1.本实用新型涉及一种芯片测试系统领域,更具体地说,涉及一种脉冲反偏测试系统。
背景技术:2.随着科技日新月异的发展,我们的生活越来越离不开半导体集成电路,而集成电路的核心就是半导体芯片,为了使芯片能够更加稳定的运行,都要对半导体芯片参数进行分析,以往都是对半导体芯片在恒压、高温条件下进行;而为了使芯片能够适应更复杂电路下正常运行,现在越来越多的半导体芯片要求在脉冲电压、高温下也能够正常工作。
技术实现要素:3.本实用新型为了克服现有技术中存在的传统的芯片老化测试系统没有设置芯片的脉冲测试系统的问题,现提供具有可对芯片进行脉冲测试的一种脉冲反偏测试系统。
4.本实用新型的一种脉冲反偏测试系统,包括用于提供电力的输入电源v+、若干件被测器件、用于给被测器件提供试验电压的脉冲电源、用于给被测器件提供测试环境和用于采集被测器件各项试验数据的老化柜和用于固定被测器件器件的老化板,每个被测器件分别电性连接并固定于老化板上的安装位中,老化板固定于老化柜内的老化房内,所述的脉冲电源的输出端与老化板的测试信号输入端电性连接,所述的输入电源v+的输出端分别与脉冲电源的输入端和老化板的电源输入端电性连接。
5.作为优选,所述的输入电源v+与脉冲电源间设有用于控制脉冲电源的继电器k1,所述的继电器k1的一端与脉冲电源的输出端电性连接,所述的继电器k1的另一端与脉冲电源的输入端电性连接。
6.作为优选,所述的脉冲电源包括用于产生脉冲信号的脉冲信号发生器,所述的脉冲信号发生器集成固定于老化房内壁上,所述的脉冲信号发生器旁设有用于调节脉冲信号的宽度的脉冲信号变调器pwm,所述的脉冲信号发生器的电源输入端与继电器k1的一端电性连接,所述的脉冲信号变调器pwm的信号输出端与脉冲信号发生器的信号输入端电性连接,所述的脉冲信号发生器的信号输出端分别与每个被测器件的信号输入端电性连接。
7.作为优选,每个被测器件与脉冲信号发生器间分别设有一个用于保护被测器件的熔断器fu,所述的熔断器fu的一端与被测器件的一端电性连接,所述的熔断器fu的另一端与脉冲信号发生器的信号输出端电性连接,所述的被测器件的另一端接地。
8.工作前,先将被测器件固定与老化板的安装位内,之后将装有被测器件的老化板固定置与老化柜的老化房内。
9.工作时,先在老化柜的操控台上对启动输入电源v+和继电器k1,此时脉冲信号发生器开始产生高频脉冲信号,然后打开老化房内的加热器并设置所需的测试温度,开始模拟测试所需的极端环境,此时被测芯片在高温下不停地通过高频脉冲信号,在测试过程中老化房内集成的各项数据采集器如电压采集器、电流采集器、线路温度采集器等会分别对
各个被测芯片进行数据采集直至测试结束。
10.当被测芯片在试验过程中出现异常,熔断器会自动熔断,切断线路,从而保护被测芯片。
11.本实用新型具有以下有益效果:结构简单,检测准确,操作方便。
附图说明
12.附图1为本实用新型的电路原理图。
13.被测器件1,脉冲信号发生器2。
具体实施方式
14.下面通过实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。
15.实施例:根据附图1进行进一步说明本例的一种脉冲反偏测试系统,包括用于提供电力的输入电源v+、若干件被测器件1、用于给被测器件1提供试验电压的脉冲电源、用于给被测器件1提供测试环境和用于采集被测器件1各项试验数据的老化柜和用于固定被测器件1器件的老化板,每个被测器件1分别电性连接并固定于老化板上的安装位中,老化板固定于老化柜内的老化房内,所述的脉冲电源的输出端与老化板的测试信号输入端电性连接,所述的输入电源v+的输出端分别与脉冲电源的输入端和老化板的电源输入端电性连接。
