测试模组的制作方法

本技术涉及测试治具，特别涉及一种测试模组。

背景技术：

1、连接器主要应用于电子产品中不同工作电路模块之间的导电连接，随着电子产品朝向轻薄短小的方向高速发展，连接器也朝着小pitch、多pin数、低高度、高频率应用的方向发展。为保证连接器的使用性能，连接器常通过测试模组的测试弹片与转接电路板上的检测电路连通，以此实现对连接器的电气性能检测。

2、目前连接器的测试装置多采用常规测试，即两个测试点之间设置一根测试针，测试针两头分别连接至被测及转接板的两端。但是，电路中存在线材的电阻和探针接触电阻，接触电阻可能会在几十毫欧到几百毫欧级别，线材的电阻不确定，跟线长及线的粗细有关系，大概也在毫欧及欧姆级别。当测量的电阻很小，只有几欧姆，甚至毫欧级别时，常规测试是无法得到精确的测量结果的。因此，采用常规测试的测试装置已经逐渐无法满足连接器的测试要求。

技术实现思路

1、本实用新型的主要目的是提供一种测试模组，旨在提高测试模组的测试精度。

2、为实现上述目的，本实用新型提出的一种测试模组，包括：

3、底座，所述底座的顶面开设有若干贯通至底面的安装通道，若干所述安装通道分为两组，每组安装通道中的多个所述安装通道沿所述底座长度方向依次间隔设置，两组安装通道沿所述底座的宽度方向并排设置；

4、若干测试弹片，每一所述测试弹片穿设于一所述安装通道内，以相互隔离，所述测试弹片的一端凸出所述底座的顶面设置，用于与待测产品的测试点连接，另一端凸出所述底座的底面设置，用于与转接电路板的测试点连接；

5、其中，所述测试弹片包括两相对设置的弹片单元，两所述弹片单元之间还设有隔离结构，以使两所述弹片单元相互绝缘设置。

6、可选地，所述弹片单元包括：

7、连接部，所述连接部穿设于所述安装通道内，所述连接部的两端分别伸出所述底座设置，每一所述连接部与另一相邻所述连接部之间设有隔离结构；

8、第一导电部，所述第一导电部设于所述连接部凸出所述底座的顶面的一端，用于连通待测产品的测试点；以及

9、第二导电部，所述第二导电部设于所述连接部凸出所述底座的底面的一端，用于连通所述转接电路板。

10、可选地，所述隔离结构为绝缘材料层，所述绝缘材料层覆盖在所述连接部的面向另一所述连接部的表面上。

11、可选地，沿所述底座长度方向相邻的两所述安装通道的底部侧壁相互连通，以形成避让槽。

12、可选地，所述测试模组还包括浮动连接组件，所述浮动连接组件设于所述底座的上方，所述浮动连接组件开设有若干弹片插槽，若干所述弹片插槽分为两组，每组弹片插槽中的多个所述弹片插槽沿所述浮动连接组件的长度方向依次间隔设置，两组所述弹片插槽沿所述浮动连接组件的宽度方向并排设置；

13、每一所述弹片插槽与一所述安装通道对应设置，每一所述测试弹片依次穿设于所述一所述安装通道和一所述弹片插槽内。

14、可选地，所述底座朝向所述浮动连接组件的一侧于所述底座的两端凸设有两限位结构，两所述限位结构相对设置，以形成限位空间，所述浮动连接组件至少部分设于所述限位空间内。

15、可选地，所述限位结构的顶部开设有导向槽，所述浮动连接组件的两端分别设有一导向块，每一所述导向块可活动地穿设于一所述导向槽内；

16、和/或，所述限位结构朝向所述浮动连接组件的一侧开设有限位孔，所述限位孔沿所述测试模组的高度方向延伸设置，所述浮动连接组件朝向所述限位结构的一侧凸设有限位块，所述限位块可活动地穿设于所述限位孔内。

17、可选地，所述底座朝向所述浮动连接组件的一侧开设有第一导向孔，所述浮动连接组件朝向所述底座的一侧开设有第二导向孔，所述第一导向孔和所述第二导向孔相对设置；

18、所述浮动连接组件与所述底座之间设有弹性件，所述弹性件沿所述测试模组的高度方向延伸设置，所述弹性件的一端限位于所述第一导向孔内，所述弹性件的另一端限位于所述第二导向孔内。

