一种电脑外壳抗压性能检测装置的制作方法

文档序号:33858134发布日期:2023-04-20 02:58阅读:62来源:国知局
一种电脑外壳抗压性能检测装置的制作方法

本技术属于抗压性能检测,尤其涉及一种电脑外壳抗压性能检测装置。


背景技术:

1、电脑外壳即为电脑主机的外壳,电脑外壳在生产完成后需要进行抗压性能检测,传统的检测方式是通过锤头对电脑外壳进行锤击,锤击完成后,观测其在该压力作用下是否发生变形,然而如果是细微的变形很难通过肉眼观测,为解决上述问题,现提供一种电脑外壳抗压性能检测装置。

2、需要说明的是,上述内容属于发明人的技术认知范畴,并不必然构成现有技术。


技术实现思路

1、为了解决上述问题,本实用新型的目的是提供一种电脑外壳抗压性能检测装置,通过距离传感器能够测试前后锤击后其与l型支架之间的距离,通过比较锤击前后距离传感器测试的数据,若锤击后的数据小于锤击前则说明在锤头的锤击下电脑外壳发生了变形,因此该测试装置测试精度高。

2、为实现上述目的,本实用新型提出了一种电脑外壳抗压性能检测装置,测试装置包括检测平台,所述检测平台的上方固定有l型支架,l型支架的顶板上滑动设有锤击件。

3、所述锤击件包括竖直的滑动杆,滑动杆的下方固定有锤头,上方贯穿l型支架的顶板固定两个高度不同的固定块,位于下方的固定块的下方固定有支撑块,位于下方的固定块下方固定有距离传感器,距离传感器用于检测其与l型支架之间的距离。

4、在一个示例中,所述l型支架的顶板上固定有用于抬升锤击件的抬升件。

5、在一个示例中,所述l型支架的顶板上固定有连接条,连接条的下方设有两个平行分布的直线滑轨,两个直线滑轨上均滑动设有用于推动电脑外壳移动的推动件。

6、在一个示例中,所述推动件包括位于直线滑轨内滑动的电动滑块,电动滑块的下方固定有竖直的电动伸缩杆,电动伸缩杆的下方固定有用于推动电脑外壳移动的驱动板。

7、在一个示例中,所述检测平台的一侧设有上料平台,另一侧设有下料平台,直线滑轨的两端分别位于上料平台和下料平台的上方。

8、在一个示例中,所述上料平台和下料平台均为传送装置。

9、通过本实用新型提出的一种电脑外壳抗压性能检测装置能够带来如下有益效果:

10、1、本实用新型检测装置通过距离传感器能够测试前后锤击后其与l型支架之间的距离,通过比较锤击前后距离传感器测试的数据,若锤击后的数据小于锤击前则说明在锤头的锤击下电脑外壳发生了变形,因此该测试装置测试精度高,且能够在完成锤击测试后能够自动检测是否变形,检测效率高;

11、2、本实用新型检测装置在测试完成后,通过收缩靠近下料平台一侧的电动伸缩杆使得其对应的驱动板移动至电脑外壳上方,通过远离下料平台一侧的驱动板对电脑外壳进行推动将其推动至下料平台上,因此该推动件既能实现对电脑外壳的上下料,又能实现对电脑外壳的夹持,结构简单,适于实用。



技术特征:

1.一种电脑外壳抗压性能检测装置,测试装置包括检测平台(1),其特征在于,所述检测平台(1)的上方固定有l型支架(4),l型支架(4)的顶板上滑动设有锤击件(5);

2.根据权利要求1所述的一种电脑外壳抗压性能检测装置,其特征在于,所述l型支架(4)的顶板上固定有用于抬升锤击件(5)的抬升件(6)。

3.根据权利要求1所述的一种电脑外壳抗压性能检测装置,其特征在于,所述l型支架(4)的顶板上固定有连接条(7),连接条(7)的下方设有两个平行分布的直线滑轨(71),两个直线滑轨(71)上均滑动设有用于推动电脑外壳移动的推动件(8)。

4.根据权利要求3所述的一种电脑外壳抗压性能检测装置,其特征在于,所述推动件(8)包括位于直线滑轨(71)内滑动的电动滑块(81),电动滑块(81)的下方固定有竖直的电动伸缩杆(82),电动伸缩杆(82)的下方固定有用于推动电脑外壳移动的驱动板(83)。

5.根据权利要求3所述的一种电脑外壳抗压性能检测装置,其特征在于,所述检测平台(1)的一侧设有上料平台(2),另一侧设有下料平台(3),直线滑轨(71)的两端分别位于上料平台(2)和下料平台(3)的上方。

6.根据权利要求5所述的一种电脑外壳抗压性能检测装置,其特征在于,所述上料平台(2)和下料平台(3)均为传送装置。


技术总结
本技术公开了一种电脑外壳抗压性能检测装置,测试装置包括检测平台,所述检测平台的上方固定有L型支架,L型支架的顶板上滑动设有锤击件,锤击件包括竖直的滑动杆,滑动杆的下方固定有锤头,上方贯穿L型支架的顶板固定两个高度不同的固定块,位于下方的固定块的下方固定有支撑块,位于下方的固定块下方固定有距离传感器,距离传感器用于检测其与L型支架之间的距离。本技术检测装置通过距离传感器能够测试前后锤击后其与L型支架之间的距离,通过比较锤击前后距离传感器测试的数据,若锤击后的数据小于锤击前则说明在锤头的锤击下电脑外壳发生了变形,因此该测试装置测试精度高,结构简单,适于实用。

技术研发人员:王萍
受保护的技术使用者:苏州臻润电子科技有限公司
技术研发日:20221102
技术公布日:2024/1/13
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