一种便于取下的芯片检测装置的制作方法

本技术属于芯片检测，具体涉及一种便于取下的芯片检测装置。

背景技术：

1、随着科技的发展，收集、平板电脑等已经变成生活中的必需品，组成这些电子元器件的最重要的零件之一就是芯片，芯片在生产完成后并不能马上投入使用，需要经过严格的检测，经检测合格的芯片才能被投入市场。

2、现有的芯片检测装置在实际使用中，发现至少存在如下问题：现有的大多数检测设备上会开设有一个与芯片相适配的限位槽，用于对芯片位置的限定，但由于芯片比较小且比较薄，在检测后芯片不好扣取，需要反复操作，且扣取时用力过大容易造成芯片的损坏，影响检测的效率和质量；上述问题严重阻碍芯片检测装置的大规模推广。

技术实现思路

1、实用新型目的：提供一种便于取下的芯片检测装置，解决了现有技术存在的上述问题。

2、技术方案：一种便于取下的芯片检测装置，包括本体，所述本体包括外壳，所述外壳内设有复位机构和检测机构，所述复位机构用来放置和取下芯片，所述检测机构用来检测所述芯片，所述复位机构滑动连接有移动机构，所述检测机构设置在所述移动机构内，所述移动机构固定连接有伸缩机构，所述伸缩机构用来驱动所述移动机构。

3、在进一步实施例中，所述外壳上开设有复位腔，所述复位机构设置在所述复位腔内，所述复位机构包括与所述复位腔滑动连接的放置板，所述放置板用来放置所述芯片，对称设置在所述放置板底面的竖杆，两个所述竖杆之间设有与所述放置板固定连接的阻尼器和弹簧，所述阻尼器和弹簧的自由端与所述复位腔底面固定连接，两个所述竖杆远离弹簧的一侧固定连接有传力杆。

4、在进一步实施例中，所述外壳内壁上对称开设有滑动槽，所述移动机构包括与所述滑动槽滑动连接的移动板，所述移动板底面对称设有移动杆，所述移动杆自由端设有移动块。

5、在进一步实施例中，所述传力杆与所述复位腔内壁滑动连接，所述移动杆插设在所述外壳上且延伸到所述复位腔内，所述移动块设置在所述复位腔内且用于推动所述传力杆。

6、在进一步实施例中，所述检测机构包括与所述放置板固定连接的检测外壳，设置在所述检测外壳底面的检测滑槽，设置在所述检测外壳内的电机，与所述电机输出端固定连接的主动轴，套设在所述主动轴上的主动轮，对称设置在所述主动轮两侧的从动轮，所述主动轮与所述从动轮啮合连接，插设在所述从动轮上的从动轴，与所述从动轴端部固定连接的丝杆，所述丝杆设置在所述检测滑槽内，与所述丝杆螺纹连接的套筒，所述主动轴和所述从动轴均通过轴承与所述检测外壳转动连接。

7、在进一步实施例中，两个所述套筒固定连接有检测器，所述检测器与所述检测滑槽滑动连接，所述检测器用来检测所述芯片，所述检测器底面设有用于与所述芯片连接的检测探针。

8、在进一步实施例中，所述伸缩机构包括设置在所述外壳顶端的固定架，设置在所述固定架内的气缸，与所述气缸连接的伸缩杆，所述伸缩杆自由端固定连接有移动板。

9、有益效果：

10、1、将芯片放置在复位机构上，然后启动伸缩机构，伸缩机构带动移动机构往下运动，移动机构往下运动过程中带动检测机构往下运动，到达适当位置时，关闭伸缩机构，启动检测机构对芯片进行检测，检测完毕后，启动伸缩机构带动移动机构复位，而后复位机构带动芯片回复到初始位置，方便工作人员将芯片取下。

11、2、移动板往下运动过程中带动插设在外壳上的移动杆往下运动，移动杆在复位腔内移动过程中带动移动块移动，当移动块与传力杆接触后，带动传力杆沿着复位腔内壁往下移动，传力杆带动竖杆往下移动，竖杆带动放置板在复位腔内部往下移动，放置板带动阻尼器和弹簧收缩，当传力杆到达最低点后，关闭气缸，此时检测机构、外壳和放置板共同形成一个放置有芯片的腔体，此时启动检测机构对芯片进行检测；待检测完毕后，打开气缸，气缸复位过程中带动移动板、移动杆和移动块复位，在失去移动块压力后，在弹簧和阻尼器作用下，放置板复位带动芯片往上运动，当到达最高点时，方便操作人员将芯片取下，减少了工作量和节约了时间。