19、可选地，所述浮动连接组件包括浮动板和设于所述浮动板背离所述底座一侧的btb限位板，所述浮动板开设有所述弹片插槽，所述btb限位板开设有安装通槽，所述安装通槽沿所述限位框的长度方向延伸设置，用于避让多个所述弹片插槽。

20、可选地，所述浮动板一体注塑成型；

21、和/或，所述底座一体注塑成型。

22、本实用新型的技术方案，测试模组的测试弹片用于导通待测产品和转接电路板，其中，每一测试弹片对应一待测产品的测试点设置，且每一测试弹片包括两相对设置且彼此独立的弹片单元；如此设置，便可以通过使两弹片单元同时接触导通一待测产品的测试点，使每个测试点同时接通一条激励线和一条检测线，且两条线路各自构成独立回路，实现通过开尔文测试法检测待测产品。开尔文测试法能够采用单独的载电流和电压检测，能够相比传统的两个终端传感能够进行更精确的测量，其关键优点是分离的电流施加单元和电压测量单元，消除了布线和接触电阻的阻抗，从而可以提高测试模组的测量精度。其中，两弹片单元之间相互绝缘设置，可以避免两个相邻的弹片单元相互贴合接触导通造成短路的情况，保障测试模组实现开尔文测试，提高测试模组的可靠稳定性。

技术特征：

1.一种测试模组，用于导通待测产品和转接电路板，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的测试模组，其特征在于，所述弹片单元包括：

3.如权利要求2所述的测试模组，其特征在于，所述隔离结构为绝缘材料层，所述绝缘材料层覆盖在所述连接部的面向另一所述连接部的表面上。

4.如权利要求1所述的测试模组，其特征在于，沿所述底座长度方向相邻的两所述安装通道的底部侧壁相互连通，以形成避让槽。

5.如权利要求1所述的测试模组，其特征在于，所述测试模组还包括浮动连接组件，所述浮动连接组件设于所述底座的上方，所述浮动连接组件开设有若干弹片插槽，若干所述弹片插槽分为两组，每组弹片插槽中的多个所述弹片插槽沿所述浮动连接组件的长度方向依次间隔设置，两组所述弹片插槽沿所述浮动连接组件的宽度方向并排设置；

6.如权利要求5所述的测试模组，其特征在于，所述底座朝向所述浮动连接组件的一侧于所述底座的两端凸设有两限位结构，两所述限位结构相对设置，以形成限位空间，所述浮动连接组件至少部分设于所述限位空间内。

7.如权利要求6所述的测试模组，其特征在于，所述限位结构的顶部开设有导向槽，所述浮动连接组件的两端分别设有一导向块，每一所述导向块可活动地穿设于一所述导向槽内；

8.如权利要求5所述的测试模组，其特征在于，所述底座朝向所述浮动连接组件的一侧开设有第一导向孔，所述浮动连接组件朝向所述底座的一侧开设有第二导向孔，所述第一导向孔和所述第二导向孔相对设置；

9.如权利要求5所述的测试模组，其特征在于，所述浮动连接组件包括浮动板和设于所述浮动板背离所述底座一侧的btb限位板，所述浮动板开设有所述弹片插槽，所述btb限位板开设有安装通槽，所述安装通槽沿所述限位框的长度方向延伸设置，用于避让多个所述弹片插槽。

10.如权利要求9所述的测试模组，其特征在于，所述浮动板一体注塑成型；

技术总结
本技术提出一种测试模组，用于导通待测产品和转接电路板，测试模组包括底座和若干测试弹片，底座的顶面开设有若干贯通至底面的安装通道，若干安装通道分为两组，每组安装通道中的多个安装通道沿底座长度方向依次间隔设置，两组安装通道沿底座的宽度方向并排设置，每一测试弹片穿设于一安装通道内，以相互隔离，测试弹片的一端凸出底座的顶面设置，用于与待测产品的测试点连接，另一端凸出底座的底面设置，用于与转接电路板的测试点连接；其中，测试弹片包括两相对设置的弹片单元，两弹片单元之间还设有隔离结构，以使两弹片单元相互绝缘设置。本申请的技术方案，能够提高测试模组的测试精度。

技术研发人员：陶洋,陶柳
受保护的技术使用者：苏州恩斯贝电子科技有限公司
技术研发日：20221213
技术公布日：2024/1/13