一种PCB铜厚检测装置的制作方法

文档序号:34696233发布日期:2023-07-06 10:04阅读:60来源:国知局
一种PCB铜厚检测装置的制作方法

本技术涉及铜厚检测,尤其涉及一种pcb铜厚检测装置。


背景技术:

1、pcb结构复杂,生产工序繁多,不可避免地存在各种缺陷,对pcb进行及时检测则可以避免废品产生,进而针对pcb表面覆铜厚度进行检测,可以判定覆铜表面是否具有短路、断路、缺损、毛刺等缺陷,目前对于pcb表面覆铜厚度的检测一般采用人工手持低倍显微镜,找到待检测区域,再切换高倍物镜,进行手动选点测量,这种检测方式效率低,手动选点会带来一定的测量误差。


技术实现思路

1、鉴于以上,本发明提供一种pcb铜厚检测装置,通过结构优化具有全自动测量功能,可以测量切片pcb厚度大小,测量精度在1μm内,可进一步提高pcb铜厚检测的精度和效率,从而更快速的检测出pcb板存在的缺陷,以便及时修正缺陷,避免废品,降低损耗。具体的技术方案如下:

2、一种pcb铜厚检测装置,其特征在于:包括基座;移动载台,其包括x轴移动组件、y轴移动组件和工作平台,工作平台通过x轴移动组件、y轴移动组件活动的设置在基座上;照明模组,通过z轴升降组件活动的设置在基座上,照明模组上方固定三目观察模组,下方固定物镜模组;三目观察模组,其包括目镜、相机和连接镜筒,连接镜筒固定在照明模组的上方,目镜设置在连接镜筒的一侧,相机设置在连接镜筒的上方;物镜模组,其包括转换器和若干物镜,转换器连接在照明模组的下方,可转动切换物镜;控制器,包括电脑主机及电路控制板,用于控制工作平台运动及物镜升降,分析处理图像数据。

3、进一步,所述照明模组中沿光路包括光源、聚光镜组、光阑、聚光镜片、视场光阑、第一辅助透镜组和半透半返镜。

4、进一步,所述相机、半透半返镜和物镜的光学中心线重合。

5、进一步,所述连接镜筒内包括第二辅助透镜、分光棱镜和成像透镜。

6、进一步,所述工作平台中间开设有载物窗口,用于放置固定待测样品。

7、进一步,所述x轴移动组件、y轴移动组件和z轴升降组件上均设置有光栅尺,用于准确反馈位置信息。

8、本实用新型的pcb铜厚检测装置自带多种倍率的物镜,可直接通过转动转换器快速实现低倍到高倍物镜的切换,且不用重新定位样品的待检测区域,从而检测准确性更高,同时待检测样品放在检测的工作平台上方,可自动驱动工作平台平移从而进行全方位的定位检测,排除人工手移带来的负面影响和测量误差,另外测量出的样品图像直接由相机采集,控制器自动对图像进行数据分析处理,可直接得到测量结构报告,整体检测效果得到有效的改善。

9、本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中进一步给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。



技术特征:

1.一种pcb铜厚检测装置,其特征在于:包括

2.根据权利要求1所述的pcb铜厚检测装置,其特征在于,所述照明模组中沿光路包括光源、聚光镜组、光阑、聚光镜片、视场光阑、第一辅助透镜组和半透半返镜。

3.根据权利要求2所述的pcb铜厚检测装置,其特征在于,所述相机、半透半返镜和物镜的光学中心线重合。

4.根据权利要求1所述的pcb铜厚检测装置,其特征在于,所述连接镜筒内包括第二辅助透镜、分光棱镜和成像透镜。

5.根据权利要求1所述的pcb铜厚检测装置,其特征在于,所述工作平台中间开设有载物窗口。

6.根据权利要求1所述的pcb铜厚检测装置,其特征在于,所述x轴移动组件、y轴移动组件和z轴升降组件上均设置有光栅尺。


技术总结
本技术提供一种PCB铜厚检测装置,包括基座;移动载台,包括X轴移动组件、Y轴移动组件和工作平台,工作平台通过X轴移动组件、Y轴移动组件活动的设置在基座上;照明模组,通过Z轴升降组件活动的设置在基座上,照明模组上方固定三目观察模组,下方固定物镜模组;三目观察模组,包括目镜、相机和连接镜筒,连接镜筒固定在照明模组的上方,目镜设置在连接镜筒的一侧,相机设置在连接镜筒的上方;物镜模组,包括转换器和若干物镜,转换器连接在照明模组的下方,可转动切换物镜;控制器。该装置通过结构优化具有自动测量功能,可以测量切片PCB厚度大小,提高PCB铜厚检测的精度和效率,从而更快速的检测出PCB板存在的缺陷。

技术研发人员:刘柱
受保护的技术使用者:苏州精创光学仪器有限公司
技术研发日:20221109
技术公布日:2024/1/13
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