一种扁头测试探针的制作方法

1.本申请涉及测试领域，更具体地说，它涉及一种扁头测试探针。


背景技术：

2.测试探针是电测试的接触谋介，为高端紧密型电子五金元器件，属于是重要的电子部件，是电子元器件连接导电的载体。测试探针广泛用于测试pcba的一种数据传送，导电接触，通过探针导电传输功能体的数据判断产品是否正常接触以及运作数据正常；
3.常见测试探针的测试针头部分为球形结构，在碰到类似螺纹体这类测试点在螺纹底部结构特殊复杂的产品时，球形结构的测试针头无法与检测点进行接触并检测，从而造成不便。


技术实现要素：

4.针对上述现有技术的不足，本申请的目的是提供一种扁头测试探针，具有能适应结构复杂的检测产品及结构简单的优点。
5.本申请的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种扁头测试探针，包括贯通的针管、与所述针管一端限位抵接的测试针头以及套设于所述针管另一端并用于与测试线进行焊接的连接件，所述测试针头与所述连接件均可滑动于所述针管内，且在所述测试针头与所述连接件之间放置有弹性件；
6.所述测试针头一端扁头形状设计且所述测试针头端面设置有多个结构相同、尺寸相同的倒三角的探针头，且多个所述探针头之间形成有v型槽。
7.优选的，所述针管上环绕设置有四个用于限制所述测试针头弹出去的限位凸起，且四个所述凸起沿所述针管周向均匀分布。
8.优选的，所述v型槽的夹角面与所述测试产品的测试面接触。
9.优选的，所述探针爪的数量为两个。
10.优选的，所述弹性件为压缩弹簧。
11.综上所述，本申请具有的有益效果：本实施例中的测试针头部分由多个结构相同、尺寸相同的倒三角的探针头组成的测试针头，且各探针头之间形成有v型槽。探针头可以实现对测试产品为螺纹体且测试点处于螺纹底部的产品进行检测，v型槽的底部可以实现测试点处于螺纹顶部的产品进行检测，且v型槽的夹角面能与螺纹的牙形角进行接触，增大了检测面积，提高了检测的准确性。以及测试针头两侧呈扁头设计，扁头设计节省了工作空间，使所述测试针头适应更多样的测试环境，扩大了产品的使用范围。通过将常见的球形结构的测试针头部分进行优化，达到了能适应结构复杂的检测产品及结构简单的技术目的。
附图说明
12.图1是本申请实施例的结构示意图；
13.图2是图1的半剖结构示意图；
14.图3是图1的a处放大结构示意图。
15.附图标记：1、针管；11、限位凸起；2、测试针头；21、测试端；211、探针头；212、v型槽；22、限位端；3、连接件；31、抵接端；32、焊接端；4、压缩弹簧。
具体实施方式
16.为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
17.需说明的是，当部件被称为“固定于”或“设置于”另一个部件，它可以直接在另一个部件上或者间接在该另一个部件上。当一个部件被称为是“连接于”另一个部件，它可以是直接或者间接连接至该另一个部件上。
18.需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
19.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
20.一种扁头测试探针，参见图1至图3，包括贯通的针管1、与所述针管1一端限位抵接的测试针头2以及套设于所述针管1另一端并用于与测试线进行焊接的连接件3，所述测试针头2与所述连接件3均可滑动于所述针管1内，且所述针管1内部放置有压缩弹簧4，所述压缩弹簧4一端与所述测试针头2进行抵接，所述压缩弹簧4另一端与所述连接件3进行抵接。
21.所述针管1与所述测试针头2配合的一端沿所述针管1环绕设置有四个用于限制所述测试针头2弹出去的限位凸起11，且四个所述凸起沿所述针管1周向均匀分布；所述针管1与所述连接件3套设连接的一端采用向内收口的方式与所述连接件3抵接配合，且所述针管1能够将所述测试针头2检测到的信息反馈到所述连接件3，再通过所述测试线传送到计算机进行分析。
22.在实际的检测过程中，通过移动扁头测试探针，使所述测试针头2向待测产品靠近，所述测试针头2接触待测产品的测试点进行检测。在检测运动过程中，所述测试针头2受到挤压向所述连接件3方向滑动时，与所述测试针头2进行抵接的所述压缩弹簧4能够给所述测试针头2提供缓冲效果，避免对工件造成过大的冲击，损坏工件。
23.所述测试针头2一端为与测试产品的测试点接触的测试端21，所述测试针头2另一端为与所述限位凸起11限位抵接的限位端22。所述测试端21与所述限位端22呈一体式设计，本实施例中所述测试端21端面设置有两个探针头211，两个所述探针头211由结构相同、尺寸相同的倒三角构成，且所述探针头211之间形成有v型槽212，当测试产品为螺纹体且测试点处于螺纹顶部时，所述v型槽212底部位置与螺纹体的测试点相接触并进行检测，且所述v型槽212之间的夹角面在测试过程中与螺纹体的牙形角位置贴合，增大了接触面积，从而达到更好的检测；当测试产品为螺纹体且测试点处于螺纹顶底部时，由所述探针头211与
螺纹体底部的测试点进行接触检测，从而达到接触检测的目的。且所述测试端21两侧呈扁头设计，扁头设计节省了工作空间，使所述测试针头2适应更多样的测试环境，扩大了产品的使用范围。且所述所述限位端22与所述压缩弹簧4抵接的端面呈圆锥形设计，圆锥形的设计能够与所述压缩弹簧4抵接更贴合。
24.所述连接件3一端为与所述压缩弹簧4进行抵接的抵接端31，所述连接件3另一端为与测试线进行焊接的焊接端32，且所述抵接端31与所述焊接端32呈一体式设计。所述抵接端31置于所述针管1内与所述针管1向内收口处抵接，所述抵接端31的直径小于所述针管1内壁直径，所述抵接端31的直径大于所述针管1向内收口处的直径，所以所述连接件3滑动于所述针管1内，不会掉出针管1。
25.此外，还可以给所述测试针头2、所述针管1、所述连接件3以及所述压缩弹簧4进行表面镀金工艺等，表面镀金的零件可以有效降低测试探针的电阻，提升测试探针的检测精度，其耐腐蚀性能也更好，便于清洁，有利于延长测试探针的使用寿命。
26.上述实施例仅仅是对本申请的解释，其并不是对本申请的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本申请的权利要求范围内都受到专利法的保护。


