一种涂覆层测厚仪探头的制作方法

文档序号:33806059发布日期:2023-04-19 12:29阅读:60来源:国知局
一种涂覆层测厚仪探头的制作方法

本技术涉及涂覆层测厚仪,具体为一种涂覆层测厚仪探头。


背景技术:

1、涂覆层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。涂覆层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。涂覆层测厚仪通过探头检测,将检测的数据反馈给显示屏显示。

2、现有的涂覆层测厚仪探头大都直接裸露在外部,外部并未设置防尘结构,当探头所处的环境较差空气中含有大量的灰尘粉尘时,灰尘粉尘容易附着在探头的表面上,在检测时,容易影响检测的结果,为此,我们提出一种涂覆层测厚仪探头。


技术实现思路

1、本部分的目的在于概述本实用新型的实施方式的一些方面以及简要介绍一些较佳实施方式。在本部分以及本申请的说明书摘要和实用新型名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和实用新型名称的目的模糊,而这种简化或省略不能用于限制本实用新型的范围。

2、鉴于上述和/或现有涂覆层测厚仪探头中存在的问题,提出了本实用新型。

3、因此,本实用新型的目的是提供一种涂覆层测厚仪探头,对探头进行防尘保护,防止空气中的灰尘粉尘附着在探头表面影响检测结果。

4、为解决上述技术问题,根据本实用新型的一个方面,本实用新型提供了如下技术方案:

5、一种涂覆层测厚仪探头,其包括:

6、探头组件,包括探头外壳和连接在所述探头外壳上端的连接线,所述连接线另一端部与涂覆层测厚仪连接;

7、防尘组件,包括安装在所述探头外壳外部的圆环板、垂直固定在所述圆环板下端的卡柱、设置在所述圆环板下端的防尘罩和开设在所述防尘罩上端的卡槽,所述卡柱与卡槽相卡接,所述防尘罩位于探头外壳的外部下端;

8、作为本实用新型所述的一种涂覆层测厚仪探头的一种优选方案,其中,所述探头外壳的外部设置有外螺纹,所述圆环板的内部设置有内螺纹,所述外螺纹与内螺纹螺纹连接。

9、作为本实用新型所述的一种涂覆层测厚仪探头的一种优选方案,其中,所述圆环板的外部均匀固定有第一防滑凸起,所述防尘罩的外部均匀固定有第二防滑凸起。

10、作为本实用新型所述的一种涂覆层测厚仪探头的一种优选方案,其中,所述卡柱设置有三个,所述卡槽设置有三个。

11、作为本实用新型所述的一种涂覆层测厚仪探头的一种优选方案,其中,所述卡柱的下端中部固定有第一磁铁,所述卡槽的内部底部固定有第二磁铁,所述第一磁铁与第二磁铁为异性磁铁。

12、作为本实用新型所述的一种涂覆层测厚仪探头的一种优选方案,其中,所述圆环板和防尘罩均为塑料材质。

13、与现有技术相比,本实用新型具有的有益效果是:该种涂覆层测厚仪探头,通过卡接在圆环板下端位于探头外部的防尘罩将探头保护在内部,防止空气中的灰尘粉尘附着在探头表面影响检测结果,从而对探头进行防尘保护。



技术特征:

1.一种涂覆层测厚仪探头,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种涂覆层测厚仪探头,其特征在于,所述探头外壳(110)的外部设置有外螺纹(111),所述圆环板(210)的内部设置有内螺纹(211),所述外螺纹(111)与内螺纹(211)螺纹连接。

3.根据权利要求2所述的一种涂覆层测厚仪探头,其特征在于,所述圆环板(210)的外部均匀固定有第一防滑凸起(212),所述防尘罩(230)的外部均匀固定有第二防滑凸起(231)。

4.根据权利要求3所述的一种涂覆层测厚仪探头,其特征在于,所述卡柱(220)设置有三个,所述卡槽(240)设置有三个。

5.根据权利要求4所述的一种涂覆层测厚仪探头,其特征在于,所述卡柱(220)的下端中部固定有第一磁铁(221),所述卡槽(240)的内部底部固定有第二磁铁(241),所述第一磁铁(221)与第二磁铁(241)为异性磁铁。

6.根据权利要求5所述的一种涂覆层测厚仪探头,其特征在于,所述圆环板(210)和防尘罩(230)均为塑料材质。


技术总结
本技术公开了一种涂覆层测厚仪探头,包括探头组件和防尘组件,探头组件包括探头外壳和连接在探头外壳上端的连接线,连接线另一端部与涂覆层测厚仪连接,防尘组件包括安装在探头外壳外部的圆环板、垂直固定在圆环板下端的卡柱、设置在圆环板下端的防尘罩和开设在防尘罩上端的卡槽,卡柱与卡槽相卡接,防尘罩位于探头外壳的外部下端。该种涂覆层测厚仪探头,通过卡接在圆环板下端位于探头外部的防尘罩将探头保护在内部,防止空气中的灰尘粉尘附着在探头表面影响检测结果,从而对探头进行防尘保护。

技术研发人员:高海波
受保护的技术使用者:天津华威技术服务有限公司
技术研发日:20221206
技术公布日:2024/1/12
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