一种IQC电子物料综合智能检验装置的制作方法

本技术涉及电子元件检测，尤其涉及一种iqc电子物料综合智能检验装置。

背景技术：

1、电子元件，是电子电路中的基本元素，现有的电子元件在进行生产加工时，其成品多需要进行运输，以方便转移电子元件，从而再来进行电子元件的包装加工，而由于电子元件存在着不合格品，如次品充斥在成品中，则导致产品的合格率大大下降，影响生产厂商的口碑，同时次品流入市场后，当其进行安装使用时，也存在着极大的安全隐患，十分的危险，故需要对电子元件进行检测。

2、现有技术中检测不同电子元件需要使用不同的检测设备，但由于操作台面位置有限，无法同时放置多组不同电子元件的检测设备，每组不同电子元件的检测设备均需要额外的操作台面进行放置，会占据较多的空间，同时在检验一种电子元件时，其它电子元件检测设备处于不被使用的状态，白白浪费空间。

3、针对上述问题，本实用新型文件提出了一种iqc电子物料综合智能检验装置。

技术实现思路

1、本实用新型提供了一种iqc电子物料综合智能检验装置，解决了现有技术中存在操作台面位置有限，无法同时放置多组不同电子元件的检测设备，每组不同电子元件的检测设备均需要额外的操作台面进行放置，会占据较多的空间的缺点。

2、本实用新型提供了如下技术方案：

3、一种iqc电子物料综合智能检验装置，包括机体；电子元件检测组件，电子元件检测组件包括led检测部、晶振检测部、数码管检测部和蜂鸣器检测部；四边转筒，所述机体内开设有第一凹槽，所述四边转筒设于第一凹槽内用以放置电子元件检测组件，所述led检测部、晶振检测部、数码管检测部和蜂鸣器检测部分别设于四边转筒的四端；触屏电脑，触屏电脑固定连接于机体的顶端，触屏电脑内设有用以进行运算的cpu；转动机构，转动机构设于四边转筒的一侧用以调节四边转筒朝上的端面；升降机构，升降机构设于四边转筒的两侧用以带动四边转筒上升至机体的台面。

4、在一种可能的设计中，所述升降机构包括开设于机体内和第一凹槽相连通的两个滑槽，两个所述滑槽内分别滑动连接有第一滑块和第二滑块，所述四边转筒设于第一滑块和第二滑块之间，两个所述滑槽内均固定连接有电动推杆，所述第一滑块和第二滑块分别与两个电动推杆的输出端相固定。

5、在一种可能的设计中，所述转动机构包括开设于第一滑块内的第二凹槽，所述第二凹槽内转动连接有转轴，所述转轴的圆周表面固定连接有蜗轮，所述第二凹槽内转动连接有蜗杆，所述蜗杆和蜗轮相啮合，所述第一滑块的侧端固定连接有驱动电机，所述驱动电机通过联轴器和蜗杆相连接，所述转轴向外活动贯穿至第一凹槽内，所述四边转筒固定连接于转轴的侧端，所述四边转筒转动连接于第二滑块的侧端。

6、在一种可能的设计中，所述转轴的另一端向外活动贯穿第一滑块的另一端并向外延伸，所述转轴的侧端固定连接有四边展示块，所述四边展示块的四端分别刻有文字表示，所述四边展示块四端的文字表示与四边转筒四端的检测部相匹配。

7、在一种可能的设计中，所述机体底端的四角处均固定连接有万向轮。

8、在一种可能的设计中，所述机体的顶端固定连接有l型架，所述l型架内固定连接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的输出端固定连接有重力感应器，所述机体的顶端固定连接有按键放置台。

9、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本实用新型。

10、本实用新型中，需要更换检测部时，通过启动两个电动推杆带动第一滑块和第二滑块下降，第一滑块和第二滑块下降带动四边转筒下降进入第一凹槽内，通过启动驱动电机带动蜗杆进行转动，蜗杆转动带动蜗轮进行转动，蜗轮转动带动转轴进行转动，转轴转动到需要的检测部朝上时停止转动，通过两个电动推杆带动第一滑块和第二滑块上升，将所需的检测部送至台面处，方便进行使用；

