1Hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统的制作方法

本技术涉及时钟测试仪测量，特别涉及1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统。

背景技术：

1、现有技术中，1hz低噪声频率扩展采用功分器和后级放大的方案。图1是现有技术的电路图。如图1所示，由于采用功分器进行功分，会引入很大插损，需要后级放大电路放大倍数较大。但是在实际使用中，不可能无限放大，一般放大3-5倍后信号噪声就会变大，信号波形失真，也会产生严重的稳定度误差。

技术实现思路

1、针对现有技术中的上述不足，本实用新型提供了1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统，其结构合理，可以解决技术中无法实现1hz多路扩展、阻抗匹配及多台设备测试的问题。

2、为了达到上述实用新型目的，本实用新型采用的技术方案为：1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统，包括:1hz低噪声频率扩展电路，所述1hz低噪声频率扩展电路包括初级网络匹配电路，用于匹配输入信号阻抗，所述初级网络匹配电路连接设有低噪声放大电路，用于将1hz信号进行放大；所述放大电路连接设有射随电路，用于根据放大后的1hz信号进行射随输出，增强驱动能力，所述射随电路连接设有输出阻抗匹配电路，对输出信号与初级网络匹配电路进行阻抗匹配。

3、作为改进：所述放大电路包括电流型运算放大器、电压型运算放大器和三极管的其中之一或任意组合。

4、作为改进：所述放大电路的数量为一个或多个，多个放大电路依次并联连接。

5、作为改进：所述射随电路的数量为一个或多个射随电路依次并联连接，所述射随电路还包括衰减电路，一端与阻抗匹配电路的输入端、放大电路的输出端连接，另一端接地，用于快沿信号衰减。

6、作为改进：所述1hz低噪声频率扩展电路及多台精密时基源日计时误差测试系统还包括初级网络匹配电路、输出阻抗匹配电路，用于输入和输出阻抗匹配。

7、作为改进：所述1hz低噪声频率扩展电路与1hz低噪声频率扩展电路连接设有参考频标，用于提供标准频率同步，所述1hz低噪声频率扩展电路连接设有函数发生器，用于根据精密时基源的输出频率选择不同的输出信号。

8、本实用新型与现有技术相比优点在于：本实用新型通过1hz低噪声频率扩展电路，从而产生了多个1hz信号，满足了的多台精密时基源日计时误差测试需求；通过初级阻抗匹配和输出阻抗匹配，减小信号反射导致的输出信号失真，避免了因阻抗失配产生严重的过冲和振铃现象。

技术特征：

1.1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统，包括:1hz低噪声频率扩展电路(200)，其特征在于，所述1hz低噪声频率扩展电路(200)包括初级网络匹配电路(101)，用于匹配输入信号阻抗，所述初级网络匹配电路(101)连接设有低噪声放大电路(102)，用于将1hz信号进行放大；所述放大电路(102)连接设有射随电路(103)，用于根据放大后的1hz信号进行射随输出，增强驱动能力，所述射随电路(103)连接设有输出阻抗匹配电路(104)，对输出信号与初级网络匹配电路(101)进行阻抗匹配。

2.根据权利要求1所述的1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统，其特征在于：所述放大电路(102)包括电流型运算放大器、电压型运算放大器和三极管的其中之一或任意组合。

3.根据权利要求1所述的1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统，其特征在于：所述放大电路(102)的数量为一个或多个，多个放大电路(102)依次并联连接。

4.根据权利要求1所述的1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统，其特征在于：所述射随电路(103)的数量为一个或多个射随电路(103)依次并联连接，所述射随电路(103)还包括衰减电路，一端与阻抗匹配电路(104)的输入端、放大电路(102)的输出端连接，另一端接地，用于快沿信号衰减。

5.根据权利要求1所述的1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统，其特征在于：所述1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统还包括初级网络匹配电路(101)、输出阻抗匹配电路(104)，用于输入和输出阻抗匹配。

6.根据权利要求1所述的1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统，其特征在于：1hz低噪声频率扩展电路有源前端，包括：权利要求1至5任一项所述的1hz低噪声频率扩展电路(200)。

7.根据权利要求1所述的1hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统，其特征在于：所述1hz低噪声频率扩展电路(200)与1hz低噪声频率扩展电路(200)连接设有参考频标(100)，用于提供标准频率同步，所述1hz低噪声频率扩展电路(200)连接设有函数发生器(300)，用于根据精密时基源的输出频率选择不同的输出信号。

技术总结
本技术涉及1Hz低噪声频率扩展及多台精密时基源日计时误差测试系统，包括:1Hz低噪声频率扩展(200)，所述1Hz低噪声频率扩展(200)包括初级网络匹配电路(101)，用于匹配输入信号阻抗，所述初级网络匹配电路(101)连接设有低噪声放大电路(102)，用于将1Hz信号进行放大；所述放大电路(102)连接设有射随电路(103)，用于根据放大后的1Hz信号进行射随输出，增强驱动能力，所述射随电路(103)连接设有输出阻抗匹配电路(104)，对输出信号与初级电路(101)进行阻抗匹配。本技术与现有技术相比优点在于：结构合理，以解决技术中无法实现1Hz多路扩展、阻抗匹配及多台设备测试的问题。

技术研发人员：白冰,汤野,薛丽敏,李菥然,李风泽,杨智超,姚远,李为兵,张羽,刘畅,刘可一,冮若嘉,王立坤,朱耀文,周浩,田奎,时菊彬
受保护的技术使用者：国网辽宁省电力有限公司营销服务中心
技术研发日：20220826
技术公布日：2024/1/15