一种半导体测试治具的制作方法

本技术涉及半导体制造，尤其涉及一种半导体测试治具。

背景技术：

1、半导体芯片：在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件，治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作的一种工具。半导体生产过程中需要对其进行性能及功能测试，为方便测试，一般配备有对应测试芯片的冶具，冶具内有匹配芯片的凹槽，用于稳定芯片，但是测试完后，则不方便其芯片的取出。因此本实用提出了一种半导体测试治具，以解决上述背景技术中提到的问题。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体测试治具。

2、为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

3、一种半导体测试治具，包括冶具座，所述冶具座内部设置有左右两活动座，所述活动座左右滑动于冶具座内部，所述活动座内设置有前后两夹紧块，前后两所述夹紧块之间设置有左右两弹性片，所述弹性片固定于活动座内部，所述冶具座上侧设置有盒盖，所述盒盖后侧固定连接有转杆一，所述转杆一转动连接于冶具座后侧，所述转杆一与冶具座内部两活动座传动连接。

4、优选地，所述冶具座内部转动连接有左右两转杆二，转杆二两端均固定有齿轮三，活动座两侧均开设有对应齿轮三的齿槽。

5、优选地，所述转杆一中间周侧固定有齿轮一，齿轮一内侧设置与其啮合的齿条，齿条上下滑动于冶具座后侧。

6、优选地，所述齿条左右两侧均设置有与其啮合的齿轮二，两齿轮二分别与冶具座内部的两转杆二固定连接。

7、优选地，所述夹紧块后侧两端均设置有滑槽块，夹紧块前后滑动于两滑槽块之间，且滑槽块内部设置有对应夹紧块的弹簧一。

8、优选地，所述活动座内部上侧设置有贯穿滑槽块的若干滑柱，夹紧块通过两侧滑槽块和滑柱上下滑动于活动座内，且滑柱周侧套设有弹簧二。

9、优选地，所述夹紧块下侧固定有斜块，冶具座内部两侧前后均设置有对应斜块的斜面块。

10、相比现有技术，本实用新型的有益效果为：

11、1、本实用新型设置的半导体测试冶具座结构，在开关盒盖的过程中，能够传动内部活动座结构的活动，在打开过程中，活动座外移，内部前后夹紧块结构露出，方便放置芯片的同时，方便了芯片的取出，在关闭过程中，活动座回复，前后夹紧块配合两侧弹性片结构，对中间芯片进行稳定，保证芯片测试工作的正常进行；

12、2、本实用新型设置的活动座内部稳定结构，前后滑动的夹紧块配合两侧一定弹力的弹性片结构，其具备一定的适用范围，可对一定范围大小的芯片进行良好的稳定，改变传统固定放置槽的固定方式，提高了本冶具座结构测试芯片的适用面。

技术特征：

1.一种半导体测试治具，包括冶具座(1)，其特征在于，所述冶具座(1)内部设置有左右两活动座(6)，所述活动座(6)左右滑动于冶具座(1)内部，所述活动座(6)内设置有前后两夹紧块(9)，前后两所述夹紧块(9)之间设置有左右两弹性片(16)，所述弹性片(16)固定于活动座(6)内部，所述冶具座(1)上侧设置有盒盖(2)，所述盒盖(2)后侧固定连接有转杆一(7)，所述转杆一(7)转动连接于冶具座(1)后侧，所述转杆一(7)与冶具座(1)内部两活动座(6)传动连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述冶具座(1)内部转动连接有左右两转杆二(10)，转杆二(10)两端均固定有齿轮三(8)，活动座(6)两侧均开设有对应齿轮三(8)的齿槽。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述转杆一(7)中间周侧固定有齿轮一(3)，齿轮一(3)内侧设置与其啮合的齿条(5)，齿条(5)上下滑动于冶具座(1)后侧。

4.根据权利要求3所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述齿条(5)左右两侧均设置有与其啮合的齿轮二(4)，两齿轮二(4)分别与冶具座(1)内部的两转杆二(10)固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述夹紧块(9)后侧两端均设置有滑槽块(12)，夹紧块(9)前后滑动于两滑槽块(12)之间，且滑槽块(12)内部设置有对应夹紧块(9)的弹簧一(13)。

6.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述活动座(6)内部上侧设置有贯穿滑槽块(12)的若干滑柱(17)，夹紧块(9)通过两侧滑槽块(12)和滑柱(17)上下滑动于活动座(6)内，且滑柱(17)周侧套设有弹簧二(14)。

7.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于，所述夹紧块(9)下侧固定有斜块(15)，冶具座(1)内部两侧前后均设置有对应斜块(15)的斜面块(11)。

技术总结
本技术公开了一种半导体测试治具，涉及半导体制造技术领域，包括冶具座，所述冶具座内部设置有左右两活动座，所述活动座左右滑动于冶具座内部，所述活动座内设置有前后两夹紧块，前后两所述夹紧块之间设置有左右两弹性片。本技术设置的半导体测试冶具座结构，在开关盒盖的过程中，能够传动内部活动座结构的活动，在打开过程中，活动座外移，内部前后夹紧块结构露出，方便放置芯片的同时，方便了芯片的取出，在关闭过程中，活动座回复，前后夹紧块配合两侧弹性片结构，对中间芯片进行稳定，保证芯片测试工作的正常进行，前后滑动的夹紧块配合两侧一定弹力的弹性片结构，可对一定范围大小的芯片进行良好的稳定。

技术研发人员：徐守彬
受保护的技术使用者：上海凌测电子科技有限公司
技术研发日：20220725
技术公布日：2024/1/13