16.所述的输入电源v+与脉冲电源间设有用于控制脉冲电源的继电器k1,所述的继电器k1的一端与脉冲电源的输出端电性连接,所述的继电器k1的另一端与脉冲电源的输入端电性连接。
17.所述的脉冲电源包括用于产生脉冲信号的脉冲信号发生器2,所述的脉冲信号发生器2集成固定于老化房内壁上,所述的脉冲信号发生器2旁设有用于调节脉冲信号的宽度的脉冲信号变调器pwm,所述的脉冲信号发生器2的电源输入端与继电器k1的一端电性连接,所述的脉冲信号变调器pwm的信号输出端与脉冲信号发生器2的信号输入端电性连接,所述的脉冲信号发生器2的信号输出端分别与每个被测器件1的信号输入端电性连接。
18.每个被测器件1与脉冲信号发生器2间分别设有一个用于保护被测器件1的熔断器fu,所述的熔断器fu的一端与被测器件1的一端电性连接,所述的熔断器fu的另一端与脉冲信号发生器2的信号输出端电性连接,所述的被测器件1的另一端接地。
19.以上所述仅为本实用新型的具体实施例,但本实用新型的结构特征并不局限于此,任何本领域的技术人员在本实用新型的领域内,所作的变化或修饰皆涵盖在本实用新型的专利范围之中。
技术特征:1.一种脉冲反偏测试系统,包括用于提供电力的输入电源v+、若干件被测器件(1)、用于给被测器件(1)提供试验电压的脉冲电源、用于给被测器件(1)提供测试环境和用于采集被测器件(1)各项试验数据的老化柜和用于固定被测器件(1)器件的老化板,其特征是,每个被测器件(1)分别电性连接并固定于老化板上的安装位中,老化板固定于老化柜内的老化房内,所述的脉冲电源的输出端与老化板的测试信号输入端电性连接,所述的输入电源v+的输出端分别与脉冲电源的输入端和老化板的电源输入端电性连接。2.根据权利要求1所述的一种脉冲反偏测试系统,其特征是,所述的输入电源v+与脉冲电源间设有用于控制脉冲电源的继电器k1,所述的继电器k1的一端与脉冲电源的输出端电性连接,所述的继电器k1的另一端与脉冲电源的输入端电性连接。3.根据权利要求2所述的一种脉冲反偏测试系统,其特征是,所述的脉冲电源包括用于产生脉冲信号的脉冲信号发生器(2),所述的脉冲信号发生器(2)集成固定于老化房内壁上,所述的脉冲信号发生器(2)旁设有用于调节脉冲信号的宽度的脉冲信号变调器pwm,所述的脉冲信号发生器(2)的电源输入端与继电器k1的一端电性连接,所述的脉冲信号变调器pwm的信号输出端与脉冲信号发生器(2)的信号输入端电性连接,所述的脉冲信号发生器(2)的信号输出端分别与每个被测器件(1)的信号输入端电性连接。4.根据权利要求3所述的一种脉冲反偏测试系统,其特征是,每个被测器件(1)与脉冲信号发生器(2)间分别设有一个用于保护被测器件(1)的熔断器fu,所述的熔断器fu的一端与被测器件(1)的一端电性连接,所述的熔断器fu的另一端与脉冲信号发生器(2)的信号输出端电性连接,所述的被测器件(1)的另一端接地。
技术总结本实用新型公开了一种脉冲反偏测试系统,包括用于提供电力的输入电源V+、若干件被测器件、用于给被测器件提供试验电压的脉冲电源、用于给被测器件提供测试环境和用于采集被测器件各项试验数据的老化柜和用于固定被测器件器件的老化板,每个被测器件分别电性连接并固定于老化板上的安装位中,老化板固定于老化柜内的老化房内,所述的脉冲电源的输出端与老化板的测试信号输入端电性连接,所述的输入电源V+的输出端分别与脉冲电源的输入端和老化板的电源输入端电性连接。本实用新型克服了现有技术中存在的传统的芯片老化测试系统没有设置芯片的脉冲测试系统的问题。本实用新型具有以下有益效果结构简单、检测准确和操作方便等优点。等优点。等优点。
技术研发人员:吴志刚 刘年富 陈益敏
受保护的技术使用者:杭州高裕电子科技有限公司
技术研发日:2022.07.26
技术公布日:2022/12/23