技术特征：
1.一种扁头测试探针，包括贯通的针管、与所述针管一端限位抵接的测试针头以及套设于所述针管另一端并用于与测试线进行焊接的连接件，所述测试针头与所述连接件均可滑动于所述针管内，且在所述测试针头与所述连接件之间放置有弹性件，其特征在于；所述测试针头一端扁头形状设计且所述测试针头端面设置有多个结构相同、尺寸相同的倒三角的探针头，且多个所述探针头之间形成有v型槽。2.根据权利要求1所述的一种扁头测试探针，其特征在于，所述针管上环绕设置有四个用于限制所述测试针头弹出去的限位凸起，且四个所述凸起沿所述针管周向均匀分布。3.根据权利要求1所述的一种扁头测试探针，其特征在于，所述v型槽的夹角面与所述测试产品的测试面接触。4.根据权利要求1所述的一种扁头测试探针，其特征在于，所述探针爪的数量为两个。5.根据权利要求1所述的一种扁头测试探针，其特征在于，所述弹性件为压缩弹簧。

技术总结
本申请涉及测试领域，更具体地说，它涉及一种扁头测试探针，包括贯通的针管、与所述针管一端限位抵接的测试针头以及套设于所述针管另一端并用于与测试线进行焊接的连接件，所述测试针头与所述连接件均可滑动于所述针管内，且在所述测试针头与所述连接件之间放置有弹性件；所述测试针头一端扁头形状设计且所述测试针头端面设置有多个结构相同、尺寸相同的倒三角的探针头，且多个所述探针头之间形成有V型槽。本申请具有能适应结构复杂的检测产品及结构简单的优点。及结构简单的优点。及结构简单的优点。


技术研发人员：涂炳超
受保护的技术使用者：东莞市台易电子科技有限公司
技术研发日：2022.11.07
技术公布日：2023/3/13