权利要求1所述的大电流锁紧式测试座，其特征在于：所述拨槽(6)成型于所述测试座压块(1)上，所述曲轴(7)与所述拨槽(6)接触。6.根据权利要求1所述的大电流锁紧式测试座，其特征在于：所述被测试器件(5)的引脚与所述测试座底座(3)插接，所述测试座探针(2)与所述被测试器件(5)上的引脚接触。

技术总结
本实用新型公开了大电流锁紧式测试座，包括测试座底座、测试座把手、测试座压块和曲轴，所述测试座底座内安装有六个测试座探针，其中一个所述测试座探针一侧安装有外凸式的所述测试座压块。有益效果在于：本实用新型通过预先将被测试器件放置在测试座探针之间，并通过拨动测试座把手来实现测试座压块向测试座探针的靠近，以便使被测试器件的引脚夹固在测试座探针之间，有效增大了测试座探针对被测试器件引脚的正面压力，从而减小了测试座探针与被测试器件引脚之间的接触电阻，确保被测试器件在大电流测试下不会损坏测试座，大大提高了测试座的使用寿命。试座的使用寿命。试座的使用寿命。


技术研发人员：朱雨帆 朱永汉
受保护的技术使用者：杭州瑞来电子有限公司
技术研发日：2022.07.05
技术公布日：2022/12/6