11、本实用新型中，本技术方案中将电子元件检测部分别设于四边转筒的四面，在需要更换电子元件检测部时，通过升降机构将四边转筒缩回至第一凹槽内，再通过转动机构调整四边转筒的朝向，使得将需要进行使用的电子元件检测部朝上后，再通过升降机构带动四边转筒向上运动，将需要进行使用的电子元件检测部上升至台面上，本装置将多组电子元件检测部设于机体内，并通过转动机构和升降机构的配合在机体内完成电子元件检测部的更换，使其缩减占地面积，节约空间。

技术特征：

1.一种iqc电子物料综合智能检验装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种iqc电子物料综合智能检验装置，其特征在于，所述升降机构包括开设于机体(1)内和第一凹槽(4)相连通的两个滑槽(5)，两个所述滑槽(5)内分别滑动连接有第一滑块(7)和第二滑块(701)，所述四边转筒(8)设于第一滑块(7)和第二滑块(701)之间，两个所述滑槽(5)内均固定连接有电动推杆(6)，所述第一滑块(7)和第二滑块(701)分别与两个电动推杆(6)的输出端相固定。

3.根据权利要求2所述的一种iqc电子物料综合智能检验装置，其特征在于，所述转动机构包括开设于第一滑块(7)内的第二凹槽(15)，所述第二凹槽(15)内转动连接有转轴(18)，所述转轴(18)的圆周表面固定连接有蜗轮(17)，所述第二凹槽(15)内转动连接有蜗杆(16)，所述蜗杆(16)和蜗轮(17)相啮合，所述第一滑块(7)的侧端固定连接有驱动电机(10)，所述驱动电机(10)通过联轴器和蜗杆(16)相连接，所述转轴(18)向外活动贯穿至第一凹槽(4)内，所述四边转筒(8)固定连接于转轴(18)的侧端，所述四边转筒(8)转动连接于第二滑块(701)的侧端。

4.根据权利要求3所述的一种iqc电子物料综合智能检验装置，其特征在于，所述转轴(18)的另一端向外活动贯穿第一滑块(7)的另一端并向外延伸，所述转轴(18)的侧端固定连接有四边展示块(9)，所述四边展示块(9)的四端分别刻有文字表示，所述四边展示块(9)四端的文字表示与四边转筒(8)四端的检测部相匹配。

5.根据权利要求1-3任意一项所述的一种iqc电子物料综合智能检验装置，其特征在于，所述机体(1)底端的四角处均固定连接有万向轮(3)。

6.根据权利要求1-3任意一项所述的一种iqc电子物料综合智能检验装置，其特征在于，所述机体(1)的顶端固定连接有l型架(11)，所述l型架(11)内固定连接有电动伸缩杆(12)，所述电动伸缩杆(12)的输出端固定连接有重力感应器(13)，所述机体(1)的顶端固定连接有按键放置台(14)。

技术总结
本技术属于电子元件检测技术领域，尤其是一种IQC电子物料综合智能检验装置，针对现有的操作台面位置有限，无法同时放置多组不同电子元件的检测设备，每组不同电子元件的检测设备均需要额外的操作台面进行放置，会占据较多的空间的问题，现提出如下方案，其包括机体；电子元件检测组件，电子元件检测组件包括LED检测部、晶振检测部、数码管检测部和蜂鸣器检测部；四边转筒，机体内开设有第一凹槽，四边转筒设于第一凹槽内用以放置电子元件检测组件，LED检测部、晶振检测部、数码管检测部和蜂鸣器检测部分别设于四边转筒的四端；缩减占地面积，节约空间。

技术研发人员：贾顺飞,陈飞
受保护的技术使用者：广州市诺的电子有限公司
技术研发日：20221121
技术公布日：2024/1/11