一种集成电路产品检查外观的装置的制作方法

1.本实用新型涉及集成电路产品检测技术领域，具体涉及一种集成电路产品检查外观的装置。


背景技术：

2.集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，集成电路产品则是生产出的集成电路载体元器件。
3.集成电路元器件在电镀生产过程中，产品有多道工序都需检验，元器件有不同的封装形式规格大小，不同规格的产品宽度大小也不同，传统的检验方式是将产品挂在检验桌上的铁杆上，再将产品一头慢慢拉下引入检验桌上的导轨里用显微镜检查产品外观，导轨宽度固定不可调，由于不同的产品宽度大小不一，产品在导轨里不能固定既不便于人员检验且容易对产品外观造成刮伤。
4.所以这里设计生产了一种集成电路产品检查外观的装置，以便于解决不方便对元器件进行调节固定检验的问题。


技术实现要素：

5.本实用新型提供一种集成电路产品检查外观的装置，用于解决上述背景技术中无法对不同大小的元器件进行固定适配检测的问题。
6.为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：一种集成电路产品检查外观的装置，包括检测台，所述检测台底部螺栓连接有伸缩桌架，所述检测台顶部设有观察视镜，所述检测台顶部螺栓连接有固定导轨，所述检测台靠近固定导轨的一侧螺栓连接有两个滑轨，所述滑轨外侧套设且滑动连接有滑块，所述滑块顶部焊接连接有移动导轨，所述移动导轨一侧顶部贯穿设有固定螺栓，所述检测台靠近移动导轨的下方位置固定连接有固定座，所述固定螺栓与固定螺栓螺栓连接，所述伸缩桌架下方横杆的中间顶部焊接连接有顶升外杆，所述顶升外杆顶部贯穿且滑动连接有顶升内杆，所述顶升内杆顶端与检测台的底部螺栓连接。
7.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述顶升外杆内槽壁转动连接有螺纹杆，所述螺纹杆与顶升内杆底端贯穿且螺纹连接，所述伸缩桌架横杆相对顶升外杆的内槽开设有转槽。
8.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述螺纹杆的底端与转槽的顶部贯穿且转动连接，所述转槽内壁转动连接有转杆，所述转杆一端与伸缩桌架横杆侧边贯穿且转动连接。
9.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述转杆相对螺纹杆的位置和其相对一端均焊接连接有齿轮，两个所述齿轮相互啮合连接。
10.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述转杆贯穿伸缩桌架横杆的一端通过传
动铰链连接有转把，所述转把设于伸缩桌架相对一侧侧壁上方位置。
11.作为本实用新型的一种优选技术方案，所述顶升内杆底端贯穿且滑动连接有滑杆，所述滑杆焊接连接于顶升外杆内槽壁。
12.本实用新型所达到的有益效果是：
13.通过将导轨改成可自由调节宽度，检验时由于产品在导轨里不能晃动，大大减少了检验时间，提升了工作效率，可调节宽度的导轨，减少在检验时给产品外观带来的二次刮伤的可能性，提升了效率的同时又降低了不良品的发生，简单实用，并且在检测装置的底部设置可调节升降的底架，方便不同使用者使用时调节检测台的高度，提升装置使用的便利和舒适度。
附图说明
14.附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。
15.在附图中：
16.图1是本实用新型的正剖视结构示意图；
17.图2是本实用新型固定导轨和移动导轨结构的俯视细节示意图；
18.图3是本实用新型图1的a处放大结构示意图。
19.图中：1、检测台；2、伸缩桌架；3、观察视镜；4、固定导轨；5、滑轨；6、滑块；7、移动导轨；8、固定螺栓；9、固定座；10、顶升外杆；11、顶升内杆；12、螺纹杆；13、转槽；14、转杆；15、齿轮；16、转把；17、滑杆。
具体实施方式
20.实施例一
21.如图1-2所示，本实用新型一种集成电路产品检查外观的装置，包括检测台1，检测台1底部螺栓连接有伸缩桌架2，检测台1顶部设有观察视镜3，检测台1顶部螺栓连接有固定导轨4，检测台1靠近固定导轨4的一侧螺栓连接有两个滑轨5，滑轨5外侧套设且滑动连接有滑块6，滑块6顶部焊接连接有移动导轨7，移动导轨7一侧顶部贯穿设有固定螺栓8，检测台1靠近移动导轨7的下方位置固定连接有固定座9，固定螺栓8与固定螺栓8螺栓连接，伸缩桌架2下方横杆的中间顶部焊接连接有顶升外杆10，顶升外杆10顶部贯穿且滑动连接有顶升内杆11，顶升内杆11顶端与检测台1的底部螺栓连接，滑轨5与滑块6为同尺寸规格尺寸，通过滑块6和滑轨5配合后，可实现移动导轨7在滑轨5方向自由前后移动，当移动导轨7和固定导轨4调至适合宽度后可通过顺时针旋转两个固定螺栓8让螺丝顶部顶住固定座9，使移动导轨7固定，当切换产品规格需重新调节移动导轨7和固定导轨4的宽度，可逆时针旋转固定螺栓8解除固定限位，然后按上述步骤调节移动导轨7和固定导轨4的间距即可，之后通过观察视镜3放大观察，装置根据产品宽度大小的不同，可将移动导轨7调节至适合产品的宽度再检验产品，提升检测物的稳定和安全，提升检测的效率和准确。
22.实施例二
23.如图1、3所示，在实施例1的基础上做了进一步改进：
24.为了方便检测装置使用更加的舒适方便，通过顶升外杆10内槽壁转动连接有螺纹
杆12，螺纹杆12与顶升内杆11底端贯穿且螺纹连接，伸缩桌架2横杆相对顶升外杆10的内槽开设有转槽13，螺纹杆12的底端与转槽13的顶部贯穿且转动连接，转槽13内壁转动连接有转杆14，转杆14一端与伸缩桌架2横杆侧边贯穿且转动连接，转杆14相对螺纹杆12的位置和其相对一端均焊接连接有齿轮15，两个齿轮15相互啮合连接，转杆14贯穿伸缩桌架2横杆的一端通过传动铰链连接有转把16，转把16设于伸缩桌架2相对一侧侧壁上方位置，顶升内杆11底端贯穿且滑动连接有滑杆17，滑杆17焊接连接于顶升外杆10内槽壁，通过转动转把16，再由铰链传动带动转杆14在转槽13内转动，随即即可通过齿轮15的传动，螺纹杆12随之转动，螺纹杆12则与顶升内杆11在顶升外杆10内向上顶升滑动，随即伸缩桌架2同步顶升，即可调节检测台1和上方的检测设备顶升到不同高度，进而方便不同人的使用舒适度提升。
25.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。