技术特征：

1.一种便于取下的芯片检测装置，包括本体，其特征在于：所述本体包括外壳(1)，所述外壳(1)内设有复位机构(3)和检测机构(5)，所述复位机构(3)用来放置和取下芯片(7)，所述检测机构(5)用来检测所述芯片(7)，所述复位机构(3)滑动连接有移动机构(2)，所述检测机构(5)设置在所述移动机构(2)内，所述移动机构(2)固定连接有伸缩机构(4)，所述伸缩机构(4)用来驱动所述移动机构(2)。

2.根据权利要求1所述的一种便于取下的芯片检测装置，其特征在于：所述外壳(1)上开设有复位腔(11)，所述复位机构(3)设置在所述复位腔(11)内，所述复位机构(3)包括与所述复位腔(11)滑动连接的放置板(31)，所述放置板(31)用来放置所述芯片(7)，对称设置在所述放置板(31)底面的竖杆(32)，两个所述竖杆(32)之间设有与所述放置板(31)固定连接的阻尼器(35)和弹簧(34)，所述阻尼器(35)和弹簧(34)的自由端与所述复位腔(11)底面固定连接，两个所述竖杆(32)远离弹簧(34)的一侧固定连接有传力杆(33)。

3.根据权利要求2所述的一种便于取下的芯片检测装置，其特征在于：所述外壳(1)内壁上对称开设有滑动槽(12)，所述移动机构(2)包括与所述滑动槽(12)滑动连接的移动板(21)，所述移动板(21)底面对称设有移动杆(22)，所述移动杆(22)自由端设有移动块(23)。

4.根据权利要求3所述的一种便于取下的芯片检测装置，其特征在于：所述传力杆(33)与所述复位腔(11)内壁滑动连接，所述移动杆(22)插设在所述外壳(1)上且延伸到所述复位腔(11)内，所述移动块(23)设置在所述复位腔(11)内且用于推动所述传力杆(33)。

5.根据权利要求2所述的一种便于取下的芯片检测装置，其特征在于：所述检测机构(5)包括与所述放置板(31)固定连接的检测外壳(51)，设置在所述检测外壳(51)底面的检测滑槽(52)，设置在所述检测外壳(51)内的电机(53)，与所述电机(53)输出端固定连接的主动轴(54)，套设在所述主动轴(54)上的主动轮(55)，对称设置在所述主动轮(55)两侧的从动轮(56)，所述主动轮(55)与所述从动轮(56)啮合连接，插设在所述从动轮(56)上的从动轴(57)，与所述从动轴(57)端部固定连接的丝杆(58)，所述丝杆(58)设置在所述检测滑槽(52)内，与所述丝杆(58)螺纹连接的套筒(59)，所述主动轴(54)和所述从动轴(57)均通过轴承与所述检测外壳(51)转动连接。

6.根据权利要求5所述的一种便于取下的芯片检测装置，其特征在于：两个所述套筒(59)固定连接有检测器(6)，所述检测器(6)与所述检测滑槽(52)滑动连接，所述检测器(6)用来检测所述芯片(7)，所述检测器(6)底面设有用于与所述芯片(7)连接的检测探针(61)。

7.根据权利要求3所述的一种便于取下的芯片检测装置，其特征在于：所述伸缩机构(4)包括设置在所述外壳(1)顶端的固定架(41)，设置在所述固定架(41)内的气缸(42)，与所述气缸(42)连接的伸缩杆(43)，所述伸缩杆(43)自由端固定连接有移动板(21)。

技术总结
本技术公开了一种便于取下的芯片检测装置，本技术属于芯片检测技术领域，包括本体，所述本体包括外壳，所述外壳内设有复位机构和检测机构，所述复位机构用来放置和取下芯片，所述检测机构用来检测所述芯片，所述复位机构滑动连接有移动机构，所述检测机构设置在所述移动机构内，所述移动机构固定连接有伸缩机构，所述伸缩机构用来驱动所述移动机构，将芯片放置在复位机构上，然后启动伸缩机构，伸缩机构带动移动机构往下运动，移动机构带动检测机构往下运动，到达适当位置时，关闭伸缩机构，启动检测机构对芯片进行检测，检测完毕后，启动伸缩机构带动移动机构复位，而后复位机构带动芯片回复到初始位置，方便工作人员将芯片取下。

技术研发人员：张其峰
受保护的技术使用者：无锡智远芯半导体设备技术有限公司
技术研发日：20221118
技术公布日：2024/1/12