技术特征：
1.一种集成电路产品检查外观的装置，包括检测台(1)，所述检测台(1)底部螺栓连接有伸缩桌架(2)，所述检测台(1)顶部设有观察视镜(3)，其特征在于：所述检测台(1)顶部螺栓连接有固定导轨(4)，所述检测台(1)靠近固定导轨(4)的一侧螺栓连接有两个滑轨(5)，所述滑轨(5)外侧套设且滑动连接有滑块(6)，所述滑块(6)顶部焊接连接有移动导轨(7)，所述移动导轨(7)一侧顶部贯穿设有固定螺栓(8)，所述检测台(1)靠近移动导轨(7)的下方位置固定连接有固定座(9)，所述固定螺栓(8)与固定螺栓(8)螺栓连接，所述伸缩桌架(2)下方横杆的中间顶部焊接连接有顶升外杆(10)，所述顶升外杆(10)顶部贯穿且滑动连接有顶升内杆(11)，所述顶升内杆(11)顶端与检测台(1)的底部螺栓连接。2.如权利要求1所述的一种集成电路产品检查外观的装置，其特征在于，所述顶升外杆(10)内槽壁转动连接有螺纹杆(12)，所述螺纹杆(12)与顶升内杆(11)底端贯穿且螺纹连接，所述伸缩桌架(2)横杆相对顶升外杆(10)的内槽开设有转槽(13)。3.如权利要求2所述的一种集成电路产品检查外观的装置，其特征在于，所述螺纹杆(12)的底端与转槽(13)的顶部贯穿且转动连接，所述转槽(13)内壁转动连接有转杆(14)，所述转杆(14)一端与伸缩桌架(2)横杆侧边贯穿且转动连接。4.如权利要求3所述的一种集成电路产品检查外观的装置，其特征在于，所述转杆(14)相对螺纹杆(12)的位置和其相对一端均焊接连接有齿轮(15)，两个所述齿轮(15)相互啮合连接。5.如权利要求3所述的一种集成电路产品检查外观的装置，其特征在于，所述转杆(14)贯穿伸缩桌架(2)横杆的一端通过传动铰链连接有转把(16)，所述转把(16)设于伸缩桌架(2)相对一侧侧壁上方位置。6.如权利要求1所述的一种集成电路产品检查外观的装置，其特征在于，所述顶升内杆(11)底端贯穿且滑动连接有滑杆(17)，所述滑杆(17)焊接连接于顶升外杆(10)内槽壁。

技术总结
本实用新型公开了一种集成电路产品检查外观的装置，包括检测台，检测台底部螺栓连接有伸缩桌架，检测台顶部设有观察视镜，检测台顶部螺栓连接有固定导轨，检测台靠近固定导轨的一侧螺栓连接有两个滑轨，滑轨外侧套设且滑动连接有滑块，滑块顶部焊接连接有移动导轨，移动导轨一侧顶部贯穿设有固定螺栓，检测台靠近移动导轨的下方位置固定连接有固定座，固定螺栓与固定螺栓螺栓连接，本实用新型具有以下优点：过将导轨改成可自由调节宽度，检验时由于产品在导轨里不能晃动，大大减少了检验时间，提升了工作效率，可调节宽度的导轨，减少在检验时给产品外观带来的二次刮伤的可能性，提升了效率的同时又降低了不良品的发生，简单实用。用。用。


技术研发人员：袁峰 肖广源
受保护的技术使用者：上海华友金裕微电子有限公司
技术研发日：2022.09.27
技术公布日：2023